Effect of annealing temperature on the structural and magnetic properties of co-doped TiO 2 nanoparticles via complex-polymer sol-gel method

Journal of Nanoscience and Nanotechnology

Volumn 12, Issue 2, 2012, Pages 950-954

  Karimipour, Masoud ^a,b   Wikberg, J Magnus ^a   Shahtahmasebi, Nasser ^b   Rokn Abad, Mahmood Rezaee ^b   Bagheri Mohagheghi, M M ^c   Svedlindh, Peter ^a  

^a UPPSALA UNIVERSITY   (Sweden)

^b FERDOWSI UNIVERSITY OF MASHHAD   (Iran)

^c DAMGHAN UNIVERSITY   (Iran)

Author keywords

DC Magnetometry; Diluted Magnetic Semiconductors; Ferromagnetism in Semiconductor; Sol Gel Process; X ray Diffraction

Indexed keywords

ANNEALING CONDITION; ANNEALING TEMPERATURES; AVERAGE GRAIN SIZE; CLUSTER SIZES; CO-DOPED; DC MAGNETOMETRY; DILUTED MAGNETIC SEMICONDUCTORS; METALLIC PHASE; PARAMAGNETIC BEHAVIOR; STRUCTURAL AND MAGNETIC PROPERTIES; TIO; TIO2 NANO-PARTICLES;

ANNEALING; COBALT COMPOUNDS; MAGNETIC PROPERTIES; MAGNETIC SEMICONDUCTORS; MAGNETOMETERS; NANOPARTICLES; PARAMAGNETISM; SYNTHESIS (CHEMICAL); TITANIUM DIOXIDE; X RAY DIFFRACTION;

SOL-GEL PROCESS;

EID: 84861661070     PISSN: 15334880     EISSN: 15334899     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/jnn.2012.5155     Document Type: Article

References (33)

1. J.-P. Xu, L. Li, L.-Y. Lv, X.-S. Zhang, X.-M. Chen, J.-F. Wang, F.-M. Zhang, W. Zhong, and Y.-W. Du, J. Chin. Phys. Lett. 26, 097502 (2009).
2. I. P. Suzdaleva, V. E. Prusakova, Y. V. Maksimova, V. K. Imshennika, S. V. Novochikhina, E. A. Gudilinb, A. V. Grigorevab, K. L. Dubovab, S. S. Abramchukb, Yu. D. Tretyakovb, I. S. Lyubutinc, and K. D. Frolo, J. Nanotechnologys In Russia 5, 3 (2010).
3. G. U. von Oertzena and A. R. Gerson, J. Physics and Chemistry of Solids 68, 324 (2007).
4. Y. Matsumoto, R. Takahashi, M. Murakami, T. Koida, X. J. Fan, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, S.Y. Koshihara, and H. Koinuma, Jpn. J. Appl. Phys. 40, L1204 (2001).
5. L. A. Balagurov, S. O. Klimonsky, S. P. Kobeleval, A. S. Konstantinova, A. Forlov, N. S. Perov, A. Sapelkin, and D. G. Yarkin, J. Phy.: Condens. Matter 18, 10999 (2006).
6. N. H. Hong, J. Sakai, and W. Prellier, Phys. Rev. B 70, 195204 (2004).
7. R. Alexandrescu, I. Morjan, M. Scarisoreanu, R. Birjega, E. Popovici, I. Soare, L. Gavrila-Florescu, I. Voicu, I. Sandu, F. Dumitrache, G. Prodan, E. Vasile, and E. Figgemeier, Thin Solid Films 515, 8438 (2007).
8. P. Lianos, Adv. Sci. Lett. 1, 128 (2008).
9. V. Bilovol, A. M. M. Navarro, W. T. Herrera, D. R. Sanchez, E. M. Baggio-Saitovich, C. E. R. Torres, F. H. Sanchez, and A. F. Cabrera, Hyperne Interact 195, 155 (2010).
10. N. Akdogan, A. Nefedov, H. Zabel, K. Westerholt, H. W. Becker, C. Somsen, S. Gok, A. Bashir, R. Khaibullin, and L. Tagirov, arxiv. 9, 0807.1555 (2008).
11. J. D. Bryan, S. M. Heald, S. A. Chambers, and D. R. Gamelin, J. Am. Chem. 126, 11640 (2004).
12. Y. Matsumoto, Science 294, 1003 (2001).
13. D. H. Kim, J. S. Yang, K. W. Lee, S. D. Bu, T. W. Noh, S. J. Oh, Y. W. Kim, J. S. Chung, H. Tanaka, H. Y. Lee, and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 81, 2421 (2002).
14. Y. Yamada, H. Toyosaki, A. Tsukazaki, T. Fukumura, K. Tamura, Y. Segawa, K. Nakajima, T. Aoyama, T. Chikyow, T. Hasegawa, H. Koinuma, and M. Kawasaki, J. Appl. Phys. 96, 5097 (2004).
15. J. Li, O. H. Sow, S. X. Rao, C. K. Ong, and D. N. Zheng, Eur. Phys. J. B 32, 471 (2003).
16. S. A. Chambers, S. Thevuthasan, R. F. C. Farrow, R. F. Marks, J. U. Thiele, L. Folks, M. G. Samant, A. J. Kellock, N. Ruzycki, D. L. Ederer, and U. Diebold, Appl. Phys. Lett. 79, 3467 (2001).
17. T. C. Kaspar, T. Droubay, C. M. Wang, S. M. Heald, A. S. Lea, and S. A. Chambers, J. Appl. Phys. 97, 073511 (2005).
18. W. K. Park, R. J. Ortega-Hertogs, J. S. Moodera, A. Punnoose, and M. S. Seehra, J. Appl. Phys. 91, 8093 (2002).
19. A. Punnoose, M. S. Seehra, W. K. Park, and J. S. Moodera, J. Appl. Phys. 93, 7867 (2003).
20. D. H. Kim, J. S. Yang, K. W. Lee, S. D. Bu, D. W. Kim, T. W. Noh, S. J. Oh, Y. W. Kim, J. S. Chung, H. Tanaka, H. Y. Lee, T. Kawai, J. Y. Won, S. H. Park, and J. C. Lee, J. Appl. Phys. 93, 6125 (2003).
21. M. Murakami, Y. Matsumoto, T. Hasegawa, P. Ahmet, K. Nakajima, T. Chikyow, H. Ofuchi, I. Nakai, and H. Koinuma, J. Appl. Phys. 95, 5330 (2004).
22. M. Subramanian, S. Vijayalakshmi, S. Venkataraj, and R. Jayavel, Thin Solid Films 516, 3776 (2008).
23. M. Fleischhammer, M. Panthofer, and W. Tremel, J. Solid State Chemistry 182, 942 (2009).
24. M. M. Bagheri-Mohagheghi, N. Shahtahmasebi, M. R. Alinejada, A. Yousse, and M. Shokooh-Saremi, Physica B 403, 2431 (2008).
25. C. Premakumara, M. Kakihana, and M. Yoshimura, Solid State Ionics 108, 23 (1998).
26. M. Kakihana, J. Sol-Gel Sci. Technol. 6, 7 (1996).
27. M. P. Pechini, U.S. Patent, July 1967. No.3. 330. 697.
28. E. R. Leite, A. P. Maciel, I. T. Weber, P. N. L. Filho, E. Longo, C. O. P. Santos, A. V. C. Andrae, C. A. Pakoscimas, Y. Manietle, and W. H. Schreiner, Adv. Mater. 14, 5 (2002).
29. P. Scherrer, Gottinger Nachrichten 2, 98 (1918).
30. M. M. Viana, T. D. S. Mohallem, G. L. T. Nascimento, and N. D. S. Mohallem, Brazilian Journal of Physics 36 (2006).
31. C. Wang and J. Y. Ying, J. Chem. Mater. 11, 3113 (1999).
32. Z. Tang, J. Zhang, Z. Cheng, and Z. Zhang, J. Materials Chemistry and Physics 77, 314 (2002).
33. J. J. Stickler, S. Kern, A. Wold, and G. S. Heller, Phys. Rev. 164, 765 (1967).