Enhanced dielectric properties of BaTiO3 nanocube assembled film in metal-insulator-metal capacitor structure

Applied Physics Express

Volumn 7, Issue 6, 2014, Pages

  Mimura, Ken Ichi ^a   Kato, Kazumi ^a  

^a NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY AIST   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BARIUM COMPOUNDS; CAPACITORS; METAL INSULATOR BOUNDARIES; MIM DEVICES; SINTERING;

DIP-COATING PROCESS; HIGH DIELECTRIC CONSTANTS; LATTICE STRAIN; LOSS TANGENT; METAL INSULATOR METAL CAPACITOR (MIM); NANOCUBES; ORDERED STRUCTURES; THICKNESS VARIATION;

DIELECTRIC PROPERTIES;

EID: 84904677841     PISSN: 18820778     EISSN: 18820786     Source Type: Journal    
DOI: 10.7567/APEX.7.061501     Document Type: Article

References (33)

1. S. Sun, C. B. Murray, D. Weller, L. Folks, and A. Moser, Science 287, 1989 (2000).
2. F. Dang, K. Kato, H. Imai, S. Wada, H. Haneda, and M. Kuwabara, Cryst. Growth Des. 10, 4537 (2010).
3. T. Hoshina, S. Wada, Y. Kuroiwa, and T. Tsurumi, Appl. Phys. Lett. 93, 192914 (2008).
4. M. B. Smith, K. Page, T. Siegrist, P. L. Redmond, E. C. Walter, R. Seshadri, L. E. Brus, and M. L. Steigerwald, J. Am. Chem. Soc. 130, 6955 (2008).
5. S. Adireddy, C. Lin, B. Cao, W. Zhou, and G. Caruntu, Chem. Mater. 22,1946 (2010).
6. F. Dang, K. Mimura, K. Kato, H. Imai, S. Wada, H. Haneda, and M. Kuwabara, Nanoscale 4, 1344 (2012).
7. K. Fujinami, K. Katagiri, J. Kamiya, T. Hamanaka, and K. Koumoto, Nanoscale 2, 2080 (2010).
8. M. J. Polking, M. G. Han, A. Yourdkhani, V. Petkov, C. F. Kisielowski, V. V. Volkov, Y. Zhu, G. Caruntu, A. P. Alivisatos, and R. Ramesh, Nat. Mater. 11, 700 (2012).
9. K. Mimura, F. Dang, K. Kato, H. Imai, S. Wada, H. Haneda, and M. Kuwabara, Jpn. J. Appl. Phys. 50, 09NC09 (2011).
10. V. F. Puntes, K. M. Krishnan, and A. P. Alivisatos, Science 291, 2115 (2001).
11. W. W. Yu, Y. A. Wang, and X. Peng, Chem. Mater. 15, 4300 (2003).
12. M. Li, H. Schnablegger, and S. Mann, Nature 402, 393 (1999).
13. E. V. Shevchenko, D. V. Talapin, A. L. Rogach, A. Kornowski, M. Haase, and H. Weller, J. Am. Chem. Soc. 124, 11480 (2002).
14. M. Grzelczak, J. Vermant, E. M. Furst, and L. M. Liz-Marzán, ACS Nano 4, 3591 (2010).
15. T. P. Bigioni, X.-M. Lin, T. T. Nguyen, E. I. Corwin, T. A. Witten, and H. M. Jaeger, Nat. Mater. 5, 265 (2006).
16. F. Li, D. P. Josephson, and A. Stein, Angew. Chem., Int. Ed. 50, 360 (2011).
17. K. Mimura, F. Dang, K. Kato, H. Imai, S. Wada, H. Haneda, and M. Kuwabara, J. Nanosci. Nanotechnol. 12, 3853 (2012).
18. K. Mimura, K. Kato, H. Imai, S. Wada, H. Haneda, and M. Kuwabara, Jpn. J. Appl. Phys. 51, 09LC03 (2012).
19. K. Mimura, K. Kato, H. Imai, S. Wada, H. Haneda, and M. Kuwabara, Appl. Phys. Lett. 101, 012901 (2012).
20. K. Mimura and K. Kato, Jpn. J. Appl. Phys. 52, 09KC06 (2013).
21. K. Mimura and K. Kato, J. Nanopart. Res. 15, 1995 (2013).
22. C. R. Cho, S. I. Kwun, T. W. Noh, and M. S. Jang, Jpn. J. Appl. Phys. 36, 2196 (1997).
23. K. Tanaka, K. Suzuki, and K. Kato, Jpn. J. Appl. Phys. 47, 7480 (2008).
24. K. Kato, K. Tanaka, K. Suzuki, and S. Kayukawa, Appl. Phys. Lett. 91, 172907 (2007).
25. M. N. Kamalasanan, N. D. Kumar, and S. Chandra, J. Appl. Phys. 74, 5679 (1993).
26. M. Zgonik, P. Bernasconi, M. Duelli, R. Schlesser, P. Gunter, M. H. Garrett, D. Rytz, Y. Zhu, and X. Wu, Phys. Rev. B 50, 5941 (1994).
27. T. Teranishi, T. Hoshina, and T. Tsurumi, Mater. Sci. Eng. B 161, 55 (2009).
28. F. Nakasone, K. Kobayashi, T. Suzuki, Y. Mizuno, H. Chazono, and H. Imai, Jpn. J. Appl. Phys. 47, 8518 (2008).
29. S. Hoffmann and R. Waser, J. Eur. Ceram. Soc. 19, 1339 (1999).
30. R. W. Schwartz, P. G. Clem, J. A. Voigt, E. R. Byhoff, M. V. Stry, T. J. Headley, and N. A. Missert, J. Am. Ceram. Soc. 82, 2359 (1999).
31. H. Funakubo, T. Hioki, M. Otsu, K. Shinozaki, and N. Mizutani, Jpn. J. Appl. Phys. 32, 4175 (1993).
32. T. Hayashi, N. Oji, and H. Maiwa, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 5277 (1994).
33. Z. Zhao, V. Buscaglia, M. Viviani, M. T. Buscaglia, L. Mitoseriu, A. Testino, M. Nygren, M. Johnsson, and P. Nanni, Phys. Rev. B 70, 024107 (2004).