-
2
-
-
77955746216
-
-
Cheng, S.-H.; Zou, K.; Okino, F.; Gutierrez, H. R.; Gupta, A.; Shen, N.; Eklund, P. C.; Sofo, J. O.; Zhu, J. Phys. Rev. B 2010, 81, 205435
-
(2010)
Phys. Rev. B
, vol.81
, pp. 205435
-
-
Cheng, S.-H.1
Zou, K.2
Okino, F.3
Gutierrez, H.R.4
Gupta, A.5
Shen, N.6
Eklund, P.C.7
Sofo, J.O.8
Zhu, J.9
-
3
-
-
0036011217
-
-
Touhara, H.; Inahara, J.; Mizuno, T.; Yokoyama, Y.; Okanao, S.; Yanagiuch, K.; Mukopadhyay, I.; Kawasakia, S.; Okino, F.; Shirai, H.; Xu, W. H.; Kyotani, T.; Tomita, A. J. Fluorine Chem. 2002, 114, 181-188
-
(2002)
J. Fluorine Chem.
, vol.114
, pp. 181-188
-
-
Touhara, H.1
Inahara, J.2
Mizuno, T.3
Yokoyama, Y.4
Okanao, S.5
Yanagiuch, K.6
Mukopadhyay, I.7
Kawasakia, S.8
Okino, F.9
Shirai, H.10
Xu, W.H.11
Kyotani, T.12
Tomita, A.13
-
5
-
-
45149101955
-
-
Hayashi, T.; Shimamoto, D.; Kim, Y. A.; Muramatsu, H.; Okino, F.; Touhara, H. ACS Nano 2008, 2, 485-488
-
(2008)
ACS Nano
, vol.2
, pp. 485-488
-
-
Hayashi, T.1
Shimamoto, D.2
Kim, Y.A.3
Muramatsu, H.4
Okino, F.5
Touhara, H.6
-
7
-
-
78650343662
-
-
Nair, R. R.; Ren, W.; Jalil, R.; Riaz, I.; Kravets, V. G.; Britnell, L.; Blake, P. Small 2010, 6, 2877-2884
-
(2010)
Small
, vol.6
, pp. 2877-2884
-
-
Nair, R.R.1
Ren, W.2
Jalil, R.3
Riaz, I.4
Kravets, V.G.5
Britnell, L.6
Blake, P.7
-
8
-
-
78650122252
-
-
Medeiros, P. V. C.; Mascarenhas, A. J. S.; Mota, F. B.; Castilho, C. M. C. Nanotechnology 2010, 21, 485701
-
(2010)
Nanotechnology
, vol.21
, pp. 485701
-
-
Medeiros, P.V.C.1
Mascarenhas, A.J.S.2
Mota, F.B.3
Castilho, C.M.C.4
-
9
-
-
78650364294
-
-
Zboril, R.; Karlicky, F.; Bourlinos, A. B.; Steriotis, T. A.; Stubos, A. K. Small 2010, 6, 2885-2891
-
(2010)
Small
, vol.6
, pp. 2885-2891
-
-
Zboril, R.1
Karlicky, F.2
Bourlinos, A.B.3
Steriotis, T.A.4
Stubos, A.K.5
-
10
-
-
79953755922
-
-
Samarakoon, D. K.; Chen, Z.; Nicolas, C.; Wang, X. Q. Small 2011, 7, 965-969
-
(2011)
Small
, vol.7
, pp. 965-969
-
-
Samarakoon, D.K.1
Chen, Z.2
Nicolas, C.3
Wang, X.Q.4
-
11
-
-
79961075773
-
-
Sahin, H.; Topsakal, M.; Ciraci, S. Phys. Rev. B 2011, 83, 115432
-
(2011)
Phys. Rev. B
, vol.83
, pp. 115432
-
-
Sahin, H.1
Topsakal, M.2
Ciraci, S.3
-
12
-
-
0012550237
-
-
Hayashi, T.; Terrones, M.; Scheu, C.; Kim, Y. A.; Ruhle, M.; Nakajima, T.; Endo, M. Nano Lett. 2002, 2, 491-496
-
(2002)
Nano Lett.
, vol.2
, pp. 491-496
-
-
Hayashi, T.1
Terrones, M.2
Scheu, C.3
Kim, Y.A.4
Ruhle, M.5
Nakajima, T.6
Endo, M.7
-
13
-
-
80054091475
-
-
Schmidt, S.; Greczynski, G.; Goyenola, C.; Gueorguiev, G. K.; Czigány, Z.; Jensen, J.; Ivanov, I. G.; Hultman, L. Surf. Coat. Technol. 2011, 206, 646-653
-
(2011)
Surf. Coat. Technol.
, vol.206
, pp. 646-653
-
-
Schmidt, S.1
Greczynski, G.2
Goyenola, C.3
Gueorguiev, G.K.4
Czigány, Z.5
Jensen, J.6
Ivanov, I.G.7
Hultman, L.8
-
14
-
-
80255141840
-
-
Gueorguiev, G. K.; Goyenola, C.; Schmidt, S.; Hultman, L. Chem. Phys. Lett. 2011, 516, 62-67
-
(2011)
Chem. Phys. Lett.
, vol.516
, pp. 62-67
-
-
Gueorguiev, G.K.1
Goyenola, C.2
Schmidt, S.3
Hultman, L.4
-
15
-
-
21644441258
-
-
Gueorguiev, G. K.; Neidhardt, J.; Stafström, S.; Hultman, L. Chem. Phys. Lett. 2008, 410, 228-234
-
(2008)
Chem. Phys. Lett.
, vol.410
, pp. 228-234
-
-
Gueorguiev, G.K.1
Neidhardt, J.2
Stafström, S.3
Hultman, L.4
-
16
-
-
56649085108
-
-
Broitman, E.; Gueorguiev, G. K.; Furlan, A.; Son, N. T.; Gellman, A. J.; Stafström, S.; Hultman, L. Thin Solid Films 2008, 517, 1106-1110
-
(2008)
Thin Solid Films
, vol.517
, pp. 1106-1110
-
-
Broitman, E.1
Gueorguiev, G.K.2
Furlan, A.3
Son, N.T.4
Gellman, A.J.5
Stafström, S.6
Hultman, L.7
-
17
-
-
79953183570
-
-
Goyenola, C.; Gueorguiev, G. K.; Stafström, S.; Hultman, L. Chem. Phys. Lett. 2011, 506, 86-91
-
(2011)
Chem. Phys. Lett.
, vol.506
, pp. 86-91
-
-
Goyenola, C.1
Gueorguiev, G.K.2
Stafström, S.3
Hultman, L.4
-
18
-
-
70449625494
-
-
Furlan, A.; Gueorguiev, G. K.; Czigány, Z.; Högberg, H.; Braun, S.; Stafström, S.; Hultman, L. Phys. Status Solidi RRL 2008, 2, 191-193
-
(2008)
Phys. Status Solidi RRL
, vol.2
, pp. 191-193
-
-
Furlan, A.1
Gueorguiev, G.K.2
Czigány, Z.3
Högberg, H.4
Braun, S.5
Stafström, S.6
Hultman, L.7
-
19
-
-
33750474465
-
-
Furlan, A.; Gueorguiev, G. K.; Högberg, H.; Stafström, S.; Hultman, L. Thin Solid Films 2006, 515, 1028-1032
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.515
, pp. 1028-1032
-
-
Furlan, A.1
Gueorguiev, G.K.2
Högberg, H.3
Stafström, S.4
Hultman, L.5
-
21
-
-
33344467531
-
-
Denift, S.; Sonnweber, B.; Mack, J.; Scott, L. T.; Scheier, P.; Becker, K.; Märk, T. D. Int. J. Mass Spectrom. 2006, 249-250, 353-358
-
(2006)
Int. J. Mass Spectrom.
, vol.249-250
, pp. 353-358
-
-
Denift, S.1
Sonnweber, B.2
MacK, J.3
Scott, L.T.4
Scheier, P.5
Becker, K.6
Märk, T.D.7
-
23
-
-
0033198651
-
-
Seiders, T. J.; Elliott, E. L.; Grube, G. H.; Siegel, J. S. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7804-7813
-
(1999)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.121
, pp. 7804-7813
-
-
Seiders, T.J.1
Elliott, E.L.2
Grube, G.H.3
Siegel, J.S.4
-
24
-
-
68049115760
-
-
Steinberg, B. D.; Jackson, E. A.; Filatov, A. S.; Wakamiya, A.; Petrukhina, M. A.; Scott, L. T. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 10537-10545
-
(2009)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.131
, pp. 10537-10545
-
-
Steinberg, B.D.1
Jackson, E.A.2
Filatov, A.S.3
Wakamiya, A.4
Petrukhina, M.A.5
Scott, L.T.6
-
25
-
-
77957578085
-
-
Rivelino, R.; Santos, R. B.; Mota, F. B.; Gueorguiev, G. K. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 16367-16372
-
(2010)
J. Phys. Chem. C
, vol.114
, pp. 16367-16372
-
-
Rivelino, R.1
Santos, R.B.2
Mota, F.B.3
Gueorguiev, G.K.4
-
26
-
-
80052489936
-
-
Santos, R. B.; Rivelino, R.; Mota, F. B.; Gueorguiev, G. K. Phys. Rev. B 2011, 84, 075417
-
(2011)
Phys. Rev. B
, vol.84
, pp. 075417
-
-
Santos, R.B.1
Rivelino, R.2
Mota, F.B.3
Gueorguiev, G.K.4
-
27
-
-
67749129326
-
-
Bauert, T.; Merz, L.; Bandera, D.; Parschau, M.; Siegel, J. S.; Ernst, K.-H. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 3460-3461
-
(2009)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.131
, pp. 3460-3461
-
-
Bauert, T.1
Merz, L.2
Bandera, D.3
Parschau, M.4
Siegel, J.S.5
Ernst, K.-H.6
-
28
-
-
79951544179
-
-
Galué, H. A.; Rice, C. A.; Steill, J. D.; Oomens, J. J. Chem. Phys. 2011, 134, 054310
-
(2011)
J. Chem. Phys.
, vol.134
, pp. 054310
-
-
Galué, H.A.1
Rice, C.A.2
Steill, J.D.3
Oomens, J.4
-
30
-
-
0034809646
-
-
Frash, M. V.; Hopkinson, A. C.; Bohme, D. K. J. Am. Chem.Soc. 2001, 123, 6687-6695
-
(2001)
J. Am. Chem.Soc.
, vol.123
, pp. 6687-6695
-
-
Frash, M.V.1
Hopkinson, A.C.2
Bohme, D.K.3
-
31
-
-
0038626673
-
-
revision D.01; Gaussian Inc. Wallingford CT.
-
Frisch, M. J.; Gaussian 03, revision D.01; Gaussian Inc.: Wallingford CT, 2004.
-
(2004)
Gaussian 03
-
-
Frisch, M.J.1
-
33
-
-
0345491105
-
-
Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1988, 37, 785-789
-
(1988)
Phys. Rev. B
, vol.37
, pp. 785-789
-
-
Lee, C.1
Yang, W.2
Parr, R.G.3
-
34
-
-
81355142110
-
-
Dobrowolski, M. A.; Ciesielski, A.; Cyranski, M. K. Phys. Chem. Chem. Phys. 2011, 13, 20557-20563
-
(2011)
Phys. Chem. Chem. Phys.
, vol.13
, pp. 20557-20563
-
-
Dobrowolski, M.A.1
Ciesielski, A.2
Cyranski, M.K.3
-
35
-
-
82355172856
-
-
Josa, D.; Otero, J. R.; Lago, E. M. C. Chem. Phys. 2011, 13, 21139-21145
-
(2011)
Chem. Phys.
, vol.13
, pp. 21139-21145
-
-
Josa, D.1
Otero, J.R.2
Lago, E.M.C.3
-
36
-
-
10644242783
-
-
Gueorguiev, G. K.; Neidhardt, J.; Stafström, S.; Hultman, L. Chem. Phys. Lett. 2005, 401, 288-295
-
(2005)
Chem. Phys. Lett.
, vol.401
, pp. 288-295
-
-
Gueorguiev, G.K.1
Neidhardt, J.2
Stafström, S.3
Hultman, L.4
-
37
-
-
33750433226
-
-
Gueorguiev, G. K.; Pacheco, J. M.; Stafström, S.; Hultman, L. Thin Solid Films 2006, 515, 1192-1196
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.515
, pp. 1192-1196
-
-
Gueorguiev, G.K.1
Pacheco, J.M.2
Stafström, S.3
Hultman, L.4
-
38
-
-
79953034745
-
-
Carrazana-Gracía, J. A.; Rodrígues-Otero, J.; Cabeiro-Lago, E. M. J. Phys. Chem. B 2011, 115, 2774-2782
-
(2011)
J. Phys. Chem. B
, vol.115
, pp. 2774-2782
-
-
Carrazana-Gracía, J.A.1
Rodrígues-Otero, J.2
Cabeiro-Lago, E.M.3
-
39
-
-
78649755817
-
-
Leenaerts, O.; Peelaers, H.; Hernández-Nieves, A. D.; Partoens, B.; Peeters, F. M. Phys. Rev. B 2010, 82, 195436
-
(2010)
Phys. Rev. B
, vol.82
, pp. 195436
-
-
Leenaerts, O.1
Peelaers, H.2
Hernández-Nieves, A.D.3
Partoens, B.4
Peeters, F.M.5
-
40
-
-
80053593250
-
-
Markevich, A.; Jones, R.; Briddon, P. R. Phys. Rev. B 2011, 84, 115439
-
(2011)
Phys. Rev. B
, vol.84
, pp. 115439
-
-
Markevich, A.1
Jones, R.2
Briddon, P.R.3
-
41
-
-
34247137175
-
-
Sofo, J. O.; Chaudhari, A. S.; Barber, G. D. Phys. Rev. B 2007, 75, 153401
-
(2007)
Phys. Rev. B
, vol.75
, pp. 153401
-
-
Sofo, J.O.1
Chaudhari, A.S.2
Barber, G.D.3
-
42
-
-
84989104535
-
-
Touhara, H.; Kadono, K.; Fujii, Y.; Watanabe, N. Z. Anorg. Allg. Chem. 1987, 544, 7-20
-
(1987)
Z. Anorg. Allg. Chem.
, vol.544
, pp. 7-20
-
-
Touhara, H.1
Kadono, K.2
Fujii, Y.3
Watanabe, N.4
-
45
-
-
65449183764
-
-
Tang, W.; Sanville, E.; Henkelman, G. J. Phys.: Condens. Matter 2009, 21, 084204
-
(2009)
J. Phys.: Condens. Matter
, vol.21
, pp. 084204
-
-
Tang, W.1
Sanville, E.2
Henkelman, G.3
|