Morphology tailoring of thin film block copolymers on patterned substrates

Macromolecular Rapid Communications

Volumn 33, Issue 5, 2012, Pages 392-395

  Ye, Xianggui ^a,b   Edwards, Brian J ^a,b   Khomami, Bamin ^a,b  

^a University of Tennessee Knoxville   (United States)

^b UNIVERSITY OF TENNESSEE   (United States)

Author keywords

block copolymers; confinement; directed self assembly; microphase separation; microstructure; self consistent field theory

Indexed keywords

ADSORBED LAYERS; BULK SYSTEM; DIRECTED SELF-ASSEMBLY; MICRO-PHASE; PATTERNED SUBSTRATES; PERIODIC SPACING; RING STRUCTURES; SELF CONSISTENT FIELD THEORY; SPOT SIZES; TOP SURFACE;

BLOCK COPOLYMERS; MEAN FIELD THEORY; MICROSTRUCTURE; MOLECULAR ORBITALS; MORPHOLOGY; PLASMA CONFINEMENT; THIN FILMS;

SUBSTRATES;

NANOMATERIAL; POLYMER;

ARTICLE; CHEMISTRY; SURFACE PROPERTY; SYNTHESIS;

NANOSTRUCTURES; POLYMERS; SURFACE PROPERTIES;

EID: 84858039745     PISSN: 10221336     EISSN: 15213927     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/marc.201100744     Document Type: Article

References (34)

1. C. Park, J. Yoon, E. L. Thomas, Polymer 2003, 44, 6725.
2. S. B. Darling, Prog. Polym. Sci. 2007, 32, 1152.
3. I. W. Hamley, Prog. Polym. Sci. 2009, 34, 1161.
4. M. P. Stoykovich, M. Muller, S. O. Kim, H. H. Solak, E. W. Edwards, J. J. de Pablo, P. F. Nealey, Science 2005, 308, 1442.
5. R. Ruiz, H. M. Kang, F. A. Detcheverry, E. Dobisz, D. S. Kercher, T. R. Albrecht, J. J. de Pablo, P. F. Nealey, Science 2008, 321, 936.
6. G. W. Peng, F. Qiu, V. V. Ginzburg, D. Jasnow, A. C. Balazs, Science 2000, 288, 1802.
7. S. H. Kim, M. J. Misner, T. Xu, M. Kimura, T. P. Russell, Adv. Mater. 2004, 16, 226.
8. Z. Q. Lin, D. H. Kim, X. D. Wu, L. Boosahda, D. Stone, L. LaRose, T. P. Russell, Adv. Mater. 2002, 14, 1373.
9. F. A. Detcheverry, P. F. Nealey, J. J. de Pablo, Macromolecules 2010, 43, 6495.
10. R. A. Segalman, Science 2008, 321, 919.
11. R. A. Segalman, A. Hexemer, E. J. Kramer, Macromolecules 2003, 36, 6831.
12. K. C. Daoulas, M. Muller, M. P. Stoykovich, S. M. Park, Y. J. Papakonstantopoulos, J. J. de Pablo, P. F. Nealey, H. H. Solak, Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 036104.
13. S. O. Kim, B. H. Kim, D. Meng, D. O. Shin, C. M. Koo, H. H. Solak, Q. Wang, Adv. Mater. 2007, 19, 3271.
14. K. C. Daoulas, A. Cavallo, R. Shenhar, M. Muller, Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 108301.
15. X. G. Ye, B. J. Edwards, B. Khomami, Macromolecules 2010, 43, 9594.
16. Y. Y. Wu, G. S. Cheng, K. Katsov, S. W. Sides, J. F. Wang, J. Tang, G. H. Fredrickson, M. Moskovits, G. D. Stucky, Nat. Mater. 2004, 3, 816.
17. B. Yu, P. Sun, T. Chen, Q. Jin, D. Ding, B. Li, A.-C. Shi, Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 138306.
18. F. Drolet, G. H. Fredrickson, Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4317.
19. M. W. Matsen, F. S. Bates, J. Chem. Phys. 1997, 106, 2436.
20. F. A. Detcheverry, G. L. Liu, P. F. Nealey, J. J. de Pablo, Macromolecules 2010, 43, 3446.
21. A. N. Semenov, Macromolecules 1989, 22, 2849.
22. L. Leibler, Macromolecules 1980, 13, 1602.
23. J. N. L. Albert, M. J. Baney, C. M. Stafford, J. Y. Kelly, T. H. Epps, Acs Nano 2009, 3, 3977.
24. J. N. L. Albert, T. D. Bogart, R. L. Lewis, K. L. Beers, M. J. Fasolka, J. B. Hutchison, B. D. Vogt, T. H. Epps, Nano Lett. 2011, 11, 1351.
25. K. A. Cavicchi, K. J. Berthiaume, T. P. Russell, Polymer 2005, 46, 11635.
26. J. G. Son, A. F. Hannon, K. W. Gotrik, A. Alexander-Katz, C. A. Ross, Adv. Mater. 2011, 23, 634.
27. J. K. Bosworth, M. Y. Paik, R. Ruiz, E. L. Schwartz, J. Q. Huang, A. W. Ko, D. M. Smilgies, C. T. Black, C. K. Ober, ACS Nano 2008, 2, 1396.
28. C. Forrey, K. G. Yager, S. P. Broadaway, Acs Nano 2011, 5, 2895.
29. S. M. Park, B. C. Berry, E. Dobisz, H. C. Kim, Soft Matter 2009, 5, 957.
30. M. Muller, K. C. Daoulas, Y. Norizoe, Phys. Chem. Chem. Phys. 2009, 11, 2087.
31. M. W. Matsen, Macromolecules 2010, 43, 1671.
32. X. G. Ye, T. F. Shi, Z. Y. Lu, C. X. Zhang, Z. Y. Sun, L. J. An, Macromolecules 2005, 38, 8853.
33. X. G. Ye, X. F. Yu, T. F. Shi, Z. Y. Sun, L. J. An, Z. Tong, J. Phys. Chem. B 2006, 110, 23578.
34. X. G. Ye, X. F. Yu, Z. Y. Sun, L. J. An, J. Phys. Chem. B 2006, 110, 12042.