Investigating the interaction of x-ray free electron laser radiation with grating structure

Optics Letters

Volumn 37, Issue 15, 2012, Pages 3033-3035

  Gaudin, Jérôme ^a   Ozkan, Cigdem ^a   Chalupský, Jaromír ^b   Bajt, Saša ^c   Burian, Tomás ^b   Vysín, Ludek ^b   Coppola, Nicola ^a   Farahani, Shafagh Dastjani ^a   Chapman, Henry N ^c   Galasso, Germano ^a   Hájková, Vera ^b   Harmand, Marion ^c   Juha, Libor ^b   Jurek, Marek ^d   Loch, Rolf A ^e   Möller, Stefan ^f   Nagasono, Mitsuru ^g   Störmer, Michael ^h   Sinn, Harald ^a   Saksl, Karel ⁱ   Sobierajski, Ryszard ^d   Schulz, Joachim ^a,c   Sovak, Pavol ^j   Toleikis, Sven ^c   Tiedtke, Kai ^c   Tschentscher, Thomas ^a   Krzywinski, Jacek ^f   more..

^a EUROPEAN XFEL GMBH   (Germany)

^b INSTITUTE OF PHYSICS   (Czech Republic)

^c DESY   (Germany)

^d INSTITUTE OF PHYSICS   (Poland)

^e DUTCH INSTITUTE FOR FUNDAMENTAL ENERGY RESEARCH   (Netherlands)

^f SLAC NATIONAL ACCELERATOR LABORATORY   (United States)

^g RIKEN SPring 8 Center   (Japan)

^h INSTITUTE OF MATERIALS RESEARCH   (Germany)

ⁱ INSTITUTE OF MATERIALS RESEARCH   (Slovakia)

^j P J AFÁRIK UNIVERSITY   (Slovakia)

more..

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DAMAGE PROCESS; DAMAGE THRESHOLD; ELECTRIC-FIELD INTENSITY DISTRIBUTION; FLUENCES; GRATING STRUCTURES;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRIC FIELDS; FREE ELECTRON LASERS; HELMHOLTZ EQUATION;

DIFFRACTION GRATINGS;

EID: 84864720036     PISSN: 01469592     EISSN: 15394794     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.37.003033     Document Type: Article

References (8)

1. S. Hocquet, J. Neauport, and N. Bonod, Appl. Phys. Lett. 99, 061101 (2011).
2. W. Ackermann, G. Asova, V. Ayvazyan, A. Azima, N. Baboi, J. Bähr, V. Balandin, B. Beutner, A. Brandt, A. Bolzmann, R. Brinkmann, O. I. Brovko, M. Castellano, P. Castro, L. Catani, E. Chiadroni, S. Choroba, A. Cianchi, T. Costello, D. Cubaynes, J. Dardis, W. Decking, H. Delsim-Hashemi, A. Delserieys, G. Di Pirro, M. Dohlus, S. Düsterer, A. Eckhardt, T. Edwards, B. Faatz, J. Feldhaus, K. Flöttmann, J. Frisch, L. Fröhlich, T. Garvey, U. Gensch, Ch. Gerth, M. Görler, N. Golubeva, H.-J. Grabosch, M. Grecki, O. Grimm, K. Hacker, U. Hahn, J. H. Han, K. Honkavaara, T. Hott, M. Hüning, Y. Ivanisenko, E. Jaeschke, W. Jalmuzna, T. Jezynski, R. Kammering, V. Katalev, K. Kavanagh, E. T. Kennedy, S. Khodyachykh, K. Klose, V. Kocharyan, M. Körfer, M. Kollewe, W. Koprek, S. Korepanov, D. Kostin, M. Krassilnikov, G. Kube, M. Kuhlmann, C. L. S. Lewis, L. Lilje, T. Limberg, D. Lipka, F. Löhl, H. Luna, M. Luong, M. Martins, M. Meyer, P. Michelato, V. Miltchev, W. D. Möller, L. Monaco, W. F. O. Müller, O. Napieralski, O. Napoly, P. Nicolosi, D. Nölle, T. Nuñez, A. Oppelt, C. Pagani, R. Paparella, N. Pchalek, J. Pedregosa-Gutierrez, B. Petersen, B. Petrosyan, G. Petrosyan, L. Petrosyan, J. Pflüger, E. Plönjes, L. Poletto, K. Pozniak, E. Prat, D. Proch, P. Pucyk, P. Radcliffe, H. Redlin, K. Rehlich, M. Richter, M. Roehrs, J. Roensch, R. Romaniuk, M. Ross, J. Rossbach, V. Rybnikov, M. Sachwitz, E. L. Saldin, W. Sandner, H. Schlarb, B. Schmidt, M. Schmitz, P. Schmüser, R. Schneider, A. Schneidmiller, S. Schnepp, S. Schreiber, M. Seidel, D. Sertore, V. Shabunov, C. Simon, S. Simrock, E. Sombrowski, A. Sorokin, P. Spanknebel, R. Spesyvtsev, L. Staykov, B. Steffen, F. Stephan, F. Stulle, H. Thom, K. Tiedtke, M. Tischer, S. Toleikis, R. Treusch, D. Trines, I. Tsakov, E. Vogel, T. Weiland, H. Weise, M. Wellhöfer, M. Wendt, I. Will, A. Winter, K. Wittenburg, W. Wurth, P. Yeates, V. Yurkov, I. Zagorodnov, and K. Zapfe, Nat. Photon. 1, 336 (2007).
3. J. Chalupský, V. Hájková, V. Altapova, T. Burian, A. J. Gleeson, L. Juha, M. Jurek, H. Sinn, M. Störmer, R. Sobierajski, K. Tiedtke, S. Toleikis, T. Tschentscher, L. Vyšín, H. Wabnitz, and J. Gaudin, Appl. Phys. Lett. 95, 031111 (2009).
4. P. Heimann, O. Krupin, W. F. Schlotter, J. Turner, J. Krzywinski, F. Sorgenfrei, M. Messerschmidt, D. Bernstein, J. Chalupský, V. Hájková, S. Hau-Riege, M. Holmes, L. Juha, N. Kelez, J. Lüning, D. Nordlund, M. F. Perea, A. Scherz, R. Soufli, W. Wurth, and M. Rowen, Rev. Sci. Instrum. 82, 093104 (2011).
5. J. Chalupský, J. Krzywinski, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, T. Burian, L. Vyšín, J. Gaudin, A. Gleeson, M. Jurek, A. R. Khorsand, D. Klinger, H. Wabnitz, R. Sobierajski, M. Störmer, K. Tiedtke, and S. Toleikis, Opt. Express 18, 27836 (2010).
6. O. K. Ersoy, Diffraction, Fourier Optics and Imaging (Wiley, 2007).
7. H. J. W. M. Hoekstra, Opt. Quantum Electron. 29, 157 (1997).
8. B. L. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis, At. Data Nucl. Data Tables 54, 181 (1993).