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Volumn 80, Issue 4, 2007, Pages

Peeping at chaos: Nondestructive monitoring of chaotic systems by measuring long-time escape rates

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EID: 79051471299     PISSN: 02955075     EISSN: 12864854     Source Type: Journal    
DOI: 10.1209/0295-5075/80/40001     Document Type: Article
Times cited : (48)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.