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Volumn 70, Issue 17, 1997, Pages 2288-2290

In situ Si flux cleaning technique for producing atomically flat Si(100) surfaces at low temperature

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EID: 0001162919     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.119083     Document Type: Article
Times cited : (38)

References (18)
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    • private communication
    • S. Tang (private communication).
    • Tang, S.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.