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Volumn 60, Issue 3, 2004, Pages 499-506

Monitoring the anomalous scattering signal and noise levels in X-ray diffraction of crystals

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INSULIN;

EID: 7444244955     PISSN: 09074449     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0907444904000617     Document Type: Article
Times cited : (9)

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    • Bruker AXS Inc., Madison, Wisconsin, USA
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.