Thickness dependence of the mechanical properties of free-standing graphene oxide papers

Advanced Functional Materials

Volumn 25, Issue 24, 2015, Pages 3756-3763

  Gong, Tao ^a   Lam, Do Van ^b,c   Liu, Renlong ^d   Won, Sejeong ^e   Hwangbo, Yun ^c   Kwon, Sanghyuk ^d   Kim, Jinseon ^d   Sun, Ke ^a   Kim, Jae Hyun ^c   Lee, Seung Mo ^b,c   Lee, Changgu ^a,d  

^a Sungkyunkwan University   (South Korea)

^b University of Science and Technology (UST)   (South Korea)

^c Korea Institute of Machine and Materials   (South Korea)

^d Sungkyunkwan University   (South Korea)

^e Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

Author keywords

graphene oxide paper; microstructures; roughness; structure property relationships; surfaces; thin films

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELASTIC MODULI; FRACTURE TOUGHNESS; GRAPHENE; MECHANICAL PROPERTIES; MICROSTRUCTURE; OXIDE FILMS; PAPER; STRAIN; STRUCTURAL PROPERTIES; SURFACE DEFECTS; SURFACE ROUGHNESS; SURFACES; TENSILE TESTING; THIN FILMS; TOUGHNESS;

FABRICATION PROCESS; GRAPHENE OXIDE PAPERS; HIGH SPECIFIC STRENGTH; MECHANICAL STRUCTURES; MODERN TECHNOLOGIES; STRUCTURE PROPERTY RELATIONSHIPS; THICKNESS DEPENDENCE; TRANSMISSION ELECTRON;

FRACTURE;

EID: 85027925158     PISSN: 1616301X     EISSN: 16163028     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adfm.201500998     Document Type: Article

References (37)

1. K. P. Loh, Q. Bao, G. Eda, M. Chhowalla, Nat. Chem. 2010, 2, 1015.
2. D. A. Dikin, S. Stankovich, E. J. Zimney, R. D. Piner, G. H. B. Dommett, G. Evmenenko, S. T. Nguyen, R. S. Ruoff, Nature 2007, 448, 457.
3. K. Yang, J. Wan, S. Zhang, B. Tian, Y. Zhang, Z. Liu, Biomaterials 2012, 33, 2206.
4. H. Li, Z. Song, X. Zhang, Y. Huang, S. Li, Y. Mao, H. J. Ploehn, Y. Bao, M. Yu, Science 2013, 342, 95.
5. R. K. Joshi, P. Carbone, F. C. Wang, V. G. Kravets, Y. Su, I. V. Grigorieva, H. A. Wu, A. K. Geim, R. R. Nair, Science 2014, 343, 752.
6. D. V. Lam, T. Gong, S. Won, J. H. Kim, H. Lee, C. Lee, S. M. Lee, Chem. Commun. 2015, 51, 2671.
7. R. T. Yang, Carbon 2000, 38, 623.
8. L. Schlapbach, A. Züttel, Nature 2001, 414, 353.
9. G. Eda, G. Fanchini, M. Chhowalla, Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 270.
10. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J. H. Ahn, P. Kim, J. Y. Choi, B. H. Hong, Nature 2009, 457, 706.
11. Z. Wei, D. Wang, S. Kim, S. Y. Kim, Y. Hu, M. K. Yakes, A. R. Laracuente, Z. Dai, S. R. Marder, C. Berger, Science 2010, 328, 1373.
12. S. Pei, J. Zhao, J. Du, W. Ren, H. M. Cheng, Carbon 2010, 48, 4466.
13. S. Stankovich, D. A. Dikin, G. H. B. Dommett, K. M. Kohlhaas, E. J. Zimney, E. A. Stach, R. D. Piner, S. T. Nguyen, R. S. Ruoff, Nature 2006, 442, 282.
14. H. Qin, T. Gong, Y. Cho, C. Lee, T. Kim, Polym. Chem. 2014, 5, 4466.
15. O. C. Compton, D. A. Dikin, K. W. Putz, L. C. Brinson, S. T. Nguyen, Adv. Mater. 2010, 22, 892.
16. Y. Wang, Z. Li, D. Hu, C. T. Lin, J. Li, Y. Lin, J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 9274.
17. X. Sun, Z. Liu, K. Welsher, J. T. Robinson, A. Goodwin, S. Zaric, H. Dai, Nano Res. 2008, 1, 203.
18. S. H. Kang, T. H. Fang, Z. H. Hong, C. H. Chuang, Diamond Related Mater. 2013, 38, 73.
19. S. Park, K. S. Lee, G. Bozoklu, W. Cai, S. T. Nguyen, R. S. Ruoff, ACS Nano 2008, 2, 572.
20. J. T. Robinson, M. Zalalutdinov, J. W. Baldwin, E. S. Snow, Z. Wei, P. Sheehan, B. H. Houston, Nano Lett. 2008, 8, 3441.
21. D. S. Dugdale, J. Mech. Phys. Solids 1960, 8, 100.
22. T. Haga, J. Mater. Process. Technol. 2002, 130, 558.
23. Y. Saito, H. Utsunomiya, N. Tsuji, T. Sakai, Acta Mater. 1999, 47, 579.
24. J. R. Davis, Tensile Testing, 2nd ed., ASM International, Materials Park, OH 2004, p 112.
25. Y. Xiang, X. Chen, J. J. Vlassak, J. Mater. Res. 2005, 20, 2360.
26. O. L. Blakslee, D. G. Proctor, E. J. Seldin, G. B. Spence, T. Weng, J. Appl. Phys. 1970, 41, 3373.
27. A. A. Griffith, Philos. Trans. R. Soc. London A 1921, 221, 163.
28. J. M. Torres, N. Bakken, C. M. Stafford, J. Li, B. D. Vogt, Soft Matter 2010, 6, 5783.
29. A. I. Fedorchenko, A. B. Wang, H. H. Cheng, Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 152111.
30. A. Mathur, J. Erlebacher, Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 061910.
31. K. B. Gavan, H. J. R. Westra, E. W. J. M. van der Drift, W. J. Venstra, H. S. J. van der Zant, Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 233108.
32. R. M. Spriggs, J. Am. Ceram. Soc. 1961, 44, 628.
33. W. Duckworth, J. Am. Ceram. Soc. 1953, 36, 68.
34. D. Schneider, T. Schwarz, B. Schultrich, Thin Soild Films 1992, 219, 92.
35. A. J. Nolte, M. F. Rubner, R. E. Cohen, Macromolecules 2005, 38, 5367.
36. Y. W. Mo, D. E. Savage, B. S. Swartzentruber, M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 1990, 65, 1020.
37. Y. H. Xie, G. H. Gilmer, C. Roland, P. J. Silverman, S. K. Buratto, J. Y. Cheng, E. A. Fitzgerald, A. R. Kortan, S. Schuppler, M. A. Marcus, Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 3006.