Optical and structural characterization of oleic acid-stabilized CdTe nanocrystals for solution thin film processing

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 5, Issue 1, 2014, Pages 881-886

  Gutiérrez Lazos, Claudio Davet ^a   Ortega López, Mauricio ^b   Pérez Guzmán, Manuel A ^b   Espinoza Rivas, A Mauricio ^b   Solís Pomar, Francisco ^a   Ortega Amaya, Rebeca ^b   Silva Vidaurri, L Gerardo ^a   Castro Peña, Virginia C ^a   Pérez Tijerina, Eduardo ^a  

^a UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE NUEVO LEÓN   (Mexico)

^b DEPARTAMENTO DE FÍSICA   (Mexico)

Author keywords

Cadmium telluride; Raman spectroscopy; Semiconductor nanocrystals; Transmission electron microscopy; X ray diffraction

Indexed keywords

CADMIUM COMPOUNDS; CHARACTERIZATION; DEPOSITION; DROPS; NANOCRYSTALS; OLEIC ACID; ORGANOMETALLICS; RAMAN SPECTROSCOPY; SUBSTRATES; TELLURIUM COMPOUNDS; THIN FILMS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY DIFFRACTION;

CDTE NANOCRYSTALS; COLLOIDAL DISPERSION; DIFFRACTION ANALYSIS; FACE-CENTERED CUBIC STRUCTURE; SEMICONDUCTOR NANOCRYSTALS; STRUCTURAL CHARACTERIZATION; THIN-FILM PROCESSING; TRIOCTYLPHOSPHINES;

CADMIUM TELLURIDE;

EID: 84904673068     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.5.100     Document Type: Article

References (43)

1. Murray, C. B.; Norris, D. J.; Bawendi, M. G. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 8706-8715. doi:10.1021/ja00072a025
2. Murray, C. B.; Kagan, C. R.; Bawendi, M. G. Annu. Rev. Mater. Sci. 2000, 30, 545-610. doi:10.1146/annurev.matsci.30.1.545
3. Rogach, A. L.; Franzl, T.; Klar, T. A.; Feldmann, J.; Gaponik, N.; Lesnyak, V.; Shavel, A.; Eychmüller, A.; Rakovich, Y. P.; Donegan, J. F. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 14628-14637. doi:10.1021/jp072463y
4. Winter, J. O.; Gomez, N.; Gatzert, S.; Schmidt, C. E.; Korgel, B. A. Colloids Surf., A 2005, 254, 147-157. doi:10.1016/j.colsurfa.2004.11.024
5. Kumar, A.; Singhal, A. Nanotechnology 2007, 18, 475703. doi:10.1088/0957-4484/18/47/475703
6. Castro, S. L.; Bailey, S. G.; Raffaelle, R. P.; Banger, K. K.; Hepp, A. F. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 12429-12435. doi:10.1021/jp049107p
7. Protière, M.; Reiss, P. Small 2007, 3, 399-403. doi:10.1002/smll.200600581
8. Zhong, X.; Feng, Y.; Knoll, W.; Han, M. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13559-13563. doi:10.1021/ja036683a
9. Shavel, A.; Arbiol, J.; Cabot, A. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 4514-4515. doi:10.1021/ja909498c
10. Guo, Q.; Hillhouse, H. W.; Agrawal, R. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 11672-11673. doi:10.1021/ja904981r
11. Talapin, D. V.; Lee, J.-S.; Kovalenko, M. V.; Shevchenko, E. V. Chem. Rev. 2010, 110, 389-458. doi:10.1021/cr900137k
12. Bertoni, C.; Gallardo, D.; Dunn, S.; Gaponik, N.; Eychmüller, A. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 034107. doi:10.1063/1.2433030
13. Mamedova, N. N.; Kotov, N. A.; Rogach, A. L.; Studer, J. Nano Lett. 2001, 1, 281-286. doi:10.1021/nl015519n
14. Lu, W. G.; Fang, J. Y.; Stokes, K. L.; Lin, J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11798-11799. doi:10.1021/ja0469131
15. Tang, J.; Kemp, K. W.; Hoogland, S.; Jeong, K. S.; Liu, H.; Levina, L.; Furukawa, M.; Wang, X.; Debnath, R.; Cha, D.; Chou, K. W.; Fischer, A.; Amassian, A.; Asbury, J. B.; Sargent, E. H. Nat. Mater. 2011, 10, 765-771. doi:10.1038/nmat3118
16. Luque, J. A.; Martí, A.; Nozik, A. J. MRS Bull. 2007, 32, 236-241. doi:10.1557/mrs2007.28
17. Peng, S.; Zhang, S.; Mhaisalkar, S. G.; Ramakrishna, S. Phys. Chem. Chem. Phys. 2012, 14, 8523-8529. doi:10.1039/c2cp40848a
18. Ul Hasan, K.; Nur, O.; Willander, M. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 211104. doi:10.1063/1.4720179
19. Tekin, E.; Smith, P. J.; Hoeppener, S.; van den Berg, A. M. J.; Susha, A. S.; Rogach, A. L.; Feldmann, J.; Schubert, U. S. Adv. Funct. Mater. 2007, 17, 23-28. doi:10.1002/adfm.200600587
20. Chen, L.; Yang, H.; Qiang, Z.; Pang, H.; Sun, L.; Ma, Z.; Pate, R.; Stiff-Roberts, A.; Gao, S.; Xu, J.; Brown, G. J.; Zhou, W. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 083111. doi:10.1063/1.3337095
21. Urban, J. J.; Talapin, D. V.; Shevchenko, E. V.; Murray, C. B. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 3248-3255. doi:10.1021/ja058269b
22. Hasan, S. A.; Kavich, D. W.; Mahajan, S. V.; Dickerson, J. H. Thin Solid Films 2009, 517, 2665-2669. doi:10.1016/j.tsf.2008.10.122
23. Guo, Q.; Kim, S. J.; Kar, M.; Shafarman, W. N.; Birkmire, R. W.; Stach, E. A.; Agrawal, R.; Hillhouse, H. W. Nano Lett. 2008, 8, 2982-2987. doi:10.1021/nl802042g
24. Jasieniak, J.; MacDonald, B. I.; Watkins, S. E.; Mulvaney, P. Nano Lett. 2011, 11, 2856-2864. doi:10.1021/nl201282v
25. Sun, X.; Dai, R.; Chen, J.; Zhou, W.; Wang, T.; Kost, A. R.; Tsung, C. K.; An, Z. Opt. Express 2014, 22, 519-524. doi:10.1364/OE.22.000519
26. de la Presa, P.; Multigner, M.; de la Venta, J.; García, M. A.; Ruiz-González, M. L. J. Appl. Phys. 2006, 100, 123915. doi:10.1063/1.2401314
27. Vasiliev, R. B.; Vinogradov, V. S.; Dorofeev, S. G.; Kozyrev, S. P.; Kucherenko, I. V.; Novikova, N. N. J. Phys.: Conf. Ser. 2007, 92, 012054. doi:10.1088/1742-6596/92/1/012054
28. Dzhagan, V.; Lokteva, I.; Himcinschi, C.; Jin, X.; Kolny-Olesiak, J.; Zahn, D. R. T. Nanoscale Res. Lett. 2011, 6, 79. doi:10.1186/1556-276X-6-79
29. Haram, S. K.; Kshirsagar, A.; Gujarathi, Y. D.; Ingole, P. P.; Nene, O. A.; Markad, G. B.; Nanavati, S. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 6243-6249. doi:10.1021/jp111463f
30. Kolny-Olesiak, J.; Kloper, V.; Osovsky, R.; Sashchiuk, A.; Lifshitz, E. Surf. Sci. 2007, 601, 2667-2670. doi:10.1016/j.susc.2006.12.013
31. Talapin, D. V.; Haubold, S.; Rogach, A. L.; Kornowski, A.; Haase, M.; Weller, H. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 2260-2263. doi:10.1021/jp003177o
32. Santoyo-Salazar, J.; Castellanos-Roman, M. A.; Gómez-Looh, B.; Ihiawakrim, D.; Lefevre, C.; Pourroy, G. J. Scanning Probe Microsc. 2009, 4, 17-23. doi:10.1166/jspm.2009.1003
33. JCPDS, International Centre for Diffraction Data (PDF 70-8041).
34. Rabadanov, M. K.; Verin, I. A.; Ivanov, Y. M.; Simonov, V. I. Kristallografiya 2001, 46, 703-709.
35. Wei, S.; Lu, J.; Yu, W.; Zhang, H.; Qian, Y. Cryst. Growth Des. 2006, 6, 849-853. doi:10.1021/cg049589u
36. Cullity, B. D. Elements of X-ray Diffraction; Addison-Wesley: Reading, MA, USA, 1956; pp 96-102.
37. Arora, A. K.; Rajalakshmi, M.; Ravindran, T. R. In Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology; Nalwa, H. S., Ed.; American Scientific Publishers: Valencia, CA, USA, 2004; Vol. 8, pp 499-512.
38. Hellwege, K. H., Ed. Landolt-Bornstein Numerical Data and Functional Relationships In Science and Technology, New Series, Group III, Vol. 22a and 23a; Springer: Berlin, 1989.
39. Richter, H.; Wang, Z. P.; Ley, L. Solid State Commun. 1981, 39, 625-629. doi:10.1016/0038-1098(81)90337-9
40. Chen, J.-H.; Taib, M.-F.; Chi, K.-M. J. Mater. Chem. 2004, 14, 296-298. doi:10.1039/b311943b
41. Henkes, A. E.; Schaak, R. E. Chem. Mater. 2007, 19, 4235-4242. doi:10.1021/cm071021w
42. Wang, Y.; Zhang, J.; Jia, H.; Li, M.; Zeng, J.; Yang, B.; Zhao, B.; Xu, W.; Lombardi, J. R. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 996-1000. doi:10.1021/jp077467h
43. Huang, Y.; Herron, N. J. Phys. Chem. 1991, 95, 525-532. doi:10.1021/j100155a009