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Volumn 76, Issue 5, 1996, Pages 807-810

Elastic scattering and the lateral resolution of ballistic electron emission microscopy: Focusing effects on the Au/Si interface

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EID: 0000176482     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.76.807     Document Type: Article
Times cited : (68)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.