Luminescence-based spectroelectrochemical sensor for [Tc(dmpe) 3]2+/+ (dmpe = 1,2-bis (dimethylphosphino)ethane) within a charge-selective polymer film

Analytical Chemistry

Volumn 83, Issue 5, 2011, Pages 1766-1772

  Chatterjee, Sayandev ^a   Del Negro, Andrew S ^a   Edwards, Matthew K ^a   Bryan, Samuel A ^a   Kaval, Necati ^b   Pantelic, Nebojsa ^b   Morris, Laura K ^b   Heineman, William R ^b   Seliskar, Carl J ^b  

^a PACIFIC NORTHWEST NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b UNIVERSITY OF CINCINNATI   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AQUEOUS PHASE; CATHODIC PEAK; CONCENTRATION RANGES; DETECTION LIMITS; INDIUM TIN OXIDE; LINEAR RESPONSE; MODULATED EMISSIONS; OPTICALLY TRANSPARENT ELECTRODE; SPECTROELECTROCHEMICAL; SULFONATED POLYSTYRENE; WORKING PRINCIPLES;

BUTENES; EMISSION SPECTROSCOPY; ETHANE; ETHYLENE; INDIUM; INDIUM COMPOUNDS; ION EXCHANGE; POLYMER FILMS; POLYSTYRENES; SENSORS; SPECTROELECTROCHEMISTRY; TIN; TIN OXIDES;

CYCLIC VOLTAMMETRY;

EID: 79952155673     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac1030368     Document Type: Article

References (33)

1. Pourbaix, M. Corros. Sci. 1974, 14, 25-82
2. Stegemiller, M. L.; Heineman, W. R.; Seliskar, C. J.; Ridgway, T. H.; Bryan, S. A.; Hubler, T.; Sell, R. L. Environ. Sci. Technol. 2003, 37, 123-130
3. Clark, R. S. B.; Kochanek, P. M.; Dixon, C. E.; Chen, M. Z.; Marion, D. W.; Heineman, S.; DeKosky, S. T.; Graham, S. H. J. Neurotrauma 1997, 14, 179-189
4. Monk, D. J.; Ridgway, T. H.; Heineman, W. R.; Seliskar, C. J.; Bryan, S. A.; Hubler, T. L. Abstr. Pap. Am. Chem. Soc. 2002, 224, U96-U96
5. Monk, D. J.; Stegemiller, M. L.; Conklin, S.; Paddock, J. R.; Heineman, W. R.; Seliskar, C. J.; Ridgway, T. H.; Bryan, S. A.; Hubler, T. L. In Subsurface Contamination Remediation; Berkey, E.; Zachry, T., Eds.; American Chemical Society: Washington D.C., 2005; Vol. 904, p 306 - 321.
6. Pantelic, N.; Andria, S. E.; Heineman, W. R.; Seliskar, C. J. Anal. Chem. 2009, 81, 6756-6764
7. Shi, Y. N.; Seliskar, C. J. Chem. Mater. 1997, 9, 821-829
8. Gao, L. T.; Shi, Y. N.; Slaterbeck, A. F.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Micro- Nanofabricated Struct. Devices Biomed. Environ. Appl. 1998, 3258, 66-74
9. Swaile, B. H.; Blubaugh, E. A.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 1998, 70, 4326-4332
10. Maizels, M.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Electroanalysis 2000, 12, 1356-1362
11. Maizels, M.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R.; Bryan, S. A. Electroanalysis 2002, 14, 1345-1352
12. Maizels, M.; Stegemiller, M.; Ross, S.; Slaterbeck, A.; Shi, Y.; Ridgway, T. H.; Heineman, W. R.; Seliskar, C. J.; Bryan, S. A. In Nuclear Site Remediation; Eller, P. G.; Heineman, W. R., Eds.; American Chemical Society: Washington, D.C., 2001; Vol. 778, p 364 - 378.
13. Monk, D. J.; Ridgway, T. H.; Heineman, W. R.; Seliskar, C. J. Electroanalysis 2003, 15, 1198-1203
14. Kaval, N.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 2003, 75, 6334-6340
15. Richardson, J. N.; Dyer, A. L.; Stegemiller, M. L.; Zudans, I.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 2002, 74, 3330-3335
16. Shtoyko, T.; Conklin, S.; Maghasi, A. T.; Richardson, J. N.; Piruska, A.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 2004, 76, 1466-1473
17. Hu, Z. M.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 1998, 70, 5230-5236
18. Hu, Z. M.; Slaterbeck, A. F.; Seliskar, C. J.; Ridgway, T. H.; Heineman, W. R. Langmuir 1999, 15, 767-773
19. Slaterbeck, A. F.; Ridgway, T. H.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 1999, 71, 1196-1203
20. Andria, S. E.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 2010, 82, 1720-1726
21. Morris, L. K.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R.; Del Negro, A. S.; Bryan, S. A. Electroanalysis 2009, 21, 2091-2098
22. Del Negro, A. S.; Wang, Z. M.; Seliskar, W. R.; Heineman, W. R.; Sullivan, B. P.; Hightower, S. E.; Hubler, T. L.; Bryan, S. A. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 14978-14979
23. Del Negro, A. S.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R.; Hightower, S. E.; Bryan, S. A.; Sullivan, B. P. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 16494-16495
24. Ichimura, A.; Heineman, W. R.; Vanderheyden, J. L.; Deutsch, E. Inorg. Chem. 1984, 23, 1272-1278
25. Doyle, M. N.; Libson, K.; Woods, M.; Sullivan, J. C.; Deutsch, E. Inorg. Chem. 1986, 25, 3367-3371
26. Kissinger, P. T.; Heineman, W. R. J. Chem. Educ. 1983, 60, 702-706
27. Ashley, K. R.; Ball, J. R.; Pinkerton, A. B.; Abney, K. D.; Schroeder, N. C. Solvent Extr. Ion Exch. 1994, 12, 239-259
28. Deng, Y. P.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 1997, 69, 4045-4050
29. Heineman, W. R.; Kissinger, P. T. Laboratory Techniques in Electroanalytical Chemistry, 2nd ed.; Heineman, W. R.; Kissinger, P. T., Eds.; Marcell Dekker: New York, 1996; p 81.
30. Gerson, M. C.; Deutsch, E. A.; Libson, K. F.; Adolph, R. J.; Ketring, A. R.; Vanderheyden, J. -L.; Williams, C. C.; Saenger, E. L. Eur. J. Nucl. Med. 1984, 9, 403-407
31. Long, G. L.; Winefordner, J. D. Anal. Chem. 1983, 55, A712-A724
32. Pantelic, N.; Wansapura, C. M.; Heineman, W. R.; Seliskar, C. J. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 13971-13979
33. Wansapura, C. M.; Seliskar, C. J.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 2007, 79, 5594-5600