-
1
-
-
79953722869
-
-
doi: 10.1117/12.881429
-
Most, D. R.; Vantreeck, H. J.; Grinwald, B. A.; Kupcho, K. A.; Sen, A.; Bonds, M. D.; Anhalt, K.; Israel, B. A.; Acharya, B. R. Proc. SPIE 7955, 7950L 2011, doi: 10.1117/12.881429.
-
(2011)
Proc. SPIE 7955
, vol.7950
-
-
Most, D.R.1
Vantreeck, H.J.2
Grinwald, B.A.3
Kupcho, K.A.4
Sen, A.5
Bonds, M.D.6
Anhalt, K.7
Israel, B.A.8
Acharya, B.R.9
-
2
-
-
0348107303
-
-
Choi, Y. S.; Lee, Y. J.; Kwon, H. J.; Lee, S. D. Mater. Sci. Eng., C 2004, 24, 237-240
-
(2004)
Mater. Sci. Eng., C
, vol.24
, pp. 237-240
-
-
Choi, Y.S.1
Lee, Y.J.2
Kwon, H.J.3
Lee, S.D.4
-
4
-
-
58149381900
-
-
Adgate, J. L.; Bartekova, A.; Raynor, P. C.; Griggs, J. G.; Ryan, A. D.; Acharya, B. R.; Volkmann, C. J.; Most, D. D.; Lai, S.; Bonds, M. D. J. Environ. Monit. 2009, 11, 49-55
-
(2009)
J. Environ. Monit.
, vol.11
, pp. 49-55
-
-
Adgate, J.L.1
Bartekova, A.2
Raynor, P.C.3
Griggs, J.G.4
Ryan, A.D.5
Acharya, B.R.6
Volkmann, C.J.7
Most, D.D.8
Lai, S.9
Bonds, M.D.10
-
5
-
-
79960448007
-
-
VanTreek, H. J.; Most, D. R.; Grinwald, B. A.; Kupcho, K. A.; Bonds, M. D.; Acharya, B. R. Sens. Actuators, B 2011, 158, 104-110
-
(2011)
Sens. Actuators, B
, vol.158
, pp. 104-110
-
-
Vantreek, H.J.1
Most, D.R.2
Grinwald, B.A.3
Kupcho, K.A.4
Bonds, M.D.5
Acharya, B.R.6
-
6
-
-
51649127442
-
-
Bi, X. Y.; Yang, K. L. Sens. Actuators, B 2008, 134, 432-437
-
(2008)
Sens. Actuators, B
, vol.134
, pp. 432-437
-
-
Bi, X.Y.1
Yang, K.L.2
-
7
-
-
0346362487
-
-
Brake, J. M.; Daschner, M. K.; Luk, Y. Y.; Abbott, N. L. Science 2003, 302, 2094-2097
-
(2003)
Science
, vol.302
, pp. 2094-2097
-
-
Brake, J.M.1
Daschner, M.K.2
Luk, Y.Y.3
Abbott, N.L.4
-
9
-
-
70349992882
-
-
Cheng, D. M.; Sridharamurthy, S. S.; Hunter, J. T.; Park, J. S.; Abbott, N. L.; Jiang, H. R. J. Microelectromech. Syst. 2009, 18, 973-982
-
(2009)
J. Microelectromech. Syst.
, vol.18
, pp. 973-982
-
-
Cheng, D.M.1
Sridharamurthy, S.S.2
Hunter, J.T.3
Park, J.S.4
Abbott, N.L.5
Jiang, H.R.6
-
10
-
-
2542596360
-
-
Evans, S. D.; Allinson, H.; Boden, N.; Henderson, J. R. Faraday Discuss. 1996, 37-48
-
(1996)
Faraday Discuss.
, pp. 37-48
-
-
Evans, S.D.1
Allinson, H.2
Boden, N.3
Henderson, J.R.4
-
11
-
-
0015648366
-
-
Kahn, F. J.; Taylor, G. N.; Schonhor., H Proc. IEEE 1973, 61, 823-828
-
(1973)
Proc. IEEE
, vol.61
, pp. 823-828
-
-
Kahn, F.J.1
Taylor, G.N.2
Schonhor, H.3
-
12
-
-
3142611777
-
-
Kubono, A.; Onoda, H.; Inoue, K.; Tanaka, K.; Akiyama, R. Mol. Cryst. Liq. Cryst. 2002, 373, 127-141
-
(2002)
Mol. Cryst. Liq. Cryst.
, vol.373
, pp. 127-141
-
-
Kubono, A.1
Onoda, H.2
Inoue, K.3
Tanaka, K.4
Akiyama, R.5
-
13
-
-
2942555672
-
-
Walba, D. M.; Liberko, C. A.; Korblova, E.; Farrow, M.; Furtak, T. E.; Chow, B. C.; Schwartz, D. K.; Freeman, A. S.; Douglas, K.; Williams, S. D.; Klittnick, A. F.; Clark, N. A. Liq. Cryst. 2004, 31, 481-489
-
(2004)
Liq. Cryst.
, vol.31
, pp. 481-489
-
-
Walba, D.M.1
Liberko, C.A.2
Korblova, E.3
Farrow, M.4
Furtak, T.E.5
Chow, B.C.6
Schwartz, D.K.7
Freeman, A.S.8
Douglas, K.9
Williams, S.D.10
Klittnick, A.F.11
Clark, N.A.12
-
14
-
-
61349139373
-
-
Zhang, J.; Hoogboom, J.; Kouwer, P. H. J.; Rowan, A. E.; Rasing, T. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 20105-20108
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 20105-20108
-
-
Zhang, J.1
Hoogboom, J.2
Kouwer, P.H.J.3
Rowan, A.E.4
Rasing, T.5
-
16
-
-
0001694011
-
-
Doudevski, I.; Hayes, W. A.; Schwartz, D. K. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 4927-4930
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.81
, pp. 4927-4930
-
-
Doudevski, I.1
Hayes, W.A.2
Schwartz, D.K.3
-
17
-
-
0000279136
-
-
Leitner, T.; Friedbacher, G.; Vallant, T.; Brunner, H.; Mayer, U.; Hoffmann, H. Mikrochim. Acta 2000, 133, 331-336
-
(2000)
Mikrochim. Acta
, vol.133
, pp. 331-336
-
-
Leitner, T.1
Friedbacher, G.2
Vallant, T.3
Brunner, H.4
Mayer, U.5
Hoffmann, H.6
-
22
-
-
0029388991
-
-
Nakano, F.; Isogai, M.; Yokokura, H. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 5736-5737
-
(1995)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.34
, pp. 5736-5737
-
-
Nakano, F.1
Isogai, M.2
Yokokura, H.3
-
24
-
-
77953534080
-
-
Lee, S. H.; Lin, W. C.; Kuo, C. H.; Karakachian, M.; Lin, Y. C.; Yu, B. Y.; Shyue, J. J. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 10512-10519
-
(2010)
J. Phys. Chem. C
, vol.114
, pp. 10512-10519
-
-
Lee, S.H.1
Lin, W.C.2
Kuo, C.H.3
Karakachian, M.4
Lin, Y.C.5
Yu, B.Y.6
Shyue, J.J.7
-
25
-
-
0035246827
-
-
Lee, J. W.; Kim, H. T.; Sung, S. J.; Park, J. K. Synth. Met. 2001, 117, 267-269
-
(2001)
Synth. Met.
, vol.117
, pp. 267-269
-
-
Lee, J.W.1
Kim, H.T.2
Sung, S.J.3
Park, J.K.4
-
26
-
-
0035006104
-
-
Oh, S. K.; Nakagawa, M.; Ichimura, K. J. Mater. Chem. 2001, 11, 1563-1569
-
(2001)
J. Mater. Chem.
, vol.11
, pp. 1563-1569
-
-
Oh, S.K.1
Nakagawa, M.2
Ichimura, K.3
-
29
-
-
69049108899
-
-
Vilt, S. G.; Leng, Z. W.; Booth, B. D.; McCabe, C.; Jennings, G. K. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 14972-14977
-
(2009)
J. Phys. Chem. C
, vol.113
, pp. 14972-14977
-
-
Vilt, S.G.1
Leng, Z.W.2
Booth, B.D.3
McCabe, C.4
Jennings, G.K.5
-
30
-
-
0036693486
-
-
Sugimura, H.; Hozumi, A.; Kameyama, T.; Takai, O. Surf. Interface Anal. 2002, 34, 550-554
-
(2002)
Surf. Interface Anal.
, vol.34
, pp. 550-554
-
-
Sugimura, H.1
Hozumi, A.2
Kameyama, T.3
Takai, O.4
-
34
-
-
0000768742
-
-
Huang, J. Y.; Superfine, R.; Shen, Y. R. Phys. Rev. A: At., Mol., Opt. Phys. 1990, 42, 3660-3663
-
(1990)
Phys. Rev. A: At., Mol., Opt. Phys.
, vol.42
, pp. 3660-3663
-
-
Huang, J.Y.1
Superfine, R.2
Shen, Y.R.3
-
35
-
-
33751390879
-
-
Laibinis, P. E.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1992, 96, 5097-5105
-
(1992)
J. Phys. Chem.
, vol.96
, pp. 5097-5105
-
-
Laibinis, P.E.1
Nuzzo, R.G.2
Whitesides, G.M.3
-
39
-
-
0001744793
-
-
Nazarenko, V.; Nych, A. Phys. Rev. E: Stat., Nonlinear, Soft Matter Phys. 1999, 60, R3495-R3497
-
(1999)
Phys. Rev. E: Stat., Nonlinear, Soft Matter Phys.
, vol.60
-
-
Nazarenko, V.1
Nych, A.2
|