Scanning tunneling microscopy of the GaAs(001) surface reconstructions

Science Reports of the Rerearch Institutes Tohoku University Series A-Physics

Volumn 44, Issue 2, 1997, Pages 113-143

  Xue, Qi Kun ^a   Hashizume, Tomihiro ^b   Ichimiya, Ayahiko ^c   Ohno, Takahisa ^d   Hasegawa, Yukio ^a   Sakurai, Toshio ^a  

^a TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

^b HITACHI LTD   (Japan)

^c NAGOYA UNIVERSITY   (Japan)

^d NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE   (Japan)

Author keywords

First principles total energy calculation; GaAs; Molecular beam epitaxy; Reflection high energy electron diffraction; Scanning tunneling microscopy

Indexed keywords

EID: 0001305313     PISSN: 00408808     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (104)

1. F. Jona, IBM Res. Develop. 9, (1965) 375.
2. A. Y. Cho, J. Appl. Phys. 42, (1971) 2074.
3. A. Y. Cho, J. Appl. Phys. 47, (1971) 2841.
4. J. R. Arthur, Surf. Sci. 43, (1974) 449.
5. A. Y. Cho and J. R. Arthur, Prog. Solid State Chem. 10, (1975) 157.
6. J. H. Neave and B. A. Joyce, J. Cryst. Growth 44, (1978) 387.
7. A. J. Van Bommel and J. E. Crombeen, Surf. Sci. 57, (1976) 437;
8. A. J. van Bommel, J. E. Chrombeen and T. G. Van Dirschot, Surf. Sci. ibid 72, (1978) 95.
9. P. Drathen, W. Ranke, and K. Jacobi, Surf. Sci. 77, (1978) L162;
10. J. Massies, P. Etienne, F. Dezaly, and N. T. Linh, Surf. Sci. ibid 99, (1980) 121;
11. W. Ranke and K. Jacobi, Prog. Surf. Sci. 10, (1981) 1.
12. R. Z. Bachrach, R. S. Bauer, P. Chiaradia, and G. V. Hansson, J. Vac. Sci. Technol. 19, (1981) 335.
13. P. K. Larsen, J. H. Neave, J. F. van der Veen, P. J. Dobson and B. A. Joyce, Phys. Rev. B27, (1983) 4966.
14. B. A. Joyce, J. H. Neave, P. J. Dobson and P. K. Larsen, Phys. Rev. B29, (1984) 814.
15. T. -C. Chiang, R. Ludeke, M. Aono, G. Landgren, F. J. Himpsel, and D. E. Eastman, Phys. Rev. B27, (1983) 4770.
16. D. J. Frankel, C. Yu, J. P. Harbison, and H. H. Farrell, J. Vac. Sci. Technol. B5, (1987) 1113.
17. H. H. Farrell, J. P. Harbison and L. D. Peterson, J. Vac. Sci. Technol. B5, (1987) 1482
18. M. G. Knibb and P. A. Maksym, Surf. Sci. 195, (1988) 475.
19. P. K. Larsen and D. J. Chadi, Phys. Rev. B37, (1988) 8282.
20. H. H. Farrell and C. J. Palmstrom, J. Vac. Sci. Technol. B8, (1990) 903.
21. L. Däeritz and R. Hey, Surf. Sci. 236, (1990) 15.
22. H. Yamaguchi and Y. Horikoshi, Phys. Rev. B44, (1991) 5897.
23. C. Deparis and J. Massies, J. Cryst. Growth, 108, (1991) 157.
24. J. M. McCoy, U. Korte, P. A. Maksysm and G. Meyer-Ehmsen, Phys. Rev. B48, (1993) 4721
25. H. Nöenberg and N. Koguchi, Surf. Sci. 296, (1993) 199.
26. S. P. Svensson, P. O. Nilsson and T. G. Anderson, Phys. Rev. B31, (1985) 5272.
27. R. Duszak, C. J. Palmstrom, L. T. Florez, Y. -N. Yang and J. H. Weaver, J. Vac. Sci. Technol. B10, (1992) 1891.
28. P. K. Larsen, J. H. Neave and B. A. Joyce, J. Phys. C14, (1981) 167.
29. P. K. Larsen, J. F. van der Veen, A. Mazur, J. Pollmann, J. H. Neave and B. A. Joyce, Phys. Rev. B26, (1982) 3222.
30. M. Sauvage-Simkin, R. Pinchaux, J. Massies, P. Calverie, N. Jedrecy, J. Bonnet and I. K. Robinson, Phys. Rev. Lett. 62, (1989) 563.
31. S. A. Chambers, Surf. Sci. 261, (1992) 48.
32. I. Kamiya, D. E. Aspnes, H. Tanaka, L. T. Florez, J. P. Harbison and R. Bhat, Phys. Rev. Lett. 68, (1992) 627;
33. I. Kamiya, D. E. Aspnes, L. T. Florez and J. P. Harbison, Phys. Rev. B46, (1992) 15894.
34. K. Kanisawa, J. Osaka, S. Hirono and N. Inoue, J. Cryst. Growth, 115, (1991) 348.
35. J. Falta, R. M. Tromp, M. Copel, G. D. Pettit and P. D. Kirchner, Phys. Rev. Lett. 69, (1992) 3068;
36. Comments and Reply, Phys. Rev. Lett. 70, (1993) 3171-3.
37. M. D. Pashley, K. W. Haberern, W. Friday, J. M. Woodall and P. D. Kirchner, Phys. Rev. Lett. 60, (1988) 2176.
38. D. K. Biegelsen, R. D. Bringans, J. E. Northrup and L. -E. Swartz, Phys. Rev. B41, (1990) 5701;
39. D. K. Biegelsen, R. D. Bringans and L. E. Swartz, SPIE, 1186, (1990) 136.
40. M. D. Pashley and K. W. Haberern, Phys. Rev. Lett. 67, (1991) 2697;
41. M. D. Pashley, K. W. Haberern, R. M. Feenstra and P. D. Kirchner, Phys. Rev. B48, (1993) 4612.
42. E. J. Heller, Z. Y. Zhang and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 71, (1993) 743;
43. E. J. Heller and M. G. Lagally, Appl. Phys. Lett. 60, (1992) 2675.
44. M. Wassermeier, V. Bressler-Hill, R. Maboudian, K. Pond, X. S. Wang, W. H. Weinberg and P. M. Petroff, Surf. Sci. Lett. 278, (1992) L147;
45. V. Bressler-Hill, M. Wassermeier, K. Pond, R. Maboudian, G. A. D. Briggs, P. M. Petroff and W. H. Weinberg, J. Vac. Sci. Technol. B10, (1992) 1881.
46. M. C. Gallagher, R. H. Prince and R. F. Willis, Surf. Sci. 275, (1992) 31.
47. H. Xu, T. Hashizume, and T. Sakurai, Jpn. J. Appl. Phys. 32, (1993) 1511.
48. S. Miwa, Y. Haga, E. Morita, S. Arakawa, T. Hashizume, and T. Sakurai, Jpn. J. Appl. Phys. 32, (1993) 1508
49. H. Yamaguchi and Y. Horikoshi, Phys. Rev. Lett. 70, (1993) 1299.
50. J. M. Zhou, Q.-K. Xue, H. Chaya, T. Hashizume and T. Sakurai, Appl. Phys. Lett. 64, (1994) 583.
51. Q.-K. Xue, J. M. Zhou, T. Hashizume and T. Sakurai, J. Appl. Phys. 75, (1994) 5021.
52. T. Hashizume, Q.-K. Xue, J. M. Zhou, A. Ichirniya and T. Sakurai, Phys. Rev. Lett. 73, (1994) 2208,
53. Phys. Rev. B51, (1995) 4200.
54. H. Yamaguchi and Y. Horikoshi, Phys. Rev. B51, (1995) 9836.
55. Y. Hirota and T. Fukuda, Appl. Phys. Lett. 66, (1995) 2837.
56. I. Karpov, B. G. Venkateswaran, W. Gladfelter, A. Franciosi and L. Sorba J. Vac. Sci. Technol. 13 (1995) 2041.
57. M. Wassemeier, J. Behrend, L. Daweritz, and K. H. Ploog, Phys. Rev. B52, (1995) R2269.
58. A. R. Avery, D. M. Holmes, J. L. Sudijono, T. S. Jones, and B. A. Joyce, Surf. Sci. 323, (1995) 91.
59. L. D. Broekman, R. C. G. Leckey, J. D. Riley, A. Stampfl, B. F. Usher, and B. A. Sexton, Phys. Rev. B51, (1995) 17795.
60. A. R. Avery, C. M. Goringe, D. M. Holmes, J. L. Sudijono, and T. S. Jones, Phys. Rev. Lett. 76, (1996) 3344.
61. J. Behrend, M. Wassermeier, L. Daweritz, and K. H. Ploog, Surf. Sci. 342, (1996) 63.
62. Q.-K. Xue, T. Hashizume, T. Sakata, Y. Hasegawa, A. Ichimiya, T. Ohno, and T. Sakurai, Thin Solid Films 281-282, (1996) 556.
63. D. J. Chadi, J. Vac. Sci. Technol. A5, (1987) 834.
64. G. -X. Qian, R. M. Martin and D. J. Chadi, Phys. Rev. B38, (1988) 7649.
65. T. Ohno, Phys. Rev. Lett. 70, (1993) 631;
66. Phys. Rev. Lett. ibid, 73, (1994) 460; Sci. Rep. RITU following this article.
67. J. E. Northrup and S. Froyen, Phys. Rev. Lett. 71, (1993) 2276.
68. J. E. Northrup and S. Froyen, Phys. Rev. B50, (1994) 2015.
69. W. G. Schmidt, and F. Bechstedt, Phys. Rev. B54, (1996) 16742.
70. M. D. Pashley, Phys. Rev. B40, (1989) 10481.
71. W. A. Harrison, J. Vac. Sci. Technol. 16, (1979) 1492.
72. S. L. Skala. J. S. Hubacek, J. R. Tucker, J. W. Lyding, S. T. Chou, and K. Y. Cheng, Phys. Rev. B48, (1993) 9138.
73. D. E. Aspnes, Y. C. Chang, A. A. Studna, L. T. Florez, H. H. Farrell, and J. P. Harbison, Phys. Rev. Lett. , 64, (1990) 192,
74. M. D. Pashley, Phys. Rev. Lett. 70, 3171(1993);
75. M. Wassermier et al. Phys. Rev. Lett. ibid, 70, (1993) 3172;
76. J. Falta et al. Phys. Rev. Lett. ibid, 70, (1993) 3173.
77. J. R. Creighton, Surface Sci. 234, (1990) 287.
78. A. Ichimiya, Jpn. J. Appl. Phys. 22, (1983) 176;
79. Jpn. J. Appl. Phys. 24, (1985) 1365;
80. Surf. Sci. 235, (1990) 75.
81. Q.-K. Xue, T. Hashizume, J. M. Zhou, T. Sakata, T. Sakurai, and T. Ohno, Phys. Rev. Lett. 74, (1995) 3177.
82. M. D. Pashley and K. W. Haberern, Phys. Rev. Lett. 67, (1991) 2697;
83. M. D. Pashley, K. W. Haberern, R. M. Feenstra and P. D. Kirchner, Phys. Rev. B48, (1993) 4612.
84. Y. Horikoshi, M. Kawashima and H. Yamaguchi, Jpn. J. Appl. Phys. 25, (1986) L868.
85. Q.-K. Xue, T. Hashizume, Y. Hasegawa, and T. Sakurai, J. Cryst. Growth, in press.
86. R. M. Feenstra, J. A. Stroscio, J. Tersoff, and A. P. Fein, Phys. Rev. Lett. 25, (1987) 1192.
87. P. K. Lasen, P. J. Dobson, J. H. Neave, B. A. Joyce, B. Böger and J. Zhang, Surf. Sci. 169, (1986) 176.
88. A. Ichimiya et al. , to be published.
89. G. M. Lagally, in "Methods of experimental Physics," (Academic Press, 1985) 237;
90. Henzler, Surf. Sci. 11/12, (1982) 450.
91. I. M. Vitomirov, A. D. Raisanen, A. C. Finnefrock, R. E. Viturro, L. J. Brillson, P. D. Kirchner, G. D. Pettit, and J. M. Woodall, J. Vac. Sci. Technol. B10, (1992) 1898.
92. T. Hashizume, K. Motai, X. D. Wang, H. Shinohara, Y. Saito, Y. Murayama, K. Ohno, Y. Kawazoe, Y. Nishina, H. W. Pickering, Y. Kuk and T. Sakurai, Phys. Rev. Lett. 71, (1993) 2959.
93. T. Sakurai, T. Hashizume, I. Kamiya, Y. Hasegawa, N. Sano, H. W. Pickering, and A. Sakai, Prog. Surf. Sci. 33, (1990) 3;
94. T. Hashizume, I. Sumita, Y. Murata, S. Hypdo, and T. Sakurai, J. Vac. Sci. Technol. A9, (1991) 742.
95. M. D. Pashley and K. W. Haberen, Ultramicroscopy, 42-44, (1992) 1281.
96. M. D. Pashley, K. W. Haberern, and R. M. Feenstra, J. Vac. Sci. Technol. B10, (1992) 1874.
97. T. Ohno, private communication.
98. Haihua. Qi, P. E. Gee, and R. F. Hicks, Phys. Rev. Lett. 72, (1994) 250.
99. Q.-K. Xue, T. Ogino, Y. Hasegawa, H. Shinohara and T. Sakurai, Phys. Rev. B53, (1996) 1985.
100. H. W. M. Salemink, M. B. Johnson, and O. Albrektsen, J. Vac. Sci. Technol. B12, (1994) 362
101. C. F. McConville, T. S. Jones, F. M. Leibsle, S. M. Driver, T. C. Q. Noakes, M. O. Schweitzer, and N. V. Richardson, Phys. Rev. B50, (1994) 14965.
102. J. Gerda, F. J. Palomares, and F. Soria, Phys. Rev. Lett. , 75, (1995) 665.
103. M. -H. Tsai, C. F. Liu, and C. S. Chang, Phys. Rev. B54, (1996) 7637.
104. A complete review is published in Prog. Surf. Sci. (1997).