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Volumn 10, Issue 11, 1998, Pages 3683-3689

Structural and Electrical Characterization of Processable Bis-Silylated Thiophene Oligomers

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EID: 0001245017     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm9804261     Document Type: Article
Times cited : (29)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.