XRF analysis of microsamples of semiconductor type multielement materials by the thin layer method. Determination of Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Se, Sb, Yb

Mikrochimica Acta

Volumn 132, Issue 1, 1999, Pages 41-47

  Jurczyk, Jerzy ^a   Sitko, Rafat ^a   Zawisza, Beata ^a   Buhl, Franciszek ^a   Malicka, Ewa ^a  

^a UNIVERSITY OF SILESIA   (Poland)

Author keywords

Microsamples; Mono and polycrystals; Semiconductor; Thin layer method; XRF analysis

Indexed keywords

EID: 0005914455     PISSN: 00263672     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/PL00010072     Document Type: Article

References (38)

1. J. T. McDeviltt, D. R. Riley, S. G. Haupt, Anal. Chem. 1993, 65, 535.
2. B. Mroziewicz, M. Bugajski, Nakwaski N., Ph Semiconductor Las, PWN, Warsaw, 1991.
3. M. G. Vasileva, V. M. Lalukina, L. V. Yermakova, V. A. Obolestnik, N. G. Asatyanin, M. T. Veschitkatschyan, Analiz Poluprovodnikovikh Splavov, Metallurgisdat, 1975.
4. E. Sandel, Colorimetric Determination of Traces of Metals, Interscience, New York, 1959.
5. Analyse der Metalle II/1. Betriebsanalyse. 1. Teil, Springer, Berlin Heidelberg New York, 1961.
6. Kazunobu Kodama, Methods of Quantitative Inorganic Analysis, Interscience, New York, 1963.
7. M. J. Kulkarni, A. A. Argekar, S. K. Thulasidas, A. G. Page, M. D. Sastry, Fresenius J. Anal. Chem. 1992, 342, 367.
8. Z. Jianzhang, J. G. Vasileva, J. I. Gibner, T. Y. Shilkina, Z. J. Boris, Fresenius J. Anal. Chem 1992, 342, 363.
9. K. Doto, Japan Analyst 1968, 981, 17.
10. N. I. Shevtsov, A. B. Blank, Z. M. Nartova, J. J. Mirenskaya, L. P. Eksperiandova, S. J. Sumarokow, Zav. Lab 1990, 56, 10.
11. N. I. Shevtsov, Z. M. Nartova, L. A. Kwiczko, A. B. Blank, Zh. Anal. Khim 1991, 46, 591.
12. J. Jurczyk, F. Buhl, I. Wilczek, Chem Anal. (Warsaw), 1993 38, 519.
13. D. E. Newbury, C. R. Swyt, R. L. Myklebust, Anal. Chem. 1995, 67, 1866.
14. B. A. Treiger, I. I. Bondarenko, L. N. Mazalow, W. W. Rezwickij, Zh. Anal. Khim 1994, 49, 389.
15. E. P. Bertin, Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, London, 1975.
16. E. J. Felten, I. Fankuchen, J. Steigman, Anal. Chem. 1959, 31, 1771.
17. N. F. Losiew, Koliczestwiennyj rengenospektralnyj fluorescentnyj analiz, Nauka, Moskwa, 1969.
18. J. R. Rhodes, Amer Lab. 1973, 5, 57-8, 60, 62, 64, 66-8, 70-3
19. N. W. H. Addink, Rev. Universelle Mines 1959, 15, 530.
20. R. D. Giauqe , F. S. Goulding, J. M. Jaklevic, R. H. Pehl, Anal. Chem. 1973, 45, 671.
21. V. V. Ivanenko, V. N. Kustov, A. Yu. Metelev, K. A. Rakita, Zh. Anal. Khim 1989, 44, 351.
22. H. L. Zheng, M. I. Wu, Fenxi-Shiyanshi, 1994, 13, 74.
23. I. Veverka, L. Maly, A. Vidmar, Chem. Listy 1987, 81, 1089.
24. N. Kulcu, M. Troemel, Fresenius Z. Anal. Chem. 1984, 318, 604.
25. J. Jurczyk, F. Buhl, R. Sitko, M. Fabiś, M. Czaja, Chem Anal. (Warsaw) 1997, 42, 703.
26. J. Jurczyk, R. Sitko, F. Buhl, Chem. Anal. (Warsaw) 1998, 43, 185.
27. J. Jurczyk, R. Sitko, F. Buhl, Chem. Anal (Warsaw) 1999, 44, 167.
28. T. Nedeltcheva, P. Simeonova, V. Lovchinov, Anal. Lab. 1995, 4, 38.
29. K. Watanabe, K. Demura, K. Fueki, Bull Chem. Soc. Jpn. 1994, 67, 1024.
30. E. A. Gautier, R. T. Gettar, R. E. Servant, Anal. Chim. Acta 1993, 283, 350.
31. Y. Z. Zhao, Fenxi-Shiyanshi 1993, 12, 67.
32. I. Okońska-Kozłowska Z. Anorg. Allg. Chem. 1989, 578, 225.
33. I. Okońska-Kozłowska, I. Kopyczok, M. Jung, Z. Anorg, Allg. Chem. 1989, 571, 157.
34. Rontgenfluoreszenzanalyse Anwendung in Betriebslaboratorien, H. Ehrhardt, Eds., Verlag fur Grundstoffindustrie, Leipzig, 1988.
35. R. Plesch, Z. Anal. Chem. 1977, 284, 107.
36. H. J. Lucas-Tooth, C. Pyne, Adv. X-Ray Anal. 1964, 7, 523.
37. W. de Jongh, K., X-Ray Spectrom 1973, 2, 151.
38. P. Hertroys, J. L. de Vries, Counting Strategy, Philips Scientific Reports, 16415/OL, 1967.