Voltage-dependent STM images of covalently bound molecules on Si(100)

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 102, Issue 43, 1998, Pages 8541-8545

  Padowitz, David F ^a   Hamers, Robert J ^b  

^a AMHERST COLLEGE   (United States)

^b UNIVERSITY OF WISCONSIN MADISON   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000953235     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp982229v     Document Type: Article

References (29)

1. Bardeen, J. Phys. Rev. Lett. 1961, 6, 57.
2. Tersoff, J.; Hamann, D. R. Phys. Rev. B 1985, 31, 805.
3. Lang, N. D.; Doyen, G. In Scanning Tunneling Microscopy III, 2nd ed.; Wiesendanger, R., Güntherodt, H.-J., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1996.
4. Sautet, P.; Joachim, C. Surf. Sci. 1992, 271, 387.
5. (a) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
6. (b) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 56, 12469.
7. Cerda, J.; van Hove, M. A.; Sautet, P.; Salmeron, M. Phys. Rev. B 1997, 56, 15885.
8. (a) Claypool, C. L.; Fagolioni, F.; Goddard, W. A. III; Gray, H. B.; Lewis, N. S.; Marcus, R. A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 5978.
9. (b) Fagolioni, F.; Claypool, C. L.; Lewis, N. S.; Goddard, W. A., III. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 5996.
10. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L., II.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1997, 271, 1705.
11. Dhirani, A.; Lin, P.-H.; Guyot-Sionnest, P.; Zehner, L.; Sita, L. R.; J. Chem. Phys. 1997, 106, 5249.
12. Tao, N. J. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 4066.
13. Hamers, R. J.; Tromp, R. M.; Demuth, J. E. Surf. Sci. 1986, 181, 346.
14. (a) Hamers, R. J.; Hovis, J. S.; Lee, S.; Liu, H.; Shan, J. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 1489.
15. (b) Hovis J. S.; Lee, S.; Liu, H.; Hamers, R. J.; J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 1153.
16. (c) Hovis, J. S.; Hamers, R. J. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 9581.
17. (d) Hovis, J. S.; Hamers, R. J. J. Phys. Chem. B 1997, 102, 687.
18. Waltenburg, H. N.; Yates, J. T. Chem. Rev. 1995, 95, 1589.
19. Widdra, W.; Huang, C.; Yi, S. I.; Weinberg, W. H. J. Chem. Phys. 1996, 105, 5605.
20. Liu, Q.; Hoffman, R. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 4082.
21. Konecny, R.; Doren, D. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11098.
22. Teplyakov, A. V.; Kong, M. J.; Bent, D. F. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11100.
23. (a) Binnig, G.; Rohrer, H. IBM Journal of Res. and Dev. 1986, 30, 355.
24. (b) Wisendanger, R. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy; Cambridge University Press: Cambridge, 1994.
25. Vázquez de Parga, A. L.; Hernán, O. S.; Miranda, R.; Levy Yeyati, A.; Mingo, N.; Martín-Rodero, A.; Flores, F. Phys. Rev. Lett. 1997, 80, 357.
26. Hamers, R. J.; Avouris, Ph.; Bozso, F. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 508.
27. Mikkelsen, K. V.; Ratner, M. A. Chem. Rev. 1987, 87, 113.
28. Shachal, D.; Manassen, Y. Chem. Phys. Lett. 1997, 271, 107.
29. Wolf, E. L. Principles of Electron Tunneling Spectroscopy, Oxford University Press: New York, 1985; Chapter 2.