A reproducible method to fabricate atomically sharp tips for scanning tunneling microscopy

Review of Scientific Instruments

Volumn 70, Issue 8, 1999, Pages 3373-3376

  Nakamura, Yoshiaki ^a   Mera, Yutaka ^a   Maeda, Koji ^a  

^a UNIVERSITY OF TOKYO   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001588178     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1149921     Document Type: Article

References (11)

1. P. J. Bryant, H. S. Kim, Y. C. Zheng, and R. Yang, Rev. Sci. Instrum. 58, 1115 (1987).
2. A. Cricenti, S. Selci, R. Generosi, E. Gori, and G. Chiarotti, Solid State Commun. 70, 897 (1989).
3. J. P. Ibe, P. P. Bey, Jr., S. L. Brandow, R. A. Brizzolara, N. A. Burnham, D. P. Diella, K. P. Lee, C. R. K. Marrian, and R. J. Colton, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 3570 (1990).
4. H. Lemke, T. Göddenhenrich, H. P. Bochem, U. Hartmann, and C. Heiden, Rev. Sci. Instrum. 61, 2538 (1990).
5. M. Fontino, Rev. Sci. Instrum. 64, 159 (1992).
6. J. P. Song, N. H. Pryds, K. Glejbøl, K. A. Mørch, A. R. Thölén, and L. N. Christensen, Rev. Sci. Instrum. 64, 900 (1993).
7. H. Bourque and R. M. Leblanc, Rev. Sci. Instrum. 66, 2695 (1995).
8. A. I. Oliva, A. Romero G, J. L. Peña, E. Anguiano, and M. Aguilar, Rev. Sci. Instrum. 67, 1917 (1996).
9. L. Anwei, H. Xiaotang, L. Wenhui, and J. Guijun, Rev. Sci. Instrum. 68, 3811 (1997).
10. M. Klein and G. Schwitzgebel, Rev. Sci. Instrum. 68, 3099 (1997).
11. M. K. Miller and G. D. W. Smith, Atom Probe Microanalysis (Materials Research Society, Pittsburgh, 1989).