A Scanning Tunneling Microscopy Study of Electrostatic and Proximity Effects in Tip-Assisted Migration and Desorption of a DNA Base Molecule on SrTiO3

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 103, Issue 29, 1999, Pages 6103-6110

  Akiyama, Ryota ^a   Matsumoto, Takuya ^a   Kawai, Tomoji ^a  

^a OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0007860821     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp984519h     Document Type: Article

References (35)

1. Jung, T. A.; et al. Science 1996, 271, 181.
2. Gimzewski, J. K.; Modesti, S.; David, T.; Schlittler, R. R. J. Vac. Sci. Technol. 1994, B12, 1942.
3. Tanaka, H.; Kawai, T. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 15, 602.
4. Forbes, R. G. Appl. Surf. Sci. 1995, 87/88, 1.
5. Gomer, R.; Swanson, L. W. J. Chem. Phys. 1963, 38, 1613.
6. Lyo, I. W.; Avouris, P. Science 1991, 253, 173.
7. Hosoki, S.; Hosaka, S.; Hasegawa, T. Appl. Surf. Sci. 1992, 60/61, 643.
8. Tsong, T. T. Phys. Rev. B 1991, 44, 13703.
9. Eigler, D. M.; Lutz, C. P.; Rudge, W. E. Nature 1991, 352, 600.
10. Tsong, T. T.; Chang, C. S. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 3309.
11. Akiyama, R.; Matsumoto, T.; Kawai, T. Appl. Phys. A 1998, 66, S719.
12. Akiyama, R.; Matsumoto, T.; Kawai, T. Surf. Sci. Lett. 1998, 418, L73.
13. Stroscio, J. A.; Eigler, D. M. Science 1991, 254, 1319.
14. Nakayama, T.; Aono, M. In Proc. Sci. Technol. Atom. Eng. Mater. 99; Jena, P., Khanna, S. N., Rao, B. K., Eds., World Scientific: Singapore, 1996.
15. Whitman, L. J.; Stroscio, J. A.; Dragoset, R. A.; Celotta, R. J. Science 1991, 251, 1206.
16. Shen, T. C.; et al. Science 1995, 268, 1590.
17. Avouris, Ph.; et al. Surf. Sci. 1996, 363, 368.
18. Tanaka, H.; Nakagawa, T.; Kawai, T. Surf. Sci. 1996, 364, L575.
19. Kasaya, M.; Tabata, H.; Kawai, T. Surf. Sci. 1995, 342, 215.
20. Kasaya, M.; Tabata, H.; Kawai, T. Surf. Sci. 1996, 357/358, 195.
21. Tanaka, H.; Kawai, T. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 1411.
22. Tanaka, H.; Kawai, T. Mater. Sci. Eng. C 1995, 3, 143.
23. Tanaka, H.; Matsumoto, T.; Kawai T.; Kawai, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1993, 32, 1405.
24. Yazdani, A.; Eigler, D. M.; Lang, N. D. Science 1996, 272, 1921.
25. Gimzewski, J. K.; Moller, R. Phys. Rev. B 1987, 36, 1284.
26. Chen, C. J.; Hammers, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 503.
27. Olesen, L.; Brandbyge, M.; Sorensen, M. R.; Jacobsen, K. W.; Lagsgaard, E.; Besenbacher F. Phys. Rev. Lett. 1993, 76, 1485.
28. Olesen, L.; Lagsgaard, E.; Stensgaard, I.; Besenbacher, F. Appl. Phys. A 1998, 60, 5157.
29. Abraham, D. W.; Mamin, H. J.; Ganz, E.; Clarke, J. IBM J. Res. Dev. 1986, 30, 492.
30. Private communication with Y. Aiura of the National Institute of Electrotechnical Laboratory.
31. Akiyama, R.; Matsumoto, T.; Tanaka, H.; Kawai, T. Jpn. J. Appl. Phys. 1997, 36, 3881.
32. Meyer, G.; Rieder, K. H. MRS Bull. 1998, Jan., 28.
33. Spong, J. K.; et al. Nature 1989, 338, 137.
34. Xi, M.; Yang, M. X.; Jo, S. K.; Bent, B. E. J. Chem. Phys. 1994, 101, 9122.
35. Urano, S.; Yang, X.; Lebreton, P. R. J. Mol. Struct. 1989, 214, 315.