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Volumn 77, Issue 18, 1996, Pages 3893-3896

Evidence of momentum conservation at a nonepitaxial metal/semiconductor interface using ballistic electron emission microscopy

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EID: 0001735483     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.77.3893     Document Type: Article
Times cited : (89)

References (20)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.