A variable cryogenic temperature near-field scanning optical microscope

Review of Scientific Instruments

Volumn 70, Issue 8, 1999, Pages 3355-3361

  Gray, Matthew H ^a   Hsu, J W P ^a  

^a University of Virginia   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0005278338     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1149919     Document Type: Article

References (26)

1. E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
2. D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).
3. R. D. Grober, T. D. Harris, J. K. Trautman, E. Betzig, W. Wegschneider, L. Pfeiffer, and K. West, Appl. Phys. Lett. 64, 1421 (1994).
4. H. F. Hess, E. Betzig, T. D. Harris, L. N. Pfeiffer, and K. W. West, Science 264, 1740 (1994).
5. P. A. Crowell, D. K. Young, S. Keller, E. L. Hu, and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 72, 927 (1998).
6. J. Levy, V. Nikitin, J. M. Kikkawa, D. D. Awschalom, and N. Samarth, J. Appl. Phys. 79, 6095 (1996).
7. R. D. Grober, T. D. Harris, J. K. Trautman, and E. Betzig, Rev. Sci. Instrum. 65, 626 (1994).
8. H. Ghaemi, C. Gates, and B. Goldberg, Ultramicroscopy 57, 165 (1995).
9. W. Göhde, J. Tittel, Th. Basché, C. Bräuchte, U. C. Fischer, and H. Fuchs, Rev. Sci. Instrum. 68, 2466 (1997).
10. Y. Durand, J. C. Woehl, B. Viellerobe, W. Göhde, and M. Orrit, Rev. Sci. Instrum. 70, 1318 (1999).
11. G. Behme, A. Richter, M. Süptitz, and Ch. Lienau, Rev. Sci. Instrum. 68, 3458 (1997).
12. J. W. P. Hsu, M. Lee, and B. S. Deaver, Rev. Sci. Instrum. 66, 3177 (1995); M. Lee, E. B. McDaniel, and J. W. P. Hsu, ibid. 67, 1468 (1996).
13. J. W. P. Hsu, M. Lee, and B. S. Deaver, Rev. Sci. Instrum. 66, 3177 (1995); M. Lee, E. B. McDaniel, and J. W. P. Hsu, ibid. 67, 1468 (1996).
14. E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992), R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, ibid. 60, 2957 (1992).
15. E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992), R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, ibid. 60, 2957 (1992).
16. F. Froehlich and T. Muster, Appl. Phys. Lett. 65, 2254 (1994); C. C. Wei, P. K. Wei, and W. S. Fann, ibid. 67, 3835 (1995).
17. F. Froehlich and T. Muster, Appl. Phys. Lett. 65, 2254 (1994); C. C. Wei, P. K. Wei, and W. S. Fann, ibid. 67, 3835 (1995).
18. Y. T. Yang, D. Heh, P. K. Wei, W. S. Fann, M. H. Gray, and J. W. P. Hsu, J. Appl. Phys. 81, 1623 (1997).
19. Stavely Sensors Inc. material specifications (1994).
20. Roger Welch, Oxford Inst. (private communication, 1997).
21. E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, M. L. Green, D. Brasen, A. R. Kortan, J. Michel, Y. J. Mii, and B. E. Weir, Appl. Phys. Lett. 59, 811 (1991); Y. H. Xie, E. A. Fitzgerald, P. J. Silverman, A. R. Kortan, and B. E. Weir, Mater. Sci. Eng., B 14, 332 (1992); E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, D. Monroe, P. J. Silverman, J. M. Kuo, A. R. Kortan, F. A. Thiel, and B. E. Weir, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1807 (1992).
22. E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, M. L. Green, D. Brasen, A. R. Kortan, J. Michel, Y. J. Mii, and B. E. Weir, Appl. Phys. Lett. 59, 811 (1991); Y. H. Xie, E. A. Fitzgerald, P. J. Silverman, A. R. Kortan, and B. E. Weir, Mater. Sci. Eng., B 14, 332 (1992); E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, D. Monroe, P. J. Silverman, J. M. Kuo, A. R. Kortan, F. A. Thiel, and B. E. Weir, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1807 (1992).
23. E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, M. L. Green, D. Brasen, A. R. Kortan, J. Michel, Y. J. Mii, and B. E. Weir, Appl. Phys. Lett. 59, 811 (1991); Y. H. Xie, E. A. Fitzgerald, P. J. Silverman, A. R. Kortan, and B. E. Weir, Mater. Sci. Eng., B 14, 332 (1992); E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, D. Monroe, P. J. Silverman, J. M. Kuo, A. R. Kortan, F. A. Thiel, and B. E. Weir, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1807 (1992).
24. J. W. P. Hsu, E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, P. J. Silverman, and M. J. Cardillo, Appl. Phys. Lett. 61, 1293 (1992).
25. J. W. P. Hsu, E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, and P. J. Silverman, Appl. Phys. Lett. 65, 344 (1994); J. Appl. Phys. 79, 7743 (1996).
26. J. W. P. Hsu, E. A. Fitzgerald, Y. H. Xie, and P. J. Silverman, Appl. Phys. Lett. 65, 344 (1994); J. Appl. Phys. 79, 7743 (1996).