Scanning probe microscopy and related methods

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 1, Issue 1, 2010, Pages 155-157

  Meyer, Ernst ^a  

^a UNIVERSITY OF BASEL   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84861364696     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.1.18     Document Type: Editorial

References (10)

1. Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.; Weibel, E. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 120-123. doi:10.1103/PhysRevLett.50.120
2. Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930-933. doi:10.1103/PhysRevLett.56.930
3. Giessibl, F. J. Science 1995, 267, 68-71. doi:10.1126/science.267.5194.68
4. Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Liljeroth, P.; Meyer, G. 2009, 325, 1110-1114. doi:10.1126/science.1176210
5. Gnecco, E.; Bennewitz, R.; Gyalog, T.; Loppacher, C.; Bammerlin, M.; Meyer, E.; Güntherodt, H.-J. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 1172-1175. doi:10.1103/PhysRevLett.84.1172
6. Socoliuc, A.; Bennewitz, R.; Gnecco, E.; Meyer, E. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 134301. doi:10.1103/PhysRevLett.92.134301
7. Dienwiebel, M.; Verhoeven, G. S.; Pradeep, N.; Frenken, J. W. M.; Heimberg, J. A.; Zandbergen, H. W. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 126101. doi:10.1103/PhysRevLett.92.126101
8. Socoliuc, A.; Gnecco, E.; Maier, S.; Pfeiffer, O.; Baratoff, A.; Bennewitz, R.; Meyer, E. Science 2006, 313, 207-210. doi:10.1126/science.1125874
9. Dietzel, D.; Ritter, C.; Mönninghoff, T.; Fuchs, H.; Schirmeisen, A.; Schwarz, U. D. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 125505. doi:10.1103/PhysRevLett.101.125505
10. Gnecco, E.; Rao, A.; Mougin, K.; Chandrasekar, G.; Meyer, E. Nanotechnology 2010, 21, 215702. doi:10.1088/0957-4484/21/21/215702