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Volumn 58, Issue 7, 1998, Pages 3893-3903

Transient ion-drift-induced capacitance signals in semiconductors

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EID: 0001418353     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.58.3893     Document Type: Article
Times cited : (40)

References (21)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.