Electrochemical preparation of tungsten tips for a scanning tunneling microscope

Review of Scientific Instruments

Volumn 67, Issue 5, 1996, Pages 1917-1921

  Oliva, A I ^a   Romero G , A ^a   Pena J L ^a   Anguiano, E ^b   Aguilar, M ^b  

^a DEPARTAMENTO DE FÍSICA APLICADA   (Mexico)

^b INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0011740996     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1146996     Document Type: Article

References (16)

1. G. Binnig and H. Rohrer, Helv. Phys. Acta 55, 726 (1982).
2. H. W. Fink, IBM J. Res. Devel. 30, 460 (1986).
3. P. J. Bryant, H. S. Kim, Y. C. Zheng, and R. Yang, Rev. Sci. Instrum. 58, 1115 (1987).
4. P. K. Hansma and J. Tersoff, J. Appl. Phys. 61, R1 (1986).
5. H. Neddermeyer, Trends Anal. Chem. 8, 230 (1989).
6. G. W. Stupian and M. S. Leung, Rev. Sci. Instrum. 60, 181 (1989).
7. R. Guckenberger, C. Kösslinger, R. Gatz, H. Breu, N. Levai, and W. Baumeister, Ultramicroscopy 25, 111 (1988).
8. M. Fotino, Rev. Sci. Instrum. 64, 159 (1993).
9. J. Garnaes, F. Kragh, K. A. Morch, and R. Thölén, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 441 (1990).
10. D. K. Biegelsen, F. A. Ponce, and J. C. Tramontana, Appl. Phys. Lett. 54, 1223 (1989).
11. R. Nicolaides, Y. Liang, W. Packard, Z.-W. Fu, H. Blackstead, K. K. Chin, J. Dow, J. Furdyna, Wei Min Hu, R. Jaklevic, W. Kaiser, A. Pelton, M. Zeller, and J. Bellina, J. Vac. Sci. Technol. A 6, 445 (1988).
12. J. P. Ibe, P. P. Bey, S. L. Brandow, R. A. Brizzolara, N. A. Brunham, D. P. Dihella, K. P. Lee, C. R. K. Marrian, and R. J. J. Colton, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 3570 (1990).
13. J. W. Johnson and C. L. Wu, J. Electrochem. Soc. 118, 1909 (1971).
14. G. S. Kelsey, J. Electrochem. Soc. 124, 814 (1977).
15. W. Lisowski, A. H. J. van den Berg, G. A. M. Kip, and I. J. Hanekamp, J. Anal. Chem. 341, 196 (1991).
16. A. Cricenti, E. Paparazzo, M. A. Scarselli, L. Moretto, and S. Selci, Rev. Sci. Instrum. 65, 1558 (1994).