Theoretical description of the STM images of alkanes and substituted alkanes adsorbed on graphite

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 101, Issue 31, 1997, Pages 5996-6020

  Faglioni, Francesco ^a   Claypool, Christopher L ^b   Lewis, Nathan S ^b   Goddard III, William A ^a  

^a CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

^b California Institute of Technology ^*  (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADSORPTION; COMPUTATIONAL METHODS; ELECTRON ENERGY LEVELS; FERMI LEVEL; GRAPHITE; MATHEMATICAL MODELS; MOLECULAR STRUCTURE; PERTURBATION TECHNIQUES; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACE STRUCTURE;

IMAGE CONTRAST; SURFACE TOPOGRAPHY;

PARAFFINS;

EID: 0031175546     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp9701808     Document Type: Article

References (36)

1. Claypool, C. L.; Faglioni, F.; Goddard, W. A., III; Gray, H. B.; Lewis, N. S.; Marcus, R. A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, xxx.
2. Liang, W.; Whangbo, M.-H.; Wawkuschewski, A.; Cantow, H.-J.; Magonov, S. N. Adv. Mater. 1993, 5, 817. Bar, G.; Magonov, S. N.; Cantow, H.-J.; Kushch, N. D.; Yabubskii, E. B.; Liang, W.; Ren, J.; Whangbo, M,-H. New J. Chem. 1993, 17, 439.
3. Liang, W.; Whangbo, M.-H.; Wawkuschewski, A.; Cantow, H.-J.; Magonov, S. N. Adv. Mater. 1993, 5, 817. Bar, G.; Magonov, S. N.; Cantow, H.-J.; Kushch, N. D.; Yabubskii, E. B.; Liang, W.; Ren, J.; Whangbo, M,-H. New J. Chem. 1993, 17, 439.
4. Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Wilbur, J. L.; Folkers, J. P.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8684. Cyr, D. M.; Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Black, A.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1996 100, 13747. Cyr, D. M.; Venkataraman, B.; Flynn, G. W. Chem. Mater. 1996 8, 1600.
5. Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Wilbur, J. L.; Folkers, J. P.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8684. Cyr, D. M.; Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Black, A.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1996 100, 13747. Cyr, D. M.; Venkataraman, B.; Flynn, G. W. Chem. Mater. 1996 8, 1600.
6. Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Wilbur, J. L.; Folkers, J. P.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8684. Cyr, D. M.; Venkataraman, B.; Flynn, G. W.; Black, A.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1996 100, 13747. Cyr, D. M.; Venkataraman, B.; Flynn, G. W. Chem. Mater. 1996 8, 1600.
7. Rabe, J. P.; Buchholz, S. Science 1991, 253, 424. Rabe, J. P.; Buchholz, S.; Askadskaya, L. Synth. Met. 1993, 54, 339.
8. Rabe, J. P.; Buchholz, S. Science 1991, 253, 424. Rabe, J. P.; Buchholz, S.; Askadskaya, L. Synth. Met. 1993, 54, 339.
9. Magonov, S. N.; Whangbo, M-H. Surface Analysis with STM and AFM; VCH: New York, 1996.
10. Tersoff, J.; Hamman, D. R. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 1998. Tersoff, J.; Hamman, D. R. Phys. Rev. B 1985, 31, 805.
11. Tersoff, J.; Hamman, D. R. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 1998. Tersoff, J.; Hamman, D. R. Phys. Rev. B 1985, 31, 805.
12. Bardeen, J. Phys. Rev. Lett. 1961, 6, 57.
13. Lang, N. D. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 230. Lang, N. D. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 1164.
14. Lang, N. D. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 230. Lang, N. D. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 1164.
15. Doyen, G.; Drakova, D.; Kopatzki, E.; Behm, R. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 327. Kopatzki, E.; Doyen, G.; Drakova, D.; Behm, R. J. J. Microsc. 1988, 152, 687.
16. Doyen, G.; Drakova, D.; Kopatzki, E.; Behm, R. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 327. Kopatzki, E.; Doyen, G.; Drakova, D.; Behm, R. J. J. Microsc. 1988, 152, 687.
17. Hallmark, V. M.; Chiang, S.; Meinhardt, K. P.; Hafner, K. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 3740. Hallmark, V. M.; Chiang, S. Surf. Sci. 1995, 329, 255.
18. Hallmark, V. M.; Chiang, S.; Meinhardt, K. P.; Hafner, K. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 3740. Hallmark, V. M.; Chiang, S. Surf. Sci. 1995, 329, 255.
19. Sautet, P.; Joachim, C. Chem. Phys. Lett. 1991, 185, 23; Surf. Sci. 1991, 271, 387. Sautet, P.; Bocquet, M. L. Surf. Sci. 1994, 304, L445.
20. Sautet, P.; Joachim, C. Chem. Phys. Lett. 1991, 185, 23; Surf. Sci. 1991, 271, 387. Sautet, P.; Bocquet, M. L. Surf. Sci. 1994, 304, L445.
21. Sautet, P.; Joachim, C. Chem. Phys. Lett. 1991, 185, 23; Surf. Sci. 1991, 271, 387. Sautet, P.; Bocquet, M. L. Surf. Sci. 1994, 304, L445.
22. Fisher, A. J.; Blöchl, P. E. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 3263.
23. Yang, H. O.; Marcus, R. A.; Källebring, B. J. Chem. Phys. 1994, 100, 7814.
24. Landau, L. D.; Lifshits, E. M. Quantum Mechanics; Pergamon Press: New York, 1977.
25. Hehre, W. J.; Stewart, R. F.; Pople, J. A. J. Chem. Phys. 1969, 51, 2657.
26. Koryta, J.; Dvorak, J.; Kavan, L. Principles of Electrochemistry, John Wiley & Sons Ltd.: New York, 1993.
27. Marcus, R. A. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1996, 92, 3905.
28. Landolt-Börnstein. Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology New Series; Springer-Verlag: Berlin, 1984; Group III, Vol. 13c. Charlier, J. C.; Gonze, X.; Michenaud, J. P. Phys. Rev. B 1991, 43, 4579.
29. Landolt-Börnstein. Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology New Series; Springer-Verlag: Berlin, 1984; Group III, Vol. 13c. Charlier, J. C.; Gonze, X.; Michenaud, J. P. Phys. Rev. B 1991, 43, 4579.
30. Mayo, S. L.; Olafson, B. D.; Goddard, W. A., III J. Phys. Chem. 1990, 94, 8897.
31. Rappé, A. K.; Goddard, W. A., III J. Phys. Chem. 1991, 95, 3358.
32. Morishige, K.; Takami, Y.; Yokota, Y. Phys. Rev. B 1993, 48, 8277.
33. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Wong, M. W.; Foresman, J. B.; Robb, M. A.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Gomperts, R.; Andres, J. L.; Raghavachari, K.; Binkley, J. S.; Gonzalez, C.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Defrees, D. J.; Baker, J.; Stewart, J. J. P.; Pople, J. A. Gaussian 92/DFT, Revision F.4; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1993. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Keith, T.; Petersson, G. A.; Montgomery, J. A.; Raghavachari, K.; Al- Laham, M. A.; Zakrzewski, V. G.; Ortiz, J. V.; Foresman, J. B.; Peng, C. Y.; Ayala, P. Y.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Replogle, E. S.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Binkley, J. S.; Defrees, D. J.; Baker, J.; Stewart, J. P.; Head-Gordon, M.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 94, Revision B.3; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1995.
34. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Wong, M. W.; Foresman, J. B.; Robb, M. A.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Gomperts, R.; Andres, J. L.; Raghavachari, K.; Binkley, J. S.; Gonzalez, C.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Defrees, D. J.; Baker, J.; Stewart, J. J. P.; Pople, J. A. Gaussian 92/DFT, Revision F.4; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1993. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Keith, T.; Petersson, G. A.; Montgomery, J. A.; Raghavachari, K.; Al- Laham, M. A.; Zakrzewski, V. G.; Ortiz, J. V.; Foresman, J. B.; Peng, C. Y.; Ayala, P. Y.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Replogle, E. S.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Binkley, J. S.; Defrees, D. J.; Baker, J.; Stewart, J. P.; Head-Gordon, M.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 94, Revision B.3; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1995.
35. Pairler, G. E.; Pylant, E. O. Science 1996, 272, 1145.
36. Lias, S. G.; Levin, R. D. Ionization Potential and Appearence Potential Measurements, 1971-1981; U.S. Department of Commerce/ National Bureau of Standards: Washington, DC, 1982.