π-stacking in charged thiophene oligomers

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 108, Issue 46, 2004, Pages 17791-17795

  Scherlis, Damián A ^a   Marzari, Nicola ^a  

^a USA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BASIS SET SUPERPOSITION ERROR (BSSE); CLOSED-SHELL SYSTEMS; COMPUTATIONAL COSTS; DENSITY FUNCTIONAL CALCULATIONS;

COMPUTATIONAL METHODS; ELECTROMAGNETIC WAVE POLARIZATION; HAMILTONIANS; LIGHT EMITTING DIODES; MATHEMATICAL MODELS; ORGANIC SOLVENTS; PROBABILITY DENSITY FUNCTION; STACKING FAULTS;

OLIGOMERS;

EID: 9944258088     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0477598     Document Type: Article

References (41)

1. (a) Hill, M O.; Mann, K. R.; Miller, L. L.; Penneau, J. F.; Zinger, B. Chem. Mater. 1992, 4, 1106.
2. (b) Yu, Y.; Gunic, E.; Zinger, B.; Miller, L. L. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1013.
3. (c) Miller, L. L.; Mann, K. R. Acc. Chem. Res. 1996, 29, 417.
4. (d) Graf, D. D.; Ruan, R. G.; Campbell, J. P.; Miller, L. L.; Mann, K. R. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 5888.
5. (e) Levillain, E.; Roncali, J. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 8760.
6. (f) Brédas, J.-L.; Calbert, J. P.; da Silva Filho, D. A.; Cornil, J. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2002, 99, 5804.
7. (a) Gross, M.; Müller, D. C.; Nothofer, H.; Scherf, U.; Neher, D.; Bräuchle, C.; Meerholz, K. Nature 2000, 405, 661.
8. (b) Pappenfus, T. M.; Chesterfield, R. J.; Frisbie, C. D.; Mann, K. R.; Casado, J.; Raff, J. D.; Miller, L. L. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 4184.
9. (c) Yu, H.; Xu, B.; Swager, T. M. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 1142.
10. (a) Spach, G.; Monteiro, H.; Levy, M.; Szwarc, M. Trans. Faraday Soc. 1962, 58, 1809.
11. (b) Boyd, R. H.; Phillips, W. D. J. Chem. Phys. 1965, 43, 2927.
12. (c) Howarth, O. W.; Fraenkel, G. K. J. Am. Chem. Soc. 1966, 88, 4514.
13. (d) Kimura, K.; Yamada, H.; Tsubomura, H. J. Chem. Phys. 1968, 48, 440.
14. (e) Chang, R. J. Phys. Chem. 1970, 74, 2029.
15. (f) Gundel, D.; Sixl, H.; Metzger, R. M.; Heimer, N. E.; Harms, R. H.; Keller, H. J.; Nöthe, D.; Wehe, D. J. Chem. Phys. 1983, 79, 3678.
16. (g) Soos, Z. G.; Klein, D. G. J. Chem. Phys. 1971, 55, 3284.
17. (h) Lowe, J. P. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 1262.
18. (i) Soos, Z. G.; Ducasse, L. R.; Metzger, R. M. J. Chem. Phys. 1982, 77, 3036.
19. (a) Lü, J-M.; Rosokha, S. V.; Kochi, J. K. J. Am. Chem. Soc. 2003, 725, 12161.
20. (b) Del Sesto, R. E.; Miller, J. S.; Lafuente, P.; Novoa, J. Chem. Eur. J. 2002, 8, 4894.
21. Tsuzuki, S.; Honda, K.; Azumi, R. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 12200.
22. Brocks, G. J. Chem. Phys. 2000, 112, 5353.
23. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A., Jr.; Stratmann, R. E.; Burant, J. C.; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C.; Adamo, C.; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Gonzalez, C.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A. Gaussian 98, Revision A. 11.4; Gaussian, Inc.; Pittsburgh, PA, 1998.
24. Boys, S. F.; Bernardi, F. Mol. Phys. 1970, 19, 553.
25. The coefficient 0.25 accompanying the basis indicates the exponent of the polarization orbitals for the heavy atoms, instead of the standard 0.8 value. The smaller exponent provides more diffuse Gaussians that improve the estimation of long-range interactions.
26. Vosko, S. H.; Wilk, L.; Nusair, M. Can. J. Phys. 1980, 58, 1200.
27. (a) Perdew, J. P.; Burke, K.; Wang, Y. Phys. Rev. B 1996, 54, 16533.
28. (b) Burke, K.; Perdew, J. P.; Wang, Y. In Electronic Density Functional Theory: Recent Progress and New Directions; Dobson, J. F., Vignale, G., Das, M. P., Eds.; Plenum; New York, 1998.
29. (a) Becke, A. D. Phys. Rev. A 1988, 38, 3098.
30. (b) Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1988, 37, 785.
31. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648.
32. Adamo, C.; Barone, V. J. Chem. Phys. 1998, 108, 664.
33. Godbout, N.; Salahub, D. R.; Andzelm, J.; Wimmer, E. Can. J. Phys. 1992, 70, 560.
34. Foresman, J. B.; Keith, T. A.; Wiberg, K. B.; Snoonian, J.; Frisch, M. J. J. Phys. Chem. 1996, 100, 16098.
35. Gonzalez, C.: Lim, E. C. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 2953.
36. (a) Lee, N. K.; Park, S.; Kim, S. K. J. Chem. Phys. 2002, 116, 7902.
37. (b) Lee, N. K.; Park, S.; Kim, S. K. J. Chem. Phys. 2002, 116, 7910.
38. (a) Hobza, P.; Selzle, H. L.; Schlag, E. W. J. Phys. Chem. 1996, 100, 18790.
39. (b) Sponer, J.; Hobza, P. Chem. Phys. Lett. 1997, 267, 263.
40. (a) Hapiot, P.; Audebert, P.; Monnier, K.; Pernaut, J.-M.; Garcia, P. Chem. Mater. 1994, 6, 1549.
41. (b) Apperloo, J. J.; Janssen, R. A. J. Synth. Met. 1999, 101, 373.