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Volumn 41, Issue 4-6, 2011, Pages 229-247

Quantum Metrology for Noisy Systems

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EID: 80955144943     PISSN: 01039733     EISSN: 16784448     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s13538-011-0037-y     Document Type: Review
Times cited : (96)

References (29)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.