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Volumn 57, Issue 1, 1998, Pages 170-177

Formation and annihilation of a bond defect in silicon: An ab initio quantum-mechanical characterization

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EID: 0000671373     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.170     Document Type: Article
Times cited : (76)

References (22)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.