-
1
-
-
77956220842
-
-
Vaynzof, Y.; Kabra, D.; Zhao, L.; Ho, P. K. H.; Wee, A. T.-S.; Friend, R. H. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 033309
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.97
, pp. 033309
-
-
Vaynzof, Y.1
Kabra, D.2
Zhao, L.3
Ho, P.K.H.4
Wee, A.T.-S.5
Friend, R.H.6
-
2
-
-
49749118009
-
-
Takanezawa, K.; Tajima, K.; Hashimoto, K. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 063308
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.93
, pp. 063308
-
-
Takanezawa, K.1
Tajima, K.2
Hashimoto, K.3
-
3
-
-
19844377890
-
-
Beek, W. J. E.; Wienk, M. M.; Kemerink, M.; Yang, X.; Janssen, R. A. J. J. Phys. Chem. 2005, 109, 9505
-
(2005)
J. Phys. Chem.
, vol.109
, pp. 9505
-
-
Beek, W.J.E.1
Wienk, M.M.2
Kemerink, M.3
Yang, X.4
Janssen, R.A.J.5
-
4
-
-
2942689945
-
-
Uchida, S.; Xue, J.; Rand, B. P.; Forrest, S. R. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 4218
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.84
, pp. 4218
-
-
Uchida, S.1
Xue, J.2
Rand, B.P.3
Forrest, S.R.4
-
5
-
-
18644362823
-
-
Suemori, K.; Miyata, T.; Yokoyama, M.; Hiramoto, M. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 063509
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.86
, pp. 063509
-
-
Suemori, K.1
Miyata, T.2
Yokoyama, M.3
Hiramoto, M.4
-
6
-
-
18344396074
-
-
Mizuno, K.; Izaki, M.; Murase, K.; Shinagawa, T.; Chigane, M.; Inaba, M.; Tasaka, A.; Awakura, Y. J. Electrochem. Soc. 2005, 152, C179
-
(2005)
J. Electrochem. Soc.
, vol.152
, pp. 179
-
-
Mizuno, K.1
Izaki, M.2
Murase, K.3
Shinagawa, T.4
Chigane, M.5
Inaba, M.6
Tasaka, A.7
Awakura, Y.8
-
7
-
-
34249326573
-
-
Izaki, M.; Shinagawa, T.; Mizuno, K.; Ida, Y.; Inaba, M.; Tasaka, A. J. Phys. D Appl. Phys 2007, 40, 3326
-
(2007)
J. Phys. D Appl. Phys
, vol.40
, pp. 3326
-
-
Izaki, M.1
Shinagawa, T.2
Mizuno, K.3
Ida, Y.4
Inaba, M.5
Tasaka, A.6
-
8
-
-
80052094158
-
-
Fariza, B. M.; Sasano, J.; Shinagawa, T.; Nakano, H.; Watase, S.; Izaki, M. J. Electrochem. Soc. 2011, 158, D621
-
(2011)
J. Electrochem. Soc.
, vol.158
, pp. 621
-
-
Fariza, B.M.1
Sasano, J.2
Shinagawa, T.3
Nakano, H.4
Watase, S.5
Izaki, M.6
-
9
-
-
0001610490
-
-
David, W. I. F.; Ibberson, R. M.; Mattewman, J. C.; Prassides, K.; Dennis, T. J. S.; Hare, J. P.; Kroto, H. W.; Taylor, R.; Walton, D. R. M. Nature 1991, 353, 147
-
(1991)
Nature
, vol.353
, pp. 147
-
-
David, W.I.F.1
Ibberson, R.M.2
Mattewman, J.C.3
Prassides, K.4
Dennis, T.J.S.5
Hare, J.P.6
Kroto, H.W.7
Taylor, R.8
Walton, D.R.M.9
-
11
-
-
0000374584
-
-
Xu, H.; Chen, D. M.; Creager, W. N. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1850
-
(1993)
Phys. Rev. Lett.
, vol.70
, pp. 1850
-
-
Xu, H.1
Chen, D.M.2
Creager, W.N.3
-
12
-
-
0000557582
-
-
Schmicker, D.; Schmidt, S.; Skofronick, J. G.; Toennies, J. P.; Vollmer, R. Phys. Rev. B 1991, 44, 10995
-
(1991)
Phys. Rev. B
, vol.44
, pp. 10995
-
-
Schmicker, D.1
Schmidt, S.2
Skofronick, J.G.3
Toennies, J.P.4
Vollmer, R.5
-
13
-
-
80052797925
-
-
Oku, T.; Motoyoshi, R.; Fujimoto, K.; Akiyama, T.; Jeyaderam, B.; Cuya, J. J. Phys. Chem. Solids 2011, 72, 1206
-
(2011)
J. Phys. Chem. Solids
, vol.72
, pp. 1206
-
-
Oku, T.1
Motoyoshi, R.2
Fujimoto, K.3
Akiyama, T.4
Jeyaderam, B.5
Cuya, J.6
-
14
-
-
0032622132
-
-
Baldo, M. A.; Lamamsky, S.; Burrows, P. E.; Thompson, M. E.; Forrest, S. R. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 4
-
(1999)
Appl. Phys. Lett.
, vol.75
, pp. 4
-
-
Baldo, M.A.1
Lamamsky, S.2
Burrows, P.E.3
Thompson, M.E.4
Forrest, S.R.5
-
15
-
-
84864227173
-
-
Gommans, H.; Verreet, B.; Rand, B. P.; Muller, R.; Poortmans, J.; Heremans, P.; Genoe, J. Adav. Funct. Mater 2008, 18, 3638
-
(2008)
Adav. Funct. Mater
, vol.18
, pp. 3638
-
-
Gommans, H.1
Verreet, B.2
Rand, B.P.3
Muller, R.4
Poortmans, J.5
Heremans, P.6
Genoe, J.7
-
16
-
-
0003495856
-
-
Joint Comittttee on Powder Diffraction Standards. International Center for Diffraction Data; Swarthmore, PA
-
Joint Comittttee on Powder Diffraction Standards. Powder Diffraction File, 44-558; International Center for Diffraction Data; Swarthmore, PA, 1992
-
(1992)
Powder Diffraction File, 44-558
-
-
-
17
-
-
3743141422
-
-
Heiney, P. A.; Fischer, J. E.; McGhie, A. R.; Romanow, W. J.; Denenstein, A. M.; MaCauley, J. P., Jr.; Smith, A. B., III. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 2911
-
(1991)
Phys. Rev. Lett.
, vol.66
, pp. 2911
-
-
Heiney, P.A.1
Fischer, J.E.2
McGhie, A.R.3
Romanow, W.J.4
Denenstein, A.M.5
Macauley Jr., J.P.6
Smith Iii, A.B.7
-
18
-
-
0031209215
-
-
Yao, J.; Zou, Y.; Zhang, X.; Chen, G. Thin Solid Films 1997, 305, 22
-
(1997)
Thin Solid Films
, vol.305
, pp. 22
-
-
Yao, J.1
Zou, Y.2
Zhang, X.3
Chen, G.4
-
19
-
-
0001269778
-
-
Dura, J. A.; Pippenger, P. M.; Halas, N. J.; Xiong, X. Z.; Chow, P. C.; Moss, S. C. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 3443
-
(1993)
Appl. Phys. Lett.
, vol.63
, pp. 3443
-
-
Dura, J.A.1
Pippenger, P.M.2
Halas, N.J.3
Xiong, X.Z.4
Chow, P.C.5
Moss, S.C.6
-
20
-
-
0039621725
-
-
Zhao, W.; Zhou, W.; Chen, L.; Huang, Y.; Zhang, Z.; Fung, K. K.; Zhao, Z. J. Solid State Chem. 1994, 112, 412
-
(1994)
J. Solid State Chem.
, vol.112
, pp. 412
-
-
Zhao, W.1
Zhou, W.2
Chen, L.3
Huang, Y.4
Zhang, Z.5
Fung, K.K.6
Zhao, Z.7
-
21
-
-
0041029114
-
-
Fölsch, S.; Maruno, T.; Yamashita, A.; Hayashi, T. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 2643
-
(1993)
Appl. Phys. Lett.
, vol.62
, pp. 2643
-
-
Fölsch, S.1
Maruno, T.2
Yamashita, A.3
Hayashi, T.4
-
22
-
-
84855925027
-
-
Izaki, M.; Sasaki, S.; Fariza, BV. M.; Shinagawa, T; Ohta, T.; Watase, S.; Sasano., J. Thin Solid Films 2012, 520, 1779
-
(2012)
Thin Solid Films
, vol.520
, pp. 1779
-
-
Izaki, M.1
Sasaki, S.2
Fariza, B.V.M.3
Shinagawa, T.4
Ohta, T.5
Watase, S.6
Sasano, J.7
-
23
-
-
0028448121
-
-
Kazaoui, S.; Ross, R.; Minami, N. Solid State Commun. 1994, 90, 623
-
(1994)
Solid State Commun.
, vol.90
, pp. 623
-
-
Kazaoui, S.1
Ross, R.2
Minami, N.3
-
24
-
-
36449007473
-
-
Mort, J.; Machonkin, M.; Ziolo, R.; Huffman, D. R.; Forguson, M. I. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 1735
-
(1992)
Appl. Phys. Lett.
, vol.60
, pp. 1735
-
-
Mort, J.1
MacHonkin, M.2
Ziolo, R.3
Huffman, D.R.4
Forguson, M.I.5
-
25
-
-
0026944258
-
-
Arai, T.; Murakami, Y.; Suematsu, H.; Kikuchi, K.; Achiba, Y.; Ikemoto, I. Solid State Commun. 1992, 84, 827
-
(1992)
Solid State Commun.
, vol.84
, pp. 827
-
-
Arai, T.1
Murakami, Y.2
Suematsu, H.3
Kikuchi, K.4
Achiba, Y.5
Ikemoto, I.6
-
27
-
-
0001053528
-
-
Petterson, L. A. A.; Roman, L. S.; Inganas, O. J. Appl. Phys. 1999, 86, 487
-
(1999)
J. Appl. Phys.
, vol.86
, pp. 487
-
-
Petterson, L.A.A.1
Roman, L.S.2
Inganas, O.3
-
28
-
-
0037389306
-
-
Peumans, P.; Yakimov, A.; Forrest, S. R. J. Appl. Phys. 2003, 93, 3693
-
(2003)
J. Appl. Phys.
, vol.93
, pp. 3693
-
-
Peumans, P.1
Yakimov, A.2
Forrest, S.R.3
-
29
-
-
0001053528
-
-
Pettersson, L. A.; Roman, L. S.; Inganas, O J. Appl. Phys. 1999, 86, 487
-
(1999)
J. Appl. Phys.
, vol.86
, pp. 487
-
-
Pettersson, L.A.1
Roman, L.S.2
Inganas, O.3
-
30
-
-
33750999338
-
-
Yoshida, Y.; Nakamura, M.; Tanaka, S.; Hiromitsu, I.; Fujita, Y.; Yoshino, K. Synth. Met. 2006, 156, 1213
-
(2006)
Synth. Met.
, vol.156
, pp. 1213
-
-
Yoshida, Y.1
Nakamura, M.2
Tanaka, S.3
Hiromitsu, I.4
Fujita, Y.5
Yoshino, K.6
-
31
-
-
77955056810
-
-
Stakhira, P. I.; Pakhomov, G. L.; Cherpak, V. V.; Volynyuk, D.; Luka, G.; Godlewski, M.; Guziewicz, E.; Hotra, Z. Y. Cent. Eur. J. Phys. 2010, 8, 798
-
(2010)
Cent. Eur. J. Phys.
, vol.8
, pp. 798
-
-
Stakhira, P.I.1
Pakhomov, G.L.2
Cherpak, V.V.3
Volynyuk, D.4
Luka, G.5
Godlewski, M.6
Guziewicz, E.7
Hotra, Z.Y.8
-
32
-
-
21044447369
-
-
Terada, N.; Widodo, R. T.; Itoh, K.; Kong, S. H.; Kashiwabara, H.; Okuda, T.; Obara, K.; Niki, S.; Sakurai, K.; Yamada, A.; Ishizuka, S. Thin Solid Films 2005, 480-481, 183
-
(2005)
Thin Solid Films
, vol.480-481
, pp. 183
-
-
Terada, N.1
Widodo, R.T.2
Itoh, K.3
Kong, S.H.4
Kashiwabara, H.5
Okuda, T.6
Obara, K.7
Niki, S.8
Sakurai, K.9
Yamada, A.10
Ishizuka, S.11
|