Correlation between atomic-scale structure and mobility anisotropy in superlattices

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 57, Issue 11, 1998, Pages 6534-6539

  Lew, A ^a   Zuo, S ^a   Yu, E ^a   Miles, R ^b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b Hughes Aircraft Co   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001144166     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.6534     Document Type: Article

References (28)

1. D. L. Smith and C. Mailhiot, J. Appl. Phys. 62, 2545 (1987).
2. D. H. Chow, R. H. Miles, J R. Söderström, and T. C. McGill, Appl. Phys. Lett. 56, 1418 (1990).
3. J. L. Johnson, L. A. Samoska, A. C. Gossard, J. L. Merz, M. D. Jack, G. R. Chapman, B. A. Baumgratz, K. Kosai, and S. M. Johnson, J. Appl. Phys. 80, 1116 (1996).
4. T. C. Hasenberg, D. H. Chow, A. R. Kost, R. H. Miles, and L. West, Electron. Lett. 31, 275 (1995).
5. I. Sela, I. H. Campbell, B. K. Laurich, D. L. Smith, L. A. Samoska, C. R. Bolognesi, A. C. Gossard, and H. Kroemer, J. Appl. Phys. 70, 5608 (1991).
6. D. H. Chow, R. H. Miles, and A. T. Hunter, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 888 (1992).
7. R. H. Miles, J. N. Schulman, D. H. Chow, and T. C. McGill, Semicond. Sci. Technol. 8, S102 (1993).
8. G. Tuttle, H. Kroemer, and J. H. English, J. Appl. Phys. 67, 3032 (1990).
9. R. H. Miles, D. H. Chow, and W. J. Hamilton, J. Appl. Phys. 71, 211 (1992).
10. R. M. Feenstra, D. A. Collins, D. Z.-Y. Ting, M. W. Wang, and T. C. McGill, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2592 (1994).
11. R. M. Feenstra, D. A. Collins, D. Z.-Y. Ting, M. W. Wang, and T. C. McGill, Phys. Rev. Lett. 72, 2749 (1994).
12. P. M. Thibado, B. R. Bennett, M. E. Twigg, B. V. Shanabrook, and L. J. Whitman, Appl. Phys. Lett. 67, 3578 (1995).
13. A. Y. Lew, E. T. Yu, D. H. Chow, and R. H. Miles, Appl. Phys. Lett. 65, 201 (1994).
14. A. Y. Lew, E. T. Yu, D. H. Chow, and R. H. Miles, in Compound Semiconductor Epitaxy, edited by C. W. Tu, L. A. Kolodziejski, and V. R. McCrany, MRS Symposium Proceedings No. 340 (Materials Research Society, Pittsburgh, 1994), p. 237.
15. S. M. Goodnick, D. K. Ferry, C. W. Wilmsen, Z. Liliental, D. Fathy, and O. L. Krivanek, Phys. Rev. B 32, 8171 (1985).
16. S. L. Skala, W. Wu, J. R. Tucker, J. W. Lyding, A. Seabaugh, E. A. Beam III, and D. Jovanovic, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 660 (1995).
17. W. Wu, S. L. Skala, J. R. Tucker, J. W. Lyding, A. Seabaugh, E. A. Beam III, and D. Jovanovic, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 602 (1995).
18. P. R. Pukite, G. S. Petrich, S. Batra, and P. I. Cohen, J. Cryst. Growth 95, 269 (1989).
19. E. J. Heller and M. G. Lagally, Appl. Phys. Lett. 60, 2675 (1992).
20. V. Bressler-Hill, R. Maboudian, M. Wassermeier, X.-S. Wang, K. Pond, P. M. Petroff, and W. H. Weinberg, Surf. Sci. 287/288, 514 (1993).
21. C. A. Hoffman, J. R. Meyer, E. R. Youngdale, F. J. Bartoli, and R. H. Miles, Appl. Phys. Lett. 63, 2210 (1993).
22. C. A. Hoffman, J. R. Meyer, E. R. Youngdale, F. J. Bartoli, R. H. Miles, and L. R. Ram-Mohan, Solid-State Electron. 37, 1203 (1994).
23. J. F. Chen and A. Y. Cho, J. Appl. Phys. 70, 277 (1991).
24. R. H. Miles (unpublished).
25. H.-R. Blank, M. Thomas, K. C. Wong, and H. Kroemer, Appl. Phys. Lett. 69, 2080 (1996).
26. Y. Tokura, T. Saku, S. Tarucha, and Y. Horikoshi, Phys. Rev. B 46, 15 558 (1992).
27. A. Baraldi, F. Colonna, C. Ghezzi, R. Magnanini, A. Parisini, L. Tarricone, A. Bosacchi, and S. Franchi, Semicond. Sci. Technol. 11, 1656 (1996).
28. H. Sakaki, T. Noda, K. Hirakawa, M. Tanaka, and T. Matsusue, Appl. Phys. Lett. 51, 1934 (1987).