Use of optical contrast to estimate the degree of reduction of graphene oxide

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 117, Issue 1, 2013, Pages 620-625

  Perrozzi, Francesco ^a   Prezioso, Stefano ^a   Donarelli, Maurizio ^a   Bisti, Federico ^a   De Marco, Patrizia ^a,b   Santucci, Sandro ^a   Nardone, Michele ^a   Treossi, Emanuele ^c,d   Palermo, Vincenzo ^c   Ottaviano, Luca ^a  

^a UNIVERSITY OF L'AQUILA   (Italy)

^b UNIVERSITY OF MONS   (Belgium)

^c CNR   (Italy)

^d MIST E R Laboratory   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CALIBRATION GRAPHS; DEGREE OF REDUCTION; GRAPHENE OXIDES; MICRO RAMAN SPECTROSCOPY; OPTICAL CONTRAST; REDUCTION DEGREE; VACUUM THERMAL ANNEALING; X RAY PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY;

GRAPHENE; OPTICAL MICROSCOPY; OXIDE FILMS; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; RAMAN SPECTROSCOPY; SILICON;

OPTICAL DATA STORAGE;

EID: 84872371661     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp3069738     Document Type: Article

References (29)

1. Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Piner, R. D.; Kohlhaas, K. A.; Kleinhammes, A.; Jia, Y.; Wu, Y.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Carbon 2007, 45, 1558-1565
2. Gomez-Navarro, C.; Weitz, R. T.; Bittner, A. M.; Scolari, M.; Mews, A.; Burghard, M.; Kern, K. Nano Lett. 2007, 7, 3499-3503
3. Becerril, H. A.; Mao, J.; Liu, Z.; Stoltenberg, R. M.; Bao, Z.; Chen, Y. ACS Nano 2008, 2, 463-470
4. Dikin, D. A.; Stankovich, S.; Zimney, E. J.; Piner, R. D.; Dommett, G. H. B.; Evmenenko, G.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Nature 2007, 448, 457-460
5. Wang, X.; Zhi, L.; Muellen, K. Nano Lett. 2008, 8, 323-327
6. Eda, G.; Fanchini, G.; Chhowalla, M. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 270-274
7. Robinson, J. T.; Perkins, F. K.; Snow, E. S.; Wei, Z.; Sheehan, P. E. Nano Lett. 2008, 8, 3137-3140
8. He, Q.; Sudibya, H. G.; Yin, Z.; Wu, S.; Li, H.; Boey, F.; Huang, W.; Chen, P.; Zhang, H. ACS Nano 2010, 4, 3201-3208
9. Kim, H.; Miura, Y.; Macosko, C. W. Chem. Mater. 2010, 22, 3441-3450
10. Mohanty, N.; Berry, V. Nano Lett. 2008, 8, 4469-4476
11. Lerf, A.; He, H.; Forster, M.; Klinowski, J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 4477-4482
12. Boukhvalov, D. W.; Katsnelson, M. I. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 10697-10701
13. Erickson, K.; Erni, R.; Lee, Z.; Alem, N.; Gannett, W.; Zettl, A. Adv. Mater. 2010, 22, 4467-4472
14. Pacilé, D.; Meyer, J.; Rodríguez, A. F.; Papagno, M.; Gómez-Navarro, C.; Sundaram, R.; Burghard, M.; Kern, K.; Carbone, C.; Kaiser, U. Carbon 2011, 49, 966-972
15. Eda, G.; Chhowalla, M. Adv. Mater. 2010, 22, 2392-2415
16. Mattevi, C.; Eda, G.; Agnoli, S.; Miller, S.; Mkhoyan, K. A.; Celik, O.; Mastrogiovanni, D.; Granozzi, G.; Garfunkel, E.; Chhowalla, M. Adv. Funct. Mater. 2009, 19, 2577-2583
17. Acik, M.; Mattevi, C.; Gong, C.; Lee, G.; Cho, K.; Chhowalla, M.; Chabal, Y. J. ACS Nano 2010, 4, 5861-5868
18. Malard, L.; Pimenta, M.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. Phys. Rep. 2009, 473, 51-87
19. Ferrari, A.; Robertson, J. Phys. Rev. B 2000, 61, 14095-14107
20. Jung, I.; Pelton, M.; Piner, R.; Dikin, D. A.; Stankovich, S.; Watcharotone, S.; Hausner, M.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2007, 7, 3569-3575
21. Hirata, M.; Gotou, T.; Horiuchi, S.; Fujiwara, M.; Ohba, M. Carbon 2004, 42, 2929-2937
22. Abramoff, M. D.; Magelhaes, P. J.; Ram, S. J. Biophoton. Int. 2004, 11, 36-42
23. Eigler, S. Carbon 2009, 47, 2936-2939
24. Treossi, E.; Melucci, M.; Liscio, A.; Gazzano, M.; Samori, P.; Palermo, V. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 15576-15576
25. De Marco, P.; Nardone, M.; Del Vitto, A.; Alessandri, M.; Santucci, S.; Ottaviano, L. Nanotechnology 2010, 21, 255703
26. Jung, I.; Vaupel, M.; Pelton, M.; Piner, R.; Dikin, D. A.; Stankovich, S.; An, J.; Ruoff, R. S. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 8499-8506
27. Paredes, J. I.; Villar-Rodil, S.; Martinez-Alonso, A.; Tascon, J. M. D. Langmuir 2008, 24, 10560-10564
28. Park, S.; Lee, K.-S.; Bozoklu, G.; Cai, W.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. ACS Nano 2008, 2, 572-578
29. Ren, P.-G.; Yan, D.-X.; Ji, X.; Chen, T.; Li, Z.-M. Nanotechnology 2011, 22, 055705