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Volumn 60, Issue 4, 1999, Pages R2154-R2156

Maximum metallic conductivity in Si-MOS structures

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EID: 0001680885     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.60.R2154     Document Type: Article
Times cited : (42)

References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.