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Volumn 185, Issue 2, 2001, Pages 341-348

Annealing Behavior of Layered Semiconductor p-GaSe Single Crystal

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EID: 0005585003     PISSN: 00318965     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-396X(200106)185:2<341::AID-PSSA341>3.0.CO;2-0     Document Type: Article
Times cited : (16)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.