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Volumn 72, Issue 24, 1998, Pages 3148-3150

Topography measurements of the critical thickness of ZnSe grown on GaAs

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EID: 0009102957     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121575     Document Type: Article
Times cited : (13)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.