Self-Assembled Gold Nanoparticle/Dendrimer Composite Films for Vapor Sensing Applications

Nano Letters

Volumn 2, Issue 5, 2002, Pages 551-555

  Krasteva, Nadejda ^a   Besnard, Isabelle ^a   Guse, Berit ^a   Bauer, Roland E ^b   Müllen, Klaus ^b   Yasuda, Akio ^a   Vossmeyer, Tobias ^a  

^a Sony Deutschland GmbH   (Germany)

^b MAX PLANCK INSTITUTE FOR POLYMER RESEARCH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001502333     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl020242s     Document Type: Article

References (39)

1. Brust, M.; Bethel, D.; Kiely, C. J.; Schiffrin, D. J. Langmuir 1998, 14, 5425.
2. Musick, M. D.; Keating C. D.; Keefe, M. H.; Natan, M. J. Chem. Mater. 1997, 9, 1499.
3. Musick, M. D.; Keating C. D.; Lyon, L. A.; Botsko, S. L.; Pena, D. J.; Holliway, W. D.; McElvoy, T. M.; Richardson, J. N.; Natan, M. J. Chem. Mater. 2000, 12, 2869.
4. Fishelson, N.; Shkrob, I.; Lev, O.; Gun, J.; Modestov, A. D. Langmuir 2001, 17, 403.
5. Andres, R. P.; Bielefeld, J. D.; Henderson, J. I.; Janes, D. B.; Kolagunta, V. R.; Kiubiak, C. P.; Mahoney, W. J.; Osifchin, R. G. Science 1996, 273, 1690.
6. Shipway, A. W.; Katz, E.; Willner, I. Chem. Phys. Chem. 2000, 1, 18.
7. Kruis, F. E.; Fissan, H.; Peled, A. J. Aerosol Sci. 1998, 29, 511.
8. Markovich, G.; Leff, D. V.; Chung, S.-W.; Soyez, H.; Dunn, B.; Heath, J. R. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 3107.
9. Evans, S. D.; Johnson, S. R.; Cheng, Y. L.; Shen, T. J. Mater. Chem. 2000, 10, 183.
10. Wohltjen, H.; Snow, A. W. Anal. Chem. 1998, 70, 2856.
11. Han, L.; Daniel, D. R.; Maye, M. M.; Zhong, C.-J. Anal. Chem. 2001, 73, 4441.
12. Schlupp, M.; Heil, C.; Koch, A.; Müller-Albrecht, J.; Bargon, U. Sens, Actuators B 2000, 71, 9.
13. Shipway, A. W.; Lahav, M.; Willner, I. Adv. Mater. 2000, 12, 993.
14. Kharitonov, A.; Shipway, A. W.; Willner, I. Anal. Chem. 1999, 71, 5441.
15. Crooks, R. M.; Zhao, M.; Sun, L.; Chechik, V.; Yeung, L. K. Acc. Chem. Res. 2001, 34, 181.
16. Bönneman, H.; Braun, G.; Brijoux, W.; Brinkmann, R.; Schulze Tilling, A.; Seevogel, K.; Siepen, K. J. Organomet. Chem. 1996, 520, 143.
17. Brust, M.; Walker, D.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Whyman, R. J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1994, 801.
18. Garcia, M. E.; Baker, L. A.; Crooks, R. M. Anal. Chem. 1999, 71, 256.
19. Chechik, V.; Crooks, R. M. Langmuir 1999, 15, 6364.
20. Esumi, K.; Suzuki, A.; Yamahira, A.; Torigoe, K. Langmuir 2000, 16, 2604.
21. Balogh, L.; Valluzzi, R.; Laverdure, K. S.; Gido, S. P.; Hagnauer, G. L.; Tomalia, D. A. J. Nanoparticle Res. 1999, 1, 353.
22. Newkome, G. R.; Moorefield, C. N.; Vögtle, F. Dendritic Molecules: Concepts, Syntheses, Perspectives; VCH Publishers: Weinheim, 1996.
23. Bosman, A. W.; Janssen, H. M.; Meijer, E. W. Chem. Rev. 1999, 99, 1665.
24. Tokuhisa, H.; Crooks, R. M. Langmuir 1997, 13, 5608.
25. Wells, M.; Crooks, R. M. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3988.
26. Schlupp, M.; Weil, T.; Berrensheim, A. J.; Wiesler, U. M.; Bargon, J.; Müllen, K. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 2001, 40, 4011.
27. Vossmeyer, T.; Guse, B.; Besnard, I.; Bauer, R.; Müllen, K.; Yasuda, A. Adv. Mater. 2002, 14, 238.
28. Leff, D. V.; Brandt, L.; Heath, J. R. Langmuir 1996, 12, 4723.
29. Underwood, S.; Mulvaney, P. Langmuir 1994, 10, 3427.
30. Wiesler, U. M.; Berrensheim, A. J.; Morgenroth, F.; Lieser, G.; Müllen, K. Macromolecules 2001, 34, 187.
31. -1.
32. Tsukruk, V. Adv. Mater. 1998, 10, 253.
33. Hierlemann, A.; Campbell, J. K.; Baker, L. A.; Crooks, R. M.; Ricco, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 5323.
34. Ishida, T.; Yamamoto, S.; Mizutani, W.; Motomatsu, M.; Tokumoto, H.; Hokari, H.; Azehara, H.; Fujihira, M. Langmuir 1997, 13, 3261.
35. Abeles, B.; Sheng, P.; Coutts, M. D.; Arie, Y. Adv. Phys. 1975, 24, 407.
36. Neugebauer, C. A.; Webb, M. B. J. Appl. Phys. 1962, 33, 74.
37. Wuelfing, W. P.; Green, S. J.; Pietron, J. J.; Cliffel, D. E.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 11465.
38. RT values, films of the same age, which were stored under defined conditions (kept under vacuum (ca. 8 mbar) and then equilibrated under dry air for several hours) were used.
39. Hering, E.; Martin, R.; Stohrer, M. Physik für Ingeneure; VDI Verlag: Düsseldorf, 1989; p 227.