Magnetic characterization of conductance electrons in GaN

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 247, Issue 7, 2010, Pages 1728-1731

  Scholle, A ^a   Greulich Weber, S ^a   As, D J ^a   Mietze, Ch ^a   Son, N T ^b   Hemmingsson, C ^b   Monemar, B ^b   Janzen E ^a   Gerstmann, U ^a   Sanna, S ^a   Rauls, E ^a   Schmidt, W G ^a  

^a UNIVERSITY OF PADERBORN   (Germany)

^b LINKÖPING UNIVERSITY   (Sweden)

Author keywords

Doping; Electron paramagnetic resonance; III V semiconductors

Indexed keywords

EID: 77954582936     PISSN: 03701972     EISSN: 15213951     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.200983582     Document Type: Article

References (19)

1. W. E. Carlos, J. A. Freitas, M. Asif Khan, D. T. Olson, and J. N. Kuznia, Phys. Rev. B 48, 17878 (1993).
2. M. A. Reshchikov and H. Morkoc, J. Appl. Phys. 97, 061301 (2005).
3. W. Götz, N. M. Johnson, C. Chen, H. Liu, C. Kuo, and W. Imler, Appl. Phys. Lett. 68, 3144 (1996).
4. N. Kaneda, T. Detchprohm, K. Hiramatsu, and N. Sawaki, Jpn. J. Appl. Phys. 35, L468 (1996).
5. F. K. Koschnick, K. Michael, J.-M. Spaeth, B. Beaumont, P. Gibart, E. Calleja, and E. Munoz, J. Electron. Mater. 29, 1351 (2000).
6. G. Denninger, R. Beerhalter, D. Reiser, K. Maier, J. Schneider, T. Detchprohm, and K. Hiramatsu, Solid State Commun. 99, 347 (1996).
7. E. R. Glaser, T. A. Kennedy, H. C. Crookham, J. A. Freitas, Jr., M. Asif Khan, D. T. Olson, and J. N. Kuznia, Appl. Phys. Lett. 63, 2673 (1993).
8. E. R. Glaser, T. A. Kennedy, W. E. Carlos, J. A. Freitas, Jr., A. E. Wickenden, and D. D. Koleske, Phys. Rev. B 57, 8957 (1998).
9. E. R. Glaser, W. E. Carlos, G. C. B. Braga, J. A. Freitas, Jr., W. J. Moore, B. V. Shanabrook, A. E. Wickenden, D. D. Koleske, R. L. Henry, M. W. Bayerl, M. S. Brandt, H. Obloh, P. Kozodoy, S. P. DenBaars, U. K. Mishra, S. Nakamura, E. Haus, J. S. Speck, J. E. Van Nostrand, M. A. Sanchez, E. Calleja, A. J. Ptak, T. H. Myers, and R. J. Molnar, Mater. Sci. Eng. B 93, 39 (2002).
10. M. Palczewska, B. Suchanek, R. Dwiliski, K. Pakua, A. Wagner, and M. Kamiska, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 3, 45 (1998).
11. M. Asif Khan, D. T. Olson, J. N. Kuznia, W. E. Carlos, and J. A. Freitas, Jr., J. Appl. Phys. 74, 5901 (1993).
12. M. W. Bayerl, M. S. Brandt, W. Burkhardt, T. Graf, O. Ambacher, J. A. Majewski, M. Stutzmann, D. J. As, and K. Lischka, Phys. Rev. B 63, 165204 (2001).
13. J. H. Kim, I.-W. Park, S. H. Choh, S. S. Park, B. G. Kim, and Y. H. Kang, Phys. Status Solidi C 0, 597 (2003).
14. M. Fanciulli, T. Lei, and T. D. Moustakas, Phys. Rev. B 48, 15144 (1993).
15. D. J. As, A. Richter, J. Busch, B. Schöttker, M. Lübbers, J. Mimkes, D. Schikora, K. Lischka, W. Kriegseis, W. Burkhardt, and B. K. Meyer, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 595, W3.81 (2000).
16. D. J. As, Defect Diffus. Forum 206-207, 87 (2002).
17. A. S. Barker Jr., and M. Ilegems, Phys. Rev. B 37, 743 (1975).
18. U. Gerstmann, A. P. Seitsonen, and F. Mauri, Phys. Status Solidi B 245, 924 (2008).
19. P. Giannozzi, S. Baroni, N. Bonini, M. Calandra, R. Car, C. Cavazzoni, D. Ceresoli, G. L. Chiarotti, M. Cococcioni, I. Dabo, A. Dal Corso, S. de Gironcoli, S. Fabris, G. Fratesi, R. Gebauer, U. Gerstmann, C. Gougoussis, A. Kokalj, M. Lazzeri, L. Martin-Samos, N. Marzari, F. Mauri, R. Mazzar- ello, S. Paolini, A. Pasquarello, L. Paulatto, C. Sbraccia, S. Scandolo, G. Sclauzero, A. P. Seitsonen, A. Smogunov, P. Umari, and R. M. Wentzcovitch, J. Phys.: Condens. Matter 21, 395502 (2009)