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Volumn 834, Issue 1-4, 2010, Pages 784c-787c

Detection Properties and Radiation Damage Effects in SiC Diodes Irradiated with Light Ions

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EID: 76749097255     PISSN: 03759474     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.nuclphysa.2010.01.146     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.