-
1
-
-
7444220645
-
-
K. S. Novoselov A. K. Geim S. V. Morozov D. Jiang Y. Zhang S. V. Dubonos I. V. Grigorieva A. A. Firsov Science 2004 306 666 669
-
(2004)
Science
, vol.306
, pp. 666-669
-
-
Novoselov, K.S.1
Geim, A.K.2
Morozov, S.V.3
Jiang, D.4
Zhang, Y.5
Dubonos, S.V.6
Grigorieva, I.V.7
Firsov, A.A.8
-
6
-
-
45349092986
-
-
R. R. Nair P. Blake A. N. Grigorenko K. S. Novoselov T. J. Booth T. Stauber N. M. R. Peres A. K. Geim Science 2008 320 1308
-
(2008)
Science
, vol.320
, pp. 1308
-
-
Nair, R.R.1
Blake, P.2
Grigorenko, A.N.3
Novoselov, K.S.4
Booth, T.J.5
Stauber, T.6
Peres, N.M.R.7
Geim, A.K.8
-
7
-
-
59649099717
-
-
K. S. Kim Y. Zhao H. Jang S. Y. Lee J. M. Kim K. S. Kim J.-H. Ahn P. Kim J.-Y. Choi B. H. Hong Nature 2009 457 706 710
-
(2009)
Nature
, vol.457
, pp. 706-710
-
-
Kim, K.S.1
Zhao, Y.2
Jang, H.3
Lee, S.Y.4
Kim, J.M.5
Kim, K.S.6
Ahn, J.-H.7
Kim, P.8
Choi, J.-Y.9
Hong, B.H.10
-
8
-
-
77956430820
-
-
S. Bae H. Kim Y. Lee X. Xu J.-S. Park Y. Zheng J. Balakrishnan T. Lei H. R. Kim Y. I. Song Y. J. Kim K. S. Kim B. Ozyilmaz J.-H. Ahn B. H. Hong S. Iijima Nat. Nanotechnol. 2010 5 574 578
-
(2010)
Nat. Nanotechnol.
, vol.5
, pp. 574-578
-
-
Bae, S.1
Kim, H.2
Lee, Y.3
Xu, X.4
Park, J.-S.5
Zheng, Y.6
Balakrishnan, J.7
Lei, T.8
Kim, H.R.9
Song, Y.I.10
Kim, Y.J.11
Kim, K.S.12
Ozyilmaz, B.13
Ahn, J.-H.14
Hong, B.H.15
Iijima, S.16
-
12
-
-
80052806168
-
-
S. Chen W. Cai R. D. Piner J. W. Suk Y. Wu Y. Ren J. Kang R. S. Ruoff Nano Lett. 2011 11 3519 3525
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 3519-3525
-
-
Chen, S.1
Cai, W.2
Piner, R.D.3
Suk, J.W.4
Wu, Y.5
Ren, Y.6
Kang, J.7
Ruoff, R.S.8
-
13
-
-
84859153077
-
-
B. Zhang W. H. Lee R. Piner I. Kholmanov Y. Wu H. Li H. Ji R. S Ruoff ACS Nano 2012 6 2471 2476
-
(2012)
ACS Nano
, vol.6
, pp. 2471-2476
-
-
Zhang, B.1
Lee, W.H.2
Piner, R.3
Kholmanov, I.4
Wu, Y.5
Li, H.6
Ji, H.7
Ruoff, R.S.8
-
14
-
-
79955398484
-
-
Z. Li P. Wu C. Wang X. Fan W. Zhang X. Zhai C. Zeng Z. Li J. Yang J. Hou ACS Nano 2011 5 3385 3390
-
(2011)
ACS Nano
, vol.5
, pp. 3385-3390
-
-
Li, Z.1
Wu, P.2
Wang, C.3
Fan, X.4
Zhang, W.5
Zhai, X.6
Zeng, C.7
Li, Z.8
Yang, J.9
Hou, J.10
-
25
-
-
84862815488
-
-
H.-A.-S. Shin B.-J. Kim J.-H. Kim S.-H. Hwang A. S. Budiman H.-Y. Son K.-Y. Byun N. Tamura M. Kunz D.-I. Kim Y.-C. Joo J. Electron. Mater. 2012 41 712 719
-
(2012)
J. Electron. Mater.
, vol.41
, pp. 712-719
-
-
Shin, H.-A.-S.1
Kim, B.-J.2
Kim, J.-H.3
Hwang, S.-H.4
Budiman, A.S.5
Son, H.-Y.6
Byun, K.-Y.7
Tamura, N.8
Kunz, M.9
Kim, D.-I.10
Joo, Y.-C.11
-
26
-
-
84892756718
-
-
Stress-Induced Phenomena in Metallization: 11th International Workshop 2010
-
D. Xu, H.-P. Chen and K. N. Tu, Stress-Induced Phenomena in Metallization: 11th International Workshop 2010
-
-
-
Xu, D.1
Chen, H.-P.2
Tu, K.N.3
|