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Volumn 84, Issue 22, 2011, Pages

In situ high-pressure synchrotron x-ray diffraction study of CeVO 4 and TbVO 4 up to 50GPa

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EID: 84855332784     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.84.224121     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.