Deprotection, tethering, and activation of a one-legged metalloporphyrin on a chemically active metal surface: NEXAFS, synchrotron XPS, and STM study of [SAc]P-Mn(III)Cl on Ag(100)

Journal of the American Chemical Society

Volumn 131, Issue 41, 2009, Pages 14913-14919

  Turner, Mark ^a   Vaughan, Owain P H ^a   Kyriakou, Georgios ^a   Watson, David J ^a   Scherer, Lukas J ^a   Papageorgiou, Anthoula C ^a   Sanders, Jeremy K M ^a   Lambert, Richard M ^a  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACTIVE METALS; AG(100); DAVIDSON; DEMETALATION; DEPROTECTION; MACROCYCLES; MANGANESE PORPHYRINS; METAL SURFACES; METALLOPORPHYRINS; ONE-LEGGED; PHENYL GROUP; PHYSICOCHEMICAL PROPERTY; POTENTIAL APPLICATIONS; REACTIVE PROPERTY; SILVER SURFACE; STM STUDY; TILT ANGLE; VERSATILE SYSTEM; XPS;

CHLORINE; MANGANESE; MANGANESE COMPOUNDS; METALS; MONOLAYERS; SILVER; SYNCHROTRONS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

PORPHYRINS;

CHLORINE; MANGANESE; METALLOPROPHYRIN; PORPHYRIN; SILVER; UNCLASSIFIED DRUG;

ARTICLE; CHEMICAL STRUCTURE; DEPROTECTION REACTION; SPECTROSCOPY; X RAY ANALYSIS;

EID: 70350056929     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja904664e     Document Type: Article

References (32)

1. Drain, C. M.; Batteas, J. D.; Smeureanu, G.; Patel, S. Dekker Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology; Taylor & Francis: New York, 2004.
2. Kwok, K. S.; Ellenbogen, J. C. Mater. Today 2002, 5, 28.
3. Carroll, R. L.; Gorman, C. B. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 4379.
4. Endo, M.; Fujitsuka, M.; Majima, T. Chem. - Eur. J. 2007, 13, 8660.
5. Nakano, A.; Osuka, A.; Yamazaki, I.; Yamazaki, T.; Nishimura, Y. Angew. Chem., Int. Ed. 1998, 37, 3023.
6. Prathapan, S.; Johnson, T. E.; Lindsey, J. S. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 7519.
7. Holten, D.; Bocian, D. F.; Lindsey, J. S. Acc. Chem. Res. 2002, 35, 57.
8. Kay, A.; Grätzel, M. J. Phys. Chem. 1993, 97, 6272.
9. Purrello, R.; Gurrieri, S.; Lauceri, R. Coord. Chem. Rev. 1999, 190-192, 683.
10. Vaughan, O. P. H.; Williams, F. J.; Bampos, N.; Lambert, R. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2006, 45, 3779.
11. Williams, F. J.; Vaughan, O. P. H.; Knox, K. J.; Bampos, N.; Lambert, R. M. Chem. Commun. 2004, 1688.
12. Dubey, M.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 6980.
13. Turner, M.; Vaughan, O. P. H.; Kyriakou, G.; Watson, D. J.; Scherer, L. J.; Davidson, G. J. E.; Sanders, J. K. M.; Lambert, R. M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 1910.
14. Hulsken, B.; Van Hameren, R.; Gerritsen, J. W.; Khoury, T.; Thordarson, P.; Crossley, M. J.; Rowan, A. E.; Nolte, R. J. M.; Elemans, J.; Speller, S. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 285.
15. Pireaux, J. J.; Chtaïb, M.; Delrue, J. P.; Thiry, P. A.; Liehr, M.; Caudano, R. Surf. Sci. 1984, 141, 211.
16. Grant, R. B.; Lambert, R. M. J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1983, 662.
17. Yasseri, A. A.; Syomin, D.; Malinovskii, V. L.; Loewe, R. S.; Lindsey, J. S.; Zaera, F.; Bocian, D. F. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11944.
18. Shimazu, K.; Takechi, M.; Fujii, H.; Suzuki, M.; Saiki, H.; Yoshimura, T.; Uosaki, K. Thin Solid Films 1996, 273, 250.
19. Zak, J.; Yuan, H.; Ho, M.; Woo, L. K.; Porter, M. D. Langmuir 1993, 9, 2772.
20. Wei, L.; Syomin, D.; Loewe, R. S.; Lindsey, J. S.; Zaera, F.; Bocian, D. F. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 6323.
21. Ryppa, C.; Senge, M. O.; Hatscher, S. S.; Kleinpeter, E; Wacker, P.; Schilde, U.; Wiehe, A. Chem. - Eur. J. 2005, 11, 3427.
22. Flechtner, K.; Kretschmann, A.; Bradshaw, L. R.; Walz, M.-M.; Steinrück, H.-P.; Gottfried, J. M. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 5821.
23. Gottfried, J. M.; Flechtner, K.; Kretschmann, A.; Lukasczyk, T.; Steinrück, H.-P. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 5644.
24. Vaughan, O. P. H.; Turner, M.; Williams, F. J.; Hille, A.; Sanders, J. K. M.; Lambert, R. M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 9578.
25. Goddard, P. J.; Lambert, R. M. Surf. Sci. 1977, 67, 180.
26. Narioka, S.; Ishii, H.; Ouchi, Y.; Yokoyama, T.; Ohta, T.; Seki, K. J. Phys. Chem. 1995, 99, 1332.
27. Okajima, T.; Yamamoto, Y.; Ouchi, Y.; Seki, K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2001, 114-116, 849.
28. Wende, H.; Bernien, M.; Luo, J.; Sorg, C.; Ponpandian, N.; Kurde, J.; Miguel, J.; Piantek, M.; Xu, X.; Eckhold, Ph.; Kuch, W.; Baberschke, K.; Panchmatia, P. M.; Sanyal, B.; Oppeneer, P. M.; Eriksson, O. Nat. Mater. 2007, 6, 516.
29. Polzonetti, G.; Carravetta, V.; Iucci, G.; Ferri, A.; Paolucci, G.; Goldoni, A.; Parent, P.; Laffon, C.; Russo, M. V. Chem. Phys. 2004, 296, 87.
30. Stöhr, J.; Outka, D. A. Phys. Rev. B 1987, 36, 7891.
31. de Jong, M. P.; Friedlein, R.; Sorensen, S. L.; Ö hrwall, G.; Osikowicz, W.; Tengsted, C.; Jönsson, S. K. M.; Fahlman, M.; Salaneck, W. R. Phys. Rev. B 2005, 72, 035448.
32. Li, N. Y.; Su, Z.; Coppens, P.; Landrum, J. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 7294.