-
2
-
-
0027887957
-
-
P. M. Asbeck, M.-F. Chang, K.-C. Wang, G. J. Sullivan, and D. T. Cheung, Proc. IEEE 81, 1709 (1993).
-
(1993)
Proc. IEEE
, vol.81
, pp. 1709
-
-
Asbeck, P.M.1
Chang, M.-F.2
Wang, K.-C.3
Sullivan, G.J.4
Cheung, D.T.5
-
3
-
-
0031364713
-
-
K. Runge, P. J. Zampardi, R. L. Pierson, P. B. Thomas, S. M. Beccue, R. Yu, and K. C. Wang. IEEE GaAs IC Symp. Tech. Dig., 1997, p. 211.
-
(1997)
IEEE Gaas IC Symp. Tech. Dig.
, pp. 211
-
-
Runge, K.1
Zampardi, P.J.2
Pierson, R.L.3
Thomas, P.B.4
Beccue, S.M.5
Yu, R.6
Wang, K.C.7
-
4
-
-
0000010653
-
-
J.-E. Mueller, P. Baureis, O. Berger, T. Boettner, N. Bovolon, R. Schultheis, G. Packeiser, and P. Zwicknagl, IEEE J. Solid-State Circuits 33, 1277 (1998).
-
(1998)
IEEE J. Solid-state Circuits
, vol.33
, pp. 1277
-
-
Mueller, J.-E.1
Baureis, P.2
Berger, O.3
Boettner, T.4
Bovolon, N.5
Schultheis, R.6
Packeiser, G.7
Zwicknagl, P.8
-
5
-
-
0031625412
-
-
M. Salib, A. Gupta, A. Ezis, M. Lee, and M. Murphy, IEEE MTT-S Tech. Dig. 1998, p. 581.
-
(1998)
IEEE MTT-S Tech. Dig.
, pp. 581
-
-
Salib, M.1
Gupta, A.2
Ezis, A.3
Lee, M.4
Murphy, M.5
-
7
-
-
0033640368
-
-
N. Y. Li, P. C. Chang, A. G. Baca, X. M. Xie, P. R. Sharps, and H. Q. Hou, Electron. Lett. 36, 81 (2000).
-
(2000)
Electron. Lett.
, vol.36
, pp. 81
-
-
Li, N.Y.1
Chang, P.C.2
Baca, A.G.3
Xie, X.M.4
Sharps, P.R.5
Hou, H.Q.6
-
8
-
-
0000047768
-
-
P. C. Chang, A. G. Baca, N. Y. Li, M. Xie, H. Q. Hou, and E. Armour, Appl. Phys. Lett. 76, 2262 (2000).
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.76
, pp. 2262
-
-
Chang, P.C.1
Baca, A.G.2
Li, N.Y.3
Xie, M.4
Hou, H.Q.5
Armour, E.6
-
10
-
-
0008455160
-
-
D. Ritter, R. A. Hamm, A. Feygenson, H. Temkin, and M. B. Panish, Appl. Phys. Lett. 61, 70 (1992).
-
(1992)
Appl. Phys. Lett.
, vol.61
, pp. 70
-
-
Ritter, D.1
Hamm, R.A.2
Feygenson, A.3
Temkin, H.4
Panish, M.B.5
-
11
-
-
0028483175
-
-
K. Kurishima, H. Nakajima, T. Kobayashi, Y. Matsuoka, and T. Ishibashi, IEEE Trans. Electron Devices 41, 1319 (1994).
-
(1994)
IEEE Trans. Electron Devices
, vol.41
, pp. 1319
-
-
Kurishima, K.1
Nakajima, H.2
Kobayashi, T.3
Matsuoka, Y.4
Ishibashi, T.5
-
14
-
-
0026097089
-
-
K. Ikossi-Anastasiou, A. Ezis, K. R. Evans, and C. E. Stutz. Electron. Lett. 27, 142 (1991).
-
(1991)
Electron. Lett.
, vol.27
, pp. 142
-
-
Ikossi-Anastasiou, K.1
Ezis, A.2
Evans, K.R.3
Stutz, C.E.4
-
15
-
-
0017482389
-
-
R. E. Nahory, M. A. Pollack, J. C. DeWinter, and K. M. Williams, J. Appl. Phys. 48, 1607 (1977).
-
(1977)
J. Appl. Phys.
, vol.48
, pp. 1607
-
-
Nahory, R.E.1
Pollack, M.A.2
DeWinter, J.C.3
Williams, K.M.4
-
19
-
-
0000293738
-
-
K. Ouchi, T. Mishima, K. Mochizuki, T. Oka, and T. Tanoue, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 1866 (1997).
-
(1997)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.36
, pp. 1866
-
-
Ouchi, K.1
Mishima, T.2
Mochizuki, K.3
Oka, T.4
Tanoue, T.5
|