-
1
-
-
13144251116
-
-
Jing, J. P.; Reed, J.; Huang, J.; Hu, X. H.; Clarke, V.; Edington, J.; Housman, D.; Anantharaman, T. S.; Huff, E. J.; Mishra, B.; Porter, B.; Shenker, A.; Wolfson, E.; Hiort, C.; Kantor, R.; Aston, C.; Schwartz, D. C. Proc. Nati. Acad. Sci. U.S.A. 1998, 95, 8046-8051.
-
(1998)
Proc. Nati. Acad. Sci. U.S.A.
, vol.95
, pp. 8046-8051
-
-
Jing, J.P.1
Reed, J.2
Huang, J.3
Hu, X.H.4
Clarke, V.5
Edington, J.6
Housman, D.7
Anantharaman, T.S.8
Huff, E.J.9
Mishra, B.10
Porter, B.11
Shenker, A.12
Wolfson, E.13
Hiort, C.14
Kantor, R.15
Aston, C.16
Schwartz, D.C.17
-
4
-
-
0030732736
-
-
Deegan, R. D.; Bakajin, O.; Dupont, T. F.; Huber, G.; Nagel, S. R.; Witten, T. A. Nature 1997, 389, 827-829.
-
(1997)
Nature
, vol.389
, pp. 827-829
-
-
Deegan, R.D.1
Bakajin, O.2
Dupont, T.F.3
Huber, G.4
Nagel, S.R.5
Witten, T.A.6
-
5
-
-
70349631651
-
-
Jung, J. Y.; Kim, Y. W.; Yoo, J. Y. Anal. Chem. 2009, 81, 8256-8259.
-
(2009)
Anal. Chem.
, vol.81
, pp. 8256-8259
-
-
Jung, J.Y.1
Kim, Y.W.2
Yoo, J.Y.3
-
6
-
-
0034224710
-
-
Deegan, R. D.; Bakajin, O.; Dupont, T. F.; Huber, G.; Nagel, S. R.; Witten, T. A. Phys. Rev. E 2000, 62, 756-765.
-
(2000)
Phys. Rev. e
, vol.62
, pp. 756-765
-
-
Deegan, R.D.1
Bakajin, O.2
Dupont, T.F.3
Huber, G.4
Nagel, S.R.5
Witten, T.A.6
-
8
-
-
0034499323
-
-
Maillard, M.; Motte, L.; Ngo, A. T.; Kleni, M. P. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11871-11877.
-
(2000)
J. Phys. Chem. B
, vol.104
, pp. 11871-11877
-
-
Maillard, M.1
Motte, L.2
Ngo, A.T.3
Kleni, M.P.4
-
11
-
-
0036810419
-
-
Savino, R.; Paterna, D.; Favaloro, N. J. Thermophys. Heat Trans. 2002, 16, 562-574.
-
(2002)
Thermophys. Heat Trans.
, vol.16
, pp. 562-574
-
-
Savino, R.1
Paterna, D.2
Favaloro, N.J.3
-
13
-
-
0043116551
-
-
Hamaker, H. C. Physica 1937, 4, 1058-1072.
-
(1937)
Physica
, vol.4
, pp. 1058-1072
-
-
Hamaker, H.C.1
-
16
-
-
13244265986
-
-
Xu, K; Vos, R.; Vereecke, G.; Doumen, G.; Fyen, W.; Mertens, P. W.; Heyns, M. M.; Vinckier, C.; Fransaer, J. J. Vac. Sci. Technol., B 2004, 22, 844-2852.
-
(2004)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.22
, pp. 844-2852
-
-
Xu, K.1
Vos, R.2
Vereecke, G.3
Doumen, G.4
Fyen, W.5
Mertens, P.W.6
Heyns, M.M.7
Vinckier, C.8
Fransaer, J.9
-
17
-
-
5244283949
-
-
Hogg, R.; Healy, T. W.; Fuersten, Dw. Trans. Faraday Soc. 1966, 62, 1638-1651.
-
(1966)
Trans. Faraday Soc.
, vol.62
, pp. 1638-1651
-
-
Hogg, R.1
Healy, T.W.2
Fuersten, Dw.3
-
18
-
-
0000962084
-
-
Kar, G.; Chander, S.; Mika, T. S. J. Colloid Interface Sci. 1973, 44, 347-355.
-
(1973)
J. Colloid Interface Sci.
, vol.44
, pp. 347-355
-
-
Kar, G.1
Chander, S.2
Mika, T.S.3
-
21
-
-
0000469962
-
-
Johnson, K. L.; Kendall, K; Roberts, A. D. Proc. R. Soc. London, Ser. A 1971, 324, 301-313.
-
(1971)
Proc. R. Soc. London, Ser. A
, vol.324
, pp. 301-313
-
-
Johnson, K.L.1
Kendall, K.2
Roberts, A.D.3
-
22
-
-
33947361183
-
-
Chon, C. H.; Paik, S.; Tipton, J. B.; Kihm, K. D. Langmuir2007,23, 2953-2960.
-
(2007)
Langmuir
, vol.23
, pp. 2953-2960
-
-
Chon, C.H.1
Paik, S.2
Tipton, J.B.3
Kihm, K.D.4
-
24
-
-
0031856450
-
-
Xu, W.; Nikolov, A.; Wasan, D. T. J. Colloid Interface Sci. 1998, 197, 160-169.
-
(1998)
J. Colloid Interface Sci.
, vol.197
, pp. 160-169
-
-
Xu, W.1
Nikolov, A.2
Wasan, D.T.3
-
25
-
-
0035426444
-
-
Dokou, E.; Barteau, M. A.; Wagner, N. J.; Lenhoff, A. M. J. Colloid Interface Sci. 2001, 240, 9-16.
-
(2001)
J. Colloid Interface Sci.
, vol.240
, pp. 9-16
-
-
Dokou, E.1
Barteau, M.A.2
Wagner, N.J.3
Lenhoff, A.M.4
-
26
-
-
76149096392
-
-
Tohru, N.; Yasuo, K; Teiji, F. Part. Part. Syst. Charact. 1989, 6, 69-73.
-
(1989)
Part. Part. Syst. Charact.
, vol.6
, pp. 69-73
-
-
Tohru, N.1
Yasuo, K.2
Teiji, F.3
-
27
-
-
5844241723
-
-
Mittal, K L., Ed.; Marcel Dekker, Inc.: New York
-
Demejo, L. P.; Rimai, D. S.; Chen, J. H.; Bowen, R. In Particles On Surfaces: Detection, Adhesion, and Removal; Mittal, K L., Ed.; Marcel Dekker, Inc.: New York, 1994; pp 33-45.
-
(1994)
Particles on Surfaces: Detection, Adhesion, and Removal
, pp. 33-45
-
-
Demejo, L.P.1
Rimai, D.S.2
Chen, J.H.3
Bowen, R.4
-
28
-
-
67349089874
-
-
Shin, D. H.; Lee, S. H.; Jung, J. Y.; Yoo, J. Y. Microelectron. Eng. 2009, 86, 1350-1353.
-
(2009)
Microelectron. Eng.
, vol.86
, pp. 1350-1353
-
-
Shin, D.H.1
Lee, S.H.2
Jung, J.Y.3
Yoo, J.Y.4
|