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Iwai, K.1
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Gota, C.1
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Funatsu, T.3
Harada, Y.4
Uchiyama, S.5
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Pietsch, C.; Hoogenboom, R.; Schubert, U. S. Angew. Chem., Int. Ed. 2009, 48, 5653-5656
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Pietsch, C.; Vollrath, A.; Hoogenboom, R.; Schubert, U. S. Sensors 2010, 10, 7979-7990
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Pietsch, C.1
Vollrath, A.2
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Ballauff, M.4
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4644293700
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Ballauff, M.; Likos, C. N. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 2998-3020
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56749156143
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Li, W.; Zhang, A.; Chen, Y.; Feldman, K.; Wu, H.; Schluter, A. D. Chem. Commun. 2008, 5948-5950
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Li, W.1
Zhang, A.2
Chen, Y.3
Feldman, K.4
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Schluter, A.D.6
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0034679483
-
-
Lacroix, P. G.; Malfant, I.; Iftime, G.; Razus, A. C.; Nakatani, K.; Delaire, J. A. Chem.-Eur. J. 2000, 6, 2599-2608
-
(2000)
Chem.-Eur. J.
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-
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Lacroix, P.G.1
Malfant, I.2
Iftime, G.3
Razus, A.C.4
Nakatani, K.5
Delaire, J.A.6
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