-
1
-
-
11944268480
-
-
Rinzler, A. G.; Hafner, J. H.; Nikolaev, P.; Lou, L.; Kim, S. G.; Tomanek, D.; Nordlander, P.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E. Science 1995, 269, 1550-1553
-
(1995)
Science
, vol.269
, pp. 1550-1553
-
-
Rinzler, A.G.1
Hafner, J.H.2
Nikolaev, P.3
Lou, L.4
Kim, S.G.5
Tomanek, D.6
Nordlander, P.7
Colbert, D.T.8
Smalley, R.E.9
-
2
-
-
36749002756
-
-
Nemanic, V.; Zumer, M.; Zajec, B. Ultramicroscopy 2008, 108, 69-73
-
(2008)
Ultramicroscopy
, vol.108
, pp. 69-73
-
-
Nemanic, V.1
Zumer, M.2
Zajec, B.3
-
3
-
-
0032670644
-
-
Kobayashi, S.; Saito, Y.; Mizusawa, T.; Shirai, K.; Latham, R. V.; Tajiri, K.; Yamanaka, Y. Appl. Surf. Sci. 1999, 144-45, 118-122
-
(1999)
Appl. Surf. Sci.
, vol.144-145
, pp. 118-122
-
-
Kobayashi, S.1
Saito, Y.2
Mizusawa, T.3
Shirai, K.4
Latham, R.V.5
Tajiri, K.6
Yamanaka, Y.7
-
4
-
-
0017245762
-
-
Spindt, C. A.; Brodie, I.; Humphrey, L.; Westerberg, E. R. J. Appl. Phys. 1976, 47 (12) 5248-5263
-
(1976)
J. Appl. Phys.
, vol.47
, Issue.12
, pp. 5248-5263
-
-
Spindt, C.A.1
Brodie, I.2
Humphrey, L.3
Westerberg, E.R.4
-
5
-
-
27744516921
-
-
Manohara, H. M.; Bronikowski, M. J.; Hoenk, M.; Hunt, B. D.; Siegel, P. H. J. Vac. Sci. Technol. 2005, B 23 (1) 157-161
-
(2005)
J. Vac. Sci. Technol.
, vol.23
, Issue.1
, pp. 157-161
-
-
Manohara, H.M.1
Bronikowski, M.J.2
Hoenk, M.3
Hunt, B.D.4
Siegel, P.H.5
-
6
-
-
46449097744
-
-
Shang, N. G.; Papakonstantinou, P.; McLaughlin, J.; Chen, W. C.; Chen, L. C.; Chu, M.; Stamboulis, A. J. Appl. Phys. 2008, 103, 124308
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.103
, pp. 124308
-
-
Shang, N.G.1
Papakonstantinou, P.2
McLaughlin, J.3
Chen, W.C.4
Chen, L.C.5
Chu, M.6
Stamboulis, A.7
-
7
-
-
1642440288
-
-
Zhang, J. H.; Feng, T.; Yu, W. D.; Liu, X. H.; Wang, X.; Li, Q. Diamond Relat. Mater. 2004, 13, 54-59
-
(2004)
Diamond Relat. Mater.
, vol.13
, pp. 54-59
-
-
Zhang, J.H.1
Feng, T.2
Yu, W.D.3
Liu, X.H.4
Wang, X.5
Li, Q.6
-
8
-
-
0036421270
-
-
Groning, O.; Clergereaux, R.; Nilsson, L. O.; Ruffieux, P.; Groning, P.; Schlapbach, L. Chimia 2002, 56, 553-561
-
(2002)
Chimia
, vol.56
, pp. 553-561
-
-
Groning, O.1
Clergereaux, R.2
Nilsson, L.O.3
Ruffieux, P.4
Groning, P.5
Schlapbach, L.6
-
9
-
-
0037154926
-
-
Wang, Y. H.; Lin, J.; Huan, C. H. A. Thin Solid Films 2002, 405, 243-247
-
(2002)
Thin Solid Films
, vol.405
, pp. 243-247
-
-
Wang, Y.H.1
Lin, J.2
Huan, C.H.A.3
-
10
-
-
7744219652
-
-
Shiffler, D.; Zhou, O.; Bower, C.; LaCour, A.; Golby, K. IEEE Trans. Plasma Sci. 2004, 32, 2152-2154
-
(2004)
IEEE Trans. Plasma Sci.
, vol.32
, pp. 2152-2154
-
-
Shiffler, D.1
Zhou, O.2
Bower, C.3
Lacour, A.4
Golby, K.5
-
11
-
-
58449091554
-
-
Wang, L. Y.; Wang, X. P.; Wang, L. J.; Zhang, L. Chin. Phys. Lett. 2008, 25, 4154-4157
-
(2008)
Chin. Phys. Lett.
, vol.25
, pp. 4154-4157
-
-
Wang, L.Y.1
Wang, X.P.2
Wang, L.J.3
Zhang, L.4
-
12
-
-
33745513489
-
-
Bronikowski, M. J.; Manohara, H. M.; Hunt, B. D. J. Vac. Sci. Technol. 2006, A 24 (4) 1318-1322
-
(2006)
J. Vac. Sci. Technol.
, vol.24
, Issue.4
, pp. 1318-1322
-
-
Bronikowski, M.J.1
Manohara, H.M.2
Hunt, B.D.3
-
13
-
-
33947653252
-
-
Zhang, H. Z.; Zhao, Q.; Yu, J.; Yu, D. P.; Chen, Y. J. Phys. D: Appl. Phys. 2007, 40, 144-147
-
(2007)
J. Phys. D: Appl. Phys.
, vol.40
, pp. 144-147
-
-
Zhang, H.Z.1
Zhao, Q.2
Yu, J.3
Yu, D.P.4
Chen, Y.5
-
14
-
-
33645521591
-
-
Park, K. H.; Lee, S.; Kohb, K. H. J. Appl. Phys. 2006, 99, 034303
-
(2006)
J. Appl. Phys.
, vol.99
, pp. 034303
-
-
Park, K.H.1
Lee, S.2
Kohb, K.H.3
-
15
-
-
0033738437
-
-
Frolov, V. D.; Karabutov, A. V.; Pimenov, S. M.; Konov, V. I. Diamond Relat. Mater. 2000, 9, 1196-1200
-
(2000)
Diamond Relat. Mater.
, vol.9
, pp. 1196-1200
-
-
Frolov, V.D.1
Karabutov, A.V.2
Pimenov, S.M.3
Konov, V.I.4
-
17
-
-
67649373121
-
-
Liu, H.; Kato, S.; Saito, Y. Nanotechnology 2009, 20, 275206
-
(2009)
Nanotechnology
, vol.20
, pp. 275206
-
-
Liu, H.1
Kato, S.2
Saito, Y.3
-
18
-
-
59649089154
-
-
Liu, H.; Kato, S.; Saito, Y. Jpn. J. Appl. Phys. 2009, 48, 015007
-
(2009)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.48
, pp. 015007
-
-
Liu, H.1
Kato, S.2
Saito, Y.3
-
20
-
-
0035765074
-
-
Murata, H.; Shimoyama, H.; Ohye, T. Proc. SPIE 2001, 4510, 156
-
(2001)
Proc. SPIE
, vol.4510
, pp. 156
-
-
Murata, H.1
Shimoyama, H.2
Ohye, T.3
|