-
1
-
-
0037102967
-
-
Davis, W. B.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. Chem. Phys. 2002, 281, 333-346.
-
(2002)
Chem. Phys.
, vol.281
, pp. 333-346
-
-
Davis, W.B.1
Ratner, M.A.2
Wasielewski, M.R.3
-
2
-
-
33847315108
-
-
Kirk, M. L.; Shultz, D. A.; Depperman, E. C.; Brannen, C. L. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 1937-1943.
-
(2007)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.129
, pp. 1937-1943
-
-
Kirk, M.L.1
Shultz, D.A.2
Depperman, E.C.3
Brannen, C.L.4
-
3
-
-
2342529664
-
-
Weiss, E. A.; Ahrens, M. J.; Sinks, L. E.; Gusev, A. V.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5577.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 5577
-
-
Weiss, E.A.1
Ahrens, M.J.2
Sinks, L.E.3
Gusev, A.V.4
Ratner, M.A.5
Wasielewski, M.R.6
-
4
-
-
3543064758
-
-
Weiss, E. A.; Ahrens, M. J.; Sinks, L. E.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 9510.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 9510
-
-
Weiss, E.A.1
Ahrens, M.J.2
Sinks, L.E.3
Ratner, M.A.4
Wasielewski, M.R.5
-
5
-
-
23944477885
-
-
Weiss, E. A.; Tauber, M. J.; Kelley, R. F.; Ahrens, M. J.; Ratner, M, A.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 11842.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.127
, pp. 11842
-
-
Weiss, E.A.1
Tauber, M.J.2
Kelley, R.F.3
Ahrens, M.J.4
Ratner, M.A.5
Wasielewski, M.R.6
-
6
-
-
24144466582
-
-
Weiss, E. A.; Wasielewski, M. R.; Ratner, M. A. J. Chem. Phys. 2005, 123, 064504.
-
(2005)
J. Chem. Phys.
, vol.123
, pp. 064504
-
-
Weiss, E.A.1
Wasielewski, M.R.2
Ratner, M.A.3
-
7
-
-
0034830064
-
-
Depperman, E. C.; Bodnar, S. H.; Vostrikova, K. E.; Shultz, D. A.; Kirk, M. L. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 3133.
-
(2001)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.123
, pp. 3133
-
-
Depperman, E.C.1
Bodnar, S.H.2
Vostrikova, K.E.3
Shultz, D.A.4
Kirk, M.L.5
-
8
-
-
27644595723
-
-
Kirk, M. L.; Shultz, D. A.; Depperman, E. C. Polyhedron 2005, 24, 2880-2884.
-
(2005)
Polyhedron
, vol.24
, pp. 2880-2884
-
-
Kirk, M.L.1
Shultz, D.A.2
Depperman, E.C.3
-
9
-
-
34547492814
-
-
Chernick, E. T.; Mi, Q. X.; Vega, A. M.; Lockard, J. V.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. J. Phys. Chem. B 2007, 111, 6728-6737.
-
(2007)
J. Phys. Chem. B
, vol.111
, pp. 6728-6737
-
-
Chernick, E.T.1
Mi, Q.X.2
Vega, A.M.3
Lockard, J.V.4
Ratner, M.A.5
Wasielewski, M.R.6
-
10
-
-
0037672769
-
-
Weiss, E. A.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 3639-3647.
-
(2003)
J. Phys. Chem. A
, vol.107
, pp. 3639-3647
-
-
Weiss, E.A.1
Ratner, M.A.2
Wasielewski, M.R.3
-
11
-
-
17744393047
-
-
Weiss, E. A.; Tauber, M. J.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc 2005, 127, 6052.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 6052
-
-
Weiss, E.A.1
Tauber, M.J.2
Ratner, M.A.3
Wasielewski, M.R.4
-
12
-
-
73249134137
-
-
Kirk, M. L.; Shultz, D. A.; Schmidt, R. D.; Habel-Rodriguez, D.; Lee, H.; Lee, J. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 18304-18313.
-
(2009)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.131
, pp. 18304-18313
-
-
Kirk, M.L.1
Shultz, D.A.2
Schmidt, R.D.3
Habel-Rodriguez, D.4
Lee, H.5
Lee, J.6
-
13
-
-
0037433229
-
-
Shultz, D. A.; Vostrikova, K. E.; Bodnar, S. H.; Koo, H. J.; Whangbo, M. H.; Kirk, M. L.; Depperman, E. C.; Kampf, J. W. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 1607.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 1607
-
-
Shultz, D.A.1
Vostrikova, K.E.2
Bodnar, S.H.3
Koo, H.J.4
Whangbo, M.H.5
Kirk, M.L.6
Depperman, E.C.7
Kampf, J.W.8
-
14
-
-
84906386736
-
-
XSophe, version 1.1.3
-
XSophe, version 1.1.3.
-
-
-
-
15
-
-
34047176349
-
-
See: (a) Wang, D. M.; Hanson, G. R. J. Magn. Reson., Ser. A 1995, 117, 1-8.
-
(1995)
J. Magn. Reson., Ser. A
, vol.117
, pp. 1-8
-
-
Wang, D.M.1
Hanson, G.R.2
-
19
-
-
15744375697
-
-
Gaussian, Inc.: Wallingford, CT
-
Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelti, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
-
(2004)
Gaussian 03, Revision C.02
-
-
Frisch, M.J.1
Trucks, G.W.2
Schlegel, H.B.3
Scuseria, G.E.4
Robb, M.A.5
Cheeseman, J.R.6
Montgomery Jr., J.A.7
Vreven, T.8
Kudin, K.N.9
Burant, J.C.10
Millam, J.M.11
Iyengar, S.S.12
Tomasi, J.13
Barone, V.14
Mennucci, B.15
Cossi, M.16
Scalmani, G.17
Rega, N.18
Petersson, G.A.19
Nakatsuji, H.20
Hada, M.21
Ehara, M.22
Toyota, K.23
Fukuda, R.24
Hasegawa, J.25
Ishida, M.26
Nakajima, T.27
Honda, Y.28
Kitao, O.29
Nakai, H.30
Klene, M.31
Li, X.32
Knox, J.E.33
Hratchian, H.P.34
Cross, J.B.35
Bakken, V.36
Adamo, C.37
Jaramillo, J.38
Gomperts, R.39
Stratmann, R.E.40
Yazyev, O.41
Austin, A.J.42
Cammi, R.43
Pomelti, C.44
Ochterski, J.W.45
Ayala, P.Y.46
Morokuma, K.47
Voth, G.A.48
Salvador, P.49
Dannenberg, J.J.50
Zakrzewski, V.G.51
Dapprich, S.52
Daniels, A.D.53
Strain, M.C.54
Farkas, O.55
Malick, D.K.56
Rabuck, A.D.57
Raghavachari, K.58
Foresman, J.B.59
Ortiz, J.V.60
Cui, Q.61
Baboul, A.G.62
Clifford, S.63
Cioslowski, J.64
Stefanov, B.B.65
Liu, G.66
Liashenko, A.67
Piskorz, P.68
Komaromi, I.69
Martin, R.L.70
Fox, D.J.71
Keith, T.72
Al-Laham, M.A.73
Peng, C.Y.74
Nanayakkara, A.75
Challacombe, M.76
Gill, P.M.W.77
Johnson, B.78
Chen, W.79
Wong, M.W.80
Gonzalez, C.81
Pople, J.A.82
more..
|