Field emission from nanorod crystalline films of a strong organic electron donor, tetrathiotetracene

Journal of Nanoscience and Nanotechnology

Volumn 9, Issue 11, 2009, Pages 6565-6568

  Wei, Zhongming ^a   Huang, Changshui ^a   Liu, Yaling ^a   Liu, Huibiao ^a   Xu, Wei ^a   Hu, Wenping ^a   Li, Yuliang ^a   Zhu, Daoben ^a  

^a INSTITUTE OF CHEMISTRY   (China)

Author keywords

Conductivity; Field emission; Tetrathiotetracene nanorods

Indexed keywords

APPLIED FIELD; CONDUCTIVITY; CRYSTALLINE FILMS; ELECTRON DONORS; FIELD EMISSION APPLICATION; FIELD EMISSION PROPERTY; FIELD EMITTER; HIGH CONDUCTIVITY; MAXIMUM CURRENT DENSITY; NANOROD FILMS; TETRATHIOTETRACENE NANORODS; THERMAL STABILITY; TURN-ON FIELD;

CRYSTALLINE MATERIALS; ELECTRON AFFINITY; ELECTRONS; FIELD EMISSION; MELTING POINT; NANORODS; VACUUM DEPOSITION;

IONIZATION POTENTIAL;

EID: 70350679021     PISSN: 15334880     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/jnn.2009.1322     Document Type: Article

References (23)

1. S. T. Smith and G. A. Chayt, IEEE Trans. Electron Devices 39, 2165 (1992).
2. Y. Saito, S. Uemura, and K. Hamaguchi, Jpn. J. Appl. Phys. Part 2 37, L346 (1998).
3. B. R. Chalamala, Y. Wei, and B. E. Gnade, IEEE Spectrum 35, 42 (1998).
4. A. M. Rao, D. Jacques, R. C. Haddon, W. Zhu, C. Bower, and S. Jin, Appl. Phys. Lett. 76, 3831 (2000).
5. K. W. Wong, X. T. Zhou, C. K. Au Frederic, H. L. Lai, C. S. Lee, and S. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 75, 2918 (1999).
6. Y. Zhu, H. Zhang, X. Sun, S. Feng, J. Xu, Q. Zhao, B. Xiang, R. Wang, and D. Yu, Appl. Phys. Lett. 83, 144 (2003).
7. Y. Shirota and H. Kageyama, Chetn. Rev. 107, 953 (2007).
8. I. Musa, D. A. I. Munindrasdasa, G. A. J. Amaratunga, and W. Eccleston, Nature 395, 362 (1998).
9. I. Kymissis and A. I. Akinwande, Appl. Phys. Lett. 82, 2347 (2003).
10. C. Huang, Y. Zhang, H. Liu, S. Cui, C. Wang, L. Jiang, D. Yu, Y. Li, and D. Zhu, J. Phys. Chetn. C 111, 3544 (2007).
11. H. Liu, Q. Zhao, Y. Li, Y. Liu, F. Lu, J. Zhuang, S. Wang, L. Jiang, D. Zhu, D. Yu, and L. Chi, J. Am. Chem. Soc. 127, 1120 (2005).
12. J. J. Chiu, C. C. Kei, T. P. Perng, and W. S. Wang, Adv. Mater. 15, 1361 (2003).
13. J. J. Chiu, W. S. Wang, C. C. Kei, C. P. Cho, T. P. Perng, P. K. Wei, and S. Y. Chiu, Appl. Phys. Lett. 83, 4607 (2003).
14. O. Dideberg and J. Toussaint, Acta Cryst. B30, 2481 (1974).
15. M. Bendikov, F. Wudl, and D. F. Perepichka, Chetn. Rev. 104, 4891 (2004).
16. M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, J. A. Montgomery, Jr., T. Vreven, K. N. Kudin, J. C. Burant, J. M. Millam, S. S. Iyengar, J. Tomasi, V. Barone, B. Mennucci, M. Cossi, G. Scalmani, N. Rega, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, M. Kiene, X. Li, J. E. Knox, H. P. Hratchian, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, P. Y. Ayala, K. Morokuma, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, V. G. Zakrzewski, S. Dapprich, A. D. Daniels, M. C. Strain, O. Farkas, D. K. Malick, A. D. Rabuck, K. Raghavachari, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, Q. Cui, A. G. Baboul, S. Clifford, J. Cioslowski, B. B. Stefanov, G. Liu, A. Liashenko, P. Piskorz, I. Komaromi, R. L. Martin, D. J. Fox, T. Keith, M. A. Al-Laham, C. Y. Peng, A. Nanayakkara, M. Challacombe, P. M. W. Gill, B. Johnson, W. Chen, M. W. Wong, C. Gonzalez and J. A. Pople, Gaussian 03, Revision B.05, Gaussian, Inc., Wallingford, CT (2004).
17. J. H. Schön, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Phys. Rev. B 58, 12952 (1998).
18. E. A. Perez-Alberne, U. S. Patent 3, 723, 417 (1973).
19. J. Bouchard, M. Belletête, G. Durocher, and M. Leclerc, Macromolecules 36, 4624 (2003).
20. R. H. Fowler and L. W. Nordheim, Proc. R. Soc. London, Ser. A 119, 173 (1928).
21. P. G. Collins and A. Zettl, Phys. Rev. B 55, 9391 (1997).
22. F. Hoshi, K. Tsugawa, A. Goto, T. Ishikura, S. Yamashita, M. Yumura, T. Hirao, K. Oura, and Y. Koga, Diamond Relat. Mater. 10, 254 (2001).
23. N. Koenigsfeld, R. Kalish, A. Cimmino, D. Hoxley, S. Prawer, and I. Yamada, Appl. Phys. Lett. 79, 1288 (2001).