Intracavity sensing via compliance voltage in an external cavity quantum cascade laser

Optics Letters

Volumn 37, Issue 13, 2012, Pages 2664-2666

  Phillips, Mark C ^a   Taubman, Matthew S ^a  

^a PACIFIC NORTHWEST NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EXTERNAL CAVITY; GAS PHASE SPECTROSCOPY; INTRACAVITIES; INTRACAVITY ABSORPTION;

ABSORPTION SPECTROSCOPY;

QUANTUM CASCADE LASERS;

EID: 84863666085     PISSN: 01469592     EISSN: 15394794     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.37.002664     Document Type: Article

References (18)

1. J. Faist, F. Capasso, D. L. Sivco, C. Sirtori, A. L. Hutchinson, and A. Y. Cho, Science 264, 553 (1994).
2. A. Kosterev, G. Wysocki, Y. Bakhirkin, S. So, R. Lewicki, M. Fraser, F. Tittel, and R. F. Curl, Appl. Phys. B 90, 165 (2008).
3. A. Hugi, R. Maulini, and J. Faist, Semicond. Sci. Technol. 25, 083001 (2010).
4. G. Wysocki, R. Lewicki, R. F. Curl, F. K. Tittel, L. Diehl, F. Capasso, M. Troccoli, G. Hofler, D. Bour, S. Corzine, R. Maulini, M. Giovannini, and J. Faist, Appl. Phys. B 92, 305 (2008).
5. S. Welzel, G. Lombardi, P. B. Davies, R. Engeln, D. C. Schram, and J. Ropcke, J. Appl. Phys. 104, 093115 (2008).
6. H. Christoph, Meas. Sci. Technol. 23, 012001 (2012).
7. M. C. Phillips and M. S. Taubman, "Gas detection via compliance voltage measurement in an external-cavity semiconductor laser," U.S. patent pending 61,592,297 (January 30, 2012).
8. K. B. Rochford and A. H. Rose, Opt. Lett. 20, 2105 (1995).
9. J. von Staden, T. Gensty, W. Elsasser, G. Giuliani, and C. Mann, Opt. Lett. 31, 2574 (2006).
10. Y. L. Lim, P. Dean, M. Nikolic, R. Kliese, S. P. Khanna, M. Lachab, A. Valavanis, D. Indjin, Z. Ikonic, P. Harrison, E. H. Linfield, A. G. Davies, S. J. Wilson, and A. D. Rakic, Appl. Phys. Lett. 99, 081108 (2011).
11. D. Hofstetter, M. Beck, and J. Faist, Appl. Phys. Lett. 81, 2683 (2002).
12. V. M. Baev, T. Latz, and P. E. Toschek, Appl. Phys. B 69, 171 (1999).
13. M. A. Belkin, M. Loncar, B. G. Lee, C. Pflugl, R. Audet, L. Diehl, F. Capasso, D. Bour, S. Corzine, and G. Hofler, Opt. Express 15, 11262 (2007).
14. G. Medhi, A. V. Muravjov, H. Saxena, J. W. Cleary, C. J. Fredricksen, R. E. Peale, and O. Edwards, Proc. SPIE 7680, 76800N (2010).
15. M. C. Phillips, M. S. Taubman, B. E. Bernacki, B. D. Cannon, J. T. Schiffern, and T. L. Myers, Proc. SPIE 7608, 76080D (2010).
16. M. S. Taubman, Rev. Sci. Instrum. 82, 064704 (2011).
17. M. S. Taubman, T. L. Myers, B. E. Bernacki, R. D. Stahl, B. D. Cannon, J. T. Schiffern, and M. C. Phillips, Proc. SPIE 8268, 82682G (2012).
18. S. W. Sharpe, T. J. Johnson, R. L. Sams, P. M. Chu, G. C. Rhoderick, and P. A. Johnson, Appl. Spectrosc. 58, 1452 (2004).