메뉴 건너뛰기




Volumn 77, Issue 22, 2000, Pages 3544-3546

Nondestructive detection of stacking faults for optimization of CdSe/ZnSe quantum-dot structures

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0000018786     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1328760     Document Type: Article
Times cited : (15)

References (12)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.