Post-annealing effects on properties of ZnO nanorods grown on Au seed layers

Bulletin of the Korean Chemical Society

Volumn 32, Issue 3, 2011, Pages 880-884

  Cho, Min Young ^a   Kim, Min Su ^a   Choi, Hyun Young ^a   Yim, Kwang Gug ^a   Leem, Jae Young ^a  

^a Inje University   (South Korea)

Author keywords

Au seed layer; Hydrothermal method; Nanorod; Pyramid; Zinc oxide

Indexed keywords

ANNEALING TEMPERATURES; AU FILM; AU ISLANDS; DIFFRACTION PEAKS; HYDROTHERMAL METHOD; HYDROTHERMAL METHODS; NEAR BAND EDGE EMISSIONS; POST-ANNEALING EFFECT; PYRAMID; PYRAMID STRUCTURE; SEED LAYER; ZNO; ZNO NANOROD;

ANNEALING; DIFFRACTION; NANORODS; SURFACE STRUCTURE; X RAY DIFFRACTION; ZINC; ZINC OXIDE;

GOLD;

EID: 79953277938     PISSN: 02532964     EISSN: 12295949     Source Type: Journal    
DOI: 10.5012/bkcs.2011.32.3.880     Document Type: Article

References (25)

1. Zhang, Y.; Du, G.; Liu, D.; Wang, X.; Ma, Y.; Wang, J.; Yin, J.; Yang, X.; Hou, X.; Yang, S. J. Crystal Growth 2002, 243, 439.
2. Golego, N.; Studenikin. S. A.; Cocivera, M. J. Electochem. Soc. 2000, 147, 1592.
3. Rau, U.; Schmidt, M. Thin Solid Films 2001, 387, 141.
4. Liu, Y.; Gorla, C. R.; Liang, S. J. Electron. Mater. 2000, 29, 60.
5. Soki, T.; Hatanaka, Y.; Look, D. C. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3257.
6. Kong, Y. C.; Yu, D. P.; Zhang, B.; Fang, W.; Feng, S. Q. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 407.
7. Maejima, K.; Ueda, M.; Fujita, S. Z.; Fujita, S. G. Jpn. J. Appl. Phys. 2003, 42, 2600.
8. Wang, Z. L.; Kong, X. Y.; Ding, Y.; Gao, P.; Hughes, W. L.; Yang, R. Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 943.
9. Li, Y.; Ding, Y.; Wang, Z. Adv. Mater. 1999, 11, 844.
10. Look, D. C. Mater. Sci. Eng. B 2001, 80, 383.
11. Ozgur, U.; Alivov, Y. I.; Liu, C.; Teke, A.; Reshchikov, M. A.; Dogan, S.; Avrutin, V.; Cho, S. J.; Morkoc, H. A. J. Appl. Phys. 2005, 98, 041301.
12. Tian, Z. R.; Voigt, J. A.; Liu, J.; Mckenzie, B.; Mcdermott, M. J.; Rodriguez, M. A.; Konishi, H.; Xu, H. Nat. Mater. 2003, 2, 821.
13. Baruah, S.; Dutta, J. Sci. Technol. Adv. Mater. 2009, 10, 013001.
14. Lee, Y.; Zhange, Y.; Ng, S. L. G.; Kartawidjaja, F. C.; Wang, J. J. Am. Ceram. Soc. 2009, 92, 1940.
15. Sun, S. H.; Meng, G. W.; Zhang, M. G.; Hao, Y. F.; Zhang, X. R.; Zhang, L. D. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 13029.
16. Massalski, T. B. Binary Alloy Phase Diagrams; OH: ASM International: 1990; p 428.
17. Lee, Y.-J; Sounart, T. L.; Scrymgeour, D. A.; Voigt, J. A.; Hsu, J. W. P. J. Cryst. Growth 2007, 304, 80.
18. Romero, R.; Leinen, D.; Dalchiele, E. A.; Ramos-Barrado, J. R.; Martin, F. Thin Solid Films 2006, 515, 1942.
19. Kim, S. S.; Lee, B. T. Thin Solid Films 2004, 446, 307.
20. Jeon, S. M.; Kim, M. S.; Cho, M. Y.; Choi, H. Y.; Yim, K. G.; Kim, G. S.; Kim, H. G.; Leem, Lee, D.-Y.; Kim, J. S.; Kim, J. S.; Lee, J. I.; J.-Y. J. Korean Phys. Soc. 2010, 57, 1477.
21. Lee, S. H.; Lee, H. J.; Goto, H.; Cho, M. W.; Yao, T. Phy. Stat. Sol. 2007, 4, 1747.
22. Wang, X.; Tian, Z.; Yu, T.; Tian, H.; Zhang, J.; Yuan, S.; Zhang, X.; Li, Z.; Zou, Z. Nanotech. 2010, 21, 065703.
23. Zhou, H.; Alves, H.; Hofmann, D. M.; Kriegseis, W.; Meyer, B. K.; Kaczmarczyk, G.; Hoffmann, A. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 210.
24. Kreye, M.; Postels, B.; Wehmann, H.-H.; Fuhrmann, D.; Hangleiter, A.; Waag, A. Phys. Stat. Sol. 2006, 3, 992.
25. Xie, R.; Sekiguchi, T.; Ishigaki, T.; Ohashi, N.; Li, D.; Yang, D.; Liu, B.; Bando, Y. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 134103.