The molecular pathway to ZIF-7 microrods revealed by in situ time-resolved small- and wide-angle x-ray scattering, quick-scanning extended X-ray absorption spectroscopy, and DFT calculations

Chemistry - A European Journal

Volumn 19, Issue 24, 2013, Pages 7809-7816

  Goesten, Maarten ^a   Stavitski, Eli ^b   Pidko, Evgeny A ^c   Gücüyener, Canan ^a   Boshuizen, Bart ^a   Ehrlich, Steven N ^d   Hensen, Emiel J M ^c   Kapteijn, Freek ^a   Gascon, Jorge ^a  

^a DELFT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

^b CANADIAN LIGHT SOURCE INC   (Canada)

^c EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

^d BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

crystal engineering; density functional calculations; metal organic frameworks; self assembly; X ray absorption spectroscopy

Indexed keywords

CHEMICAL FUNCTIONS; DFT CALCULATION; EXTENDED X-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURES; EXTENDED X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPIES; METAL ORGANIC FRAMEWORK; MOLECULAR PATHWAYS; SMALL- AND WIDE-ANGLE X-RAY SCATTERINGS; TIME-RESOLVED;

CRYSTAL ENGINEERING; CRYSTAL GROWTH; CRYSTALLINE MATERIALS; SELF ASSEMBLY; X RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY;

DENSITY FUNCTIONAL THEORY;

EID: 84878591281     PISSN: 09476539     EISSN: 15213765     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/chem.201204638     Document Type: Article

References (49)

1. J. Juan-Alcañiz, J. Gascon, F. Kapteijn, J. Mater. Chem. 2012, 22, 10102.
2. O. M. Yaghi, M. O'keeffe, N. Ockwig, H. Chae, M. Eddaoudi, J. Kim, Nature 2003, 423, 705-714.
3. G. Férey, J. Solid State Chem. 2000, 152, 37-48.
4. G. Férey, Chem. Soc. Rev. 2008, 37, 191-214.
5. L. M. Liz-Marzán, Langmuir 2006, 22, 32-41.
6. G. Q. Ding, W. Z. Shen, M. J. Zheng, W. L. Xu, Y. L. He, Q. X. Guo, J. Cryst. Growth 2005, 283, 339-345.
7. A. Quintanilla, M. Valvo, U. Lafont, E. M. Kelder, M. T. Kreutzer, F. Kapteijn, Chem. Mater. 2010, 22, 1656-1663.
8. E. V. Ramos-Fernandez, C. Pieters, B. van der Linden, J. Juan-Alcañiz, P. Serra-Crespo, M. W. G. M. Verhoeven, H. Niemantsverdriet, J. Gascon, F. Kapteijn, J. Catal. 2012, 289, 42-52.
9. S. H. Jhung, J.-H. Lee, J. W. Yoon, C. Serre, G. Ferey, J.-S. Chang, Adv. Mater. 2007, 19, 121.
10. A. Martinez Joaristi, J. Juan-Alcañiz, P. Serra-Crespo, F. Kapteijn, J. Gascon, Cryst. Growth Des. 2012, 12, 3489-3498.
11. R. Ameloot, F. Vermoortele, W. Vanhove, M. B. J. Roeffaers, B. F. Sels, D. E. De Vos, Nat. Chem. 2011, 3, 382-387.
12. T. Tsuruoka, S. Furukawa, Y. Takashima, K. Yoshida, S. Isoda, S. Kitagawa, Angew. Chem. 2009, 121, 4833-4837
13. Angew. Chem. Int. Ed. 2009, 48, 4739-4743.
14. S. Diring, S. Furukawa, Y. Takashima, T. Tsuruoka, S. Kitagawa, Chem. Mater. 2010, 22, 4531-4538.
15. A. Schaate, P. Roy, A. Godt, J. Lippke, F. Waltz, M. Wiebcke, P. Behrens, Chem. Eur. J. 2011, 17, 6643-6651.
16. A. Umemura, S. Diring, S. Furukawa, H. Uehara, T. Tsuruoka, S. Kitagawa, J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 15506-15513.
17. Y.-S. Li, H. Bux, A. Feldhoff, G.-L. Li, W.-S. Yang, J. Caro, Adv. Mater. 2010, 22, 3322-3326.
18. N. Pienack, W. Bensch, Angew. Chem. 2011, 123, 2062-2083
19. Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 2014-2034.
20. A. Aerts, C. E. A. Kirschhock, J. A. Martens, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4626.
21. N. Stock, S. Biswas, Chem. Rev. 2012, 112, 933-969.
22. S. Surblé, F. Millange, C. Serre, G. Ferey, R. I. Walton, Chem. Commun. 2006, 1518-1520.
23. M. Shoaee, M. W. Anderson, M. P. Attfield, Angew. Chem. 2008, 120, 8653-8656
24. Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 8525-8528.
25. S. Hermes, T. Witte, T. Hikov, D. Zacher, J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 5324-5325.
26. P. Y. Moh, P. Cubillas, M. W. Anderson, M. P. Attfield, J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 13304-13307.
27. F. Millange, M. I. Medina, N. Guillou, G. Ferey, K. M. Golden, R. I. Walton, Angew. Chem. 2010, 122, 775-778
28. Angew. Chem. Int. Ed. 2010, 49, 763-766.
29. F. Millange, R. El Osta, M. I. Medina, R. I. Walton, CrystEngComm 2011, 13, 103.
30. T. Ahnfeldt, J. Moellmer, V. Guillerm, R. Staudt, C. Serre, N. Stock, Chem. Eur. J. 2011, 17, 6462-6468.
31. E. Stavitski, M. G. Goesten, J. Juan-Alcañiz, A. Martinez-Joaristi, P. Serra-Crespo, A. V. Petukhov, J. Gascon, F. Kapteijn, Angew. Chem. 2011, 123, 9798-9802
32. Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 9624-9628.
33. J. Juan-Alcañiz, M. G. Goesten, A. Martinez-Joaristi, E. Stavitski, A. V. Petukhov, J. Gascon, F. Kapteijn, Chem. Commun. 2011, 47, 8578-8580.
34. M. G. Goesten, E. Stavitski, J. Juan-Alcañiz, A. Martinez-Joaristi, A. V. Petukhov, F. Kapteijn, J. Gascon, Catal Today, 2013, 205, 120-127.
35. C. Gücüyener, J. Van Den Bergh, J. Gascon, F. Kapteijn, J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 17704-17706.
36. J. van den Bergh, C. Gücüyener, E. A. Pidko, E. J. M. Hensen, J. Gascon, F. Kapteijn, Chem. Eur. J. 2011, 17, 8832-8840.
37. S. Kler, R. Asor, C. Li, A. Ginsburg, D. Harries, A. Oppenheim, A. Zlotnick, U. Raviv, J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 8823-8830.
38. B. L. Caetano, C. V. Santilli, F. Meneau, V. Briois, S. H. Pulcinelli, J. Phys. Chem. C 2012, 116, 4404-4412.
39. O. Glatter, Small Angle X-Ray Scattering (Eds.:, O. Glatter, O. Kratky,), Academic Press, London, 1982.
40. M. Takahashi, H. Tanida, S. Kawauchi, M. Harada, I. Watanabe, J. Synchrotron Radiat. 1999, 11, 278-280.
41. S. J. Borg, W. Liu, Nucl. Instrum. Meth. A 2010, 619, 276- 279.
42. M. C. Feiters, A. P. A. M. Eijkelenboom, H. F. Nolting, B. Krebs, F. M. I. van den Ent, R. H. A. Plasterk, R. Kaptein, R. Boelens, J. Synchrotron Radiat. 2003, 10, 86-95.
43. K. Ozutsumi, M. Koide, H. Suzuki, S. Ishiguro, J. Phys. Chem. 1993, 97, 500-502.
44. H. Suzuki, N. Fukushima, S. Ishiguro, H. Masuda, H. Ohtaki, Acta Crystallogr. Sect. C 1991, 47, 1838-1842.
45. A. Gualtieri, Phys. Chem. Miner. 2001, 28, 719-728.
46. N. S. Marinkovic, Q. Wang, L. Barrio, S. N. Ehrlich, S. Khalid, C. Cooper, A. I. Frenkel, Nucl. Instrum. Meth. A 2011, 649, 204- 206.
47. A. D. Becke, Phys. Rev. A 1988, 38, 3098.
48. Gaussian 09, Revision A.1, M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, G. Scalmani, V. Barone, B. Mennucci, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Caricato, X. Li, H. P. Hratchian, A. F. Izmaylov, J. Bloino, G. Zheng, J. L. Sonnenberg, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, T. Vreven, J. A. Montgomery Jr., J. E. Peralta, F. Ogliaro, M. Bearpark, J. J. Heyd, E. Brothers, K. N. Kudin, V. N. Staroverov, R. Kobayashi, J. Normand, K. Raghavachari, A. Rendell, J. C. Burant, S. S. Iyengar, J. Tomasi, M. Cossi, N. Rega, J. M. Millam, M. Klene, J. E. Knox, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, R. L. Martin, K. Morokuma, V. G. Zakrzewski, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, S. Dapprich, A. D. Daniels, Ö. Farkas, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, J. Cioslowski, D. J. Fox, Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2009.
49. J. Tomasi, B. Mennucci, R. Cammi, Chem. Rev. 2005, 105, 2999-3094.